「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 132 133 134 135 136 137 138 139 140 .... 366 367 次へ＞- During uphill driving, the power source of a motor is supplied automatically by a sensor, which compensates the defect of the manual type.
また、登坂時にはセンサーにより自動的にモーターの電源が入ることで、手動式の欠点を補うことができる。 - 特許庁 - To manufacture a defect-free laminated part by improving electrode transfer, support sheet peeling, and lamination accuracy.
電極層の転写性、支持シートの剥離性及び積層の精度を向上して、欠陥のない積層部品を製造する。 - 特許庁 - To provide a method an device for detecting the flaw of the internal defect of the diffusion surface of a metal material with high sensitivity.
金属材料の拡散面の内部欠陥を高感度で探傷する方法及びそのための装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device that prevents a defect from being caused even if over-etching thereof is made great, and to provide its manufacturing method.
オーバーエッチングを大きくしても、問題発生を抑制できる半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - Consequently, a possibility of erroneously recognizing a sector having no defect in a medium as a defective sector can be reduced.
よって、媒体に欠陥のないセクタを誤って欠陥セクタであると認定する可能性を低下させることができる。 - 特許庁 - To obtain a light emitting device based on a light emitting diode which device can overcome the defect of the conventional light emitting diode.
本発明は、従来の発光ダイオードの欠点を克服する発光ダイオード・ベースの発光デバイスに関するものである。 - 特許庁 - The pattern data only of a place where this defect is detected can be output to an external device from the inspection device 100.
この欠陥の検出された箇所のみのパターンデータは、検査装置１００から外部装置に出力可能である。 - 特許庁 - To detect various kinds of defects with high sensitivity, and to suppress noise or a Nuisance defect increased with an enhancement of sensitivity.
多様な欠陥種の高感度検出と高感度化に伴い増加するノイズやNuisance欠陥の抑制が必要である。 - 特許庁 - To provide a packing material assembly that reduces damage to a processing device resulting from transport and defect in processing accuracy.
輸送による加工装置の損傷や加工精度の不良を低減可能な梱包剤アセンブリを提供することである。 - 特許庁 - To provide a solar battery inspection apparatus capable of identifying the position of a strip-shaped defect, inside a solar battery cell.
太陽電池セル内の帯状の欠陥の位置を特定することが可能な太陽電池の検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a substrate processing system which allows to easily confirm a place and a cause of occurrence of data transfer defect.
データ転送異常の発生箇所や発生原因を容易に確認することができる基板処理システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a thermal recording material which is free from coating defect, and superior in recording sensitivity, print quality and printability.
塗工欠陥がなく、記録感度、印字画質及び印刷適性に優れた感熱記録材料を提供することにある。 - 特許庁 - To prevent an embedding defect such as a void occurring in an element isolation film where an insulating film is embedded in an element isolation groove.
素子分離溝内に絶縁膜を埋め込んでなる素子分離膜に発生するボイドなどの埋め込み不良を防止する。 - 特許庁 - To overcome the defect of low coherence interference measurement and the serviceability and scanning speed of the light source of optical coherent tomography.
低コヒーレンス干渉測定および光コヒーレントトモグラフィの光源の有用度と走査速度の欠点の克服を図る。 - 特許庁 - A displaced crest factor emulation defect is selectively positioned at the defective serial data pattern analog output signal.
欠陥のあるシリアル・データ・パターン・アナログ出力信号に変位クレスト・ファクタ・エミュレーション欠陥を選択的に位置決めする。 - 特許庁 - A phase difference is determined by comparing each waveform, and discrimination of an optional machine defect which may exists can be supported.
これら波形を比較して位相差を決定し、存在するかもしれない任意のマシン欠陥の識別を支援できる。 - 特許庁 - To provide a magnetron sputtering device for use in the deposition of a film having a predictive thickness distribution with low defect levels.
欠陥レベルの低い、予想される厚さ分布を有する膜形成に用いるマグネトロン・スパッタリング・デバイスを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a recording medium high in surface glossiness of an ink receiving layer with less pore defect.
インク受容層の表面の光沢度が高く、かつ、小孔欠陥の少ない記録媒体の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a washing machine preventing a defect during operation beforehand by efficiently performing a trial operation during installing and mounting thereof.
設置取付け時に効率的に試運転を行うことで運転時の異常を未然に防ぐ洗濯機を提供すること。 - 特許庁 - To provide a reader for a collinear holographic storage medium for preventing a defect caused by thermal deformation.
熱変形により問題が生じることを防ぐコリニア方式のホログラフィック記憶媒体の読取り装置を提供する。 - 特許庁 - To relate to a method for manufacturing a low-defect interface between a dielectric and a group III/V compound.
本発明は、誘電体材料とＩＩＩ／Ｖ化合物との間に低欠陥界面を製造する方法に関する。 - 特許庁 - To provide a polyester film which has excellent antistatic performance and small optical defect and which prevents a dust from being adhered.
優れた帯電防止性能を有し、埃等の付着が防止され、光学的欠陥の少ないポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁 - To provide a load object processing apparatus capable of reprocessing a load object (packaged object) efficiently at the occurrence of a defect.
欠陥発生時に効率良く積載物（包装物）を再処理することが可能な積載物処理装置を提供する。 - 特許庁 - To reduce a defect rate in treatment by a dry ice blasting device, to improve quality of a treated object, and to realize an unmanned automatic device.
ドライアイスブラスト装置の処理不良率の低減，処理品の品質改善とともに、自動装置の無人化を図る。 - 特許庁 - To detect a low-contrast striped defect included in an inspection image, with high accuracy, without being influenced by noise.
検査画像に含まれる低コントラストのスジ状の欠陥を、ノイズの影響を受けることなく高精度に検出する。 - 特許庁 - To provide an image processing LSI in which the indication on a display is not troubled even when there is a defect in one part of a RAM.
ＲＡＭの一部に不良が有っても、ディスプレイの表示は不都合とならない画像処理ＬＳＩを提供する。 - 特許庁 - Consequently, a void defect elimination rate is accelerated in at least the surface layer of the wafer and the void defects are eliminated.
これにより、少なくともウェーハ表層のボイド欠陥の消滅速度が促進し、このボイド欠陥が消滅される。 - 特許庁 - To provide a steel having no development of defect caused by inclusion by stably achieving fining of the inclusion in a cast slab.
鋳片内の介在物の微細化を安定して達成し、介在物起因の欠陥が発生しない鋼材を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR FORMING ELECTRIC WIRING OR ELECTRODE FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY, WHICH DOES NOT HAVE THERMAL DEFECT AND IS SUPERIOR IN ADHESIVENESS
熱欠陥発生がなくかつ密着性に優れた液晶表示装置用配線または電極の形成方法 - 特許庁 - To provide a diagnostic system for identifying the defect of a device by analyzing a data file generated by a device.
装置によって生成されたデータファイルを分析することによって、装置の欠陥を識別する診断システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal device which has excellent contrast characteristics and whose display defect is prevented, and a manufacturing method thereof.
良好なコントラスト特性であり、かつ表示不良が防止された液晶装置と、その製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an image display device free of any defect in the picture element capable of facilitating the fabrication of a defectfree, thin-film type electron source array.
無欠陥の薄膜型電子源アレイの作製を容易にし、画素欠陥のない画像表示装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a mounting structure of a round plate terminal capable of surely preventing a mounting defect of the round plate terminal.
丸形板端子の取付不良を確実に防止することができる丸形板端子の取付構造を提供する。 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF ROLLED STEEL BLOCK FOR PREVENTING SURFACE DEFECT CAUSED DURING CONTINUOUS CASTING AND FOLLOWING BLOOM ROLLING
連続鋳造及び引き続く分塊圧延における表面疵発生を防止した圧延鋼片の製造方法 - 特許庁 - To provide an image forming device capable of enhancing productivity upon suppressing transferring defect to a recording medium.
記録媒体への転写不良を抑制した上で、生産性を向上させることができる画像形成装置を得る。 - 特許庁 - To obtain a seed crystal of zinc oxide (ZnO) which is long in the c-axis direction and is free of crystal defect regions in a joint part.
ｃ軸方向の長さが長く、接合部に結晶欠陥領域のない酸化亜鉛（ＺｎＯ）の種結晶を得る。 - 特許庁 - Moreover, in a SOI wafer manufacturing method according to Smart Cut method, a defect referred to as a blister can be reduced.
また、スマートカット法によるＳＯＩウェーハの製造方法にあっては、ブリスタと呼ばれる欠陥を低減することができる。 - 特許庁 - To provide a technology of preventing occurrence of troubles such as operation mistakes and a damage defect at a request of photographing so as to enhance the convenience and the versatility.
撮影依頼時における操作ミスや破損事故等のトラブルを防止し、利便性、汎用性を向上させること。 - 特許庁 - ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, TWO-DIMENSIONAL IMAGE DETECTOR PROVIDED THEREWITH, AND PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD OF TWO-DIMENSIONAL IMAGE DETECTOR
アクティブマトリクス基板及びそれを備えた二次元画像検出器並びに二次元画像検出器の画素欠陥修正方法 - 特許庁 - To eliminate reversing defect and noise when containers fall by dispensing with a reversing device by enabling the reversing of the containers while conveying the containers.
容器を搬送しながら反転することにより反転装置を不要とし、反転不良や落下時の騒音をなくす。 - 特許庁 - A reflected echo signal from the prescribed depth of the sample TP is extracted, and existence of a defect is determined by its peak value.
試料ＴＰの所定深さからの反射エコー信号を抽出しそのピーク値によって欠陥の有無を判定する。 - 特許庁 - To remarkably enhance inspection efficiency by detecting a pixel defect by an electric inspection at a substrate state.
画素欠陥を基板状態での電気的な検査によって検出可能にして、検査効率を著しく向上させる。 - 特許庁 - To obtain a fine pattern having an excellent form by preventing the occurrence of a pattern defect by a double patterning method.
ダブルパターニング法によるパターン不良の発生を防止して、良好な形状を有する微細パターンを得られるようにする。 - 特許庁 - To raise efficiency in using incident light with respect to a signal for imaging by enabling focus detection and evading a pixel defect.
焦点検出を可能にし、画素欠陥を回避し、撮像用信号に対する入射光の利用効率を高める。 - 特許庁 - To provide a silicon carbide single crystal and a silicon carbide single crystal wafer having no crystal defect, and to provide a method for manufacturing the crystal.
結晶欠陥の少ない炭化珪素単結晶、炭化珪素単結晶ウェハ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - The spare memory part 19 replaces a defective memory part 9 being the memory part 9 in which defect exists in the first reference cell 5.
予備記憶部１９は、第１リファレンスセル５に不具合がある記憶部９としての不良記憶部９を置換する。 - 特許庁 - In this case, this defect test that uses the tracking error signal S2 can be executed for every predetermined track.
この場合、トラッキング誤差信号Ｖｒを利用したこの欠陥の検査を所定トラック毎に実行することもできる。 - 特許庁 - The lubricant layer 7 is provided with a defect section 71 deprived with a part of the lubricant layer 7 on the midway in its longitudinal direction.
滑性層７は、その長手方向の途中に、滑性層７の一部が欠損した欠損部７１を有している。 - 特許庁 - To exactly prevent defect caused by collision of refresh operation and data access operation without reducing processing speed.
処理速度の低下を招くことなく、リフレッシュ動作及びデータアクセス動作の衝突による不具合を確実に防止する。 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING GLASS SUBSTRATE FOR MASK BLANK, METHOD FOR MANUFACTURING MASK BLANK, METHOD FOR MANUFACTURING EXPOSURE MASK, AND DEFECT INSPECTION DEVICE
マスクブランク用ガラス基板の製造方法、マスクブランクの製造方法、露光用マスクの製造方法、及び欠陥検査装置 - 特許庁
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