「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 130 131 132 133 134 135 136 137 138 .... 366 367 次へ＞- To provide a defect relieving device and its method for a recording medium in a library system which can perform reading and writing information including defect substitution processing for all recording media in each library device at high speed.
各ライブラリ装置内の全ての記録媒体に対する欠陥代替処理を含む情報の読み書きを高速に実行可能とするライブラリシステムにおける記録媒体の欠陥救済装置及びその方法を提供すること。 - 特許庁 - A defect inspection device 21 and a dimension inspection device 31 are arrayed along the moving direction of a mount 11 so that the blade 1 is relatively moved continuously to the defect inspection device 21 and to the dimension inspection device 31.
欠陥検査装置２１および寸法検査装置３１は、ブレード１が欠陥検査装置２１および寸法検査装置３１に対して連続的に相対移動されるように取付台１１の移動方向に沿って配列されている。 - 特許庁 - To provide a mold release film preventing a foreign matter and a defect from getting difficult to be observed, when conducting visual inspection by a crossed Nicols method that is representative one for defect inspection of a polarizing plate, and attaining high inspection precision.
偏光板の欠陥検査の代表的なひとつである、クロスニコル法による目視検査を行った際に、異物や欠陥等が見づらくなることがなく、高度な検査精度を実現することのできる離型フィルムを提供する。 - 特許庁 - To manufacture a radiation image conversion panel capable of restraining a point defect from being generated, and capable of obtaining an image of high grade reduced in a defect.
点欠陥などの発生を抑制し、欠陥が少ない高品位な画像が得られる放射線像変換パネルを製造することができる放射線像変換パネルの製造方法および放射線像変換パネル製造装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a master disk of an optical recording medium capable of preventing deterioration of a defect rate of the optical recording medium and aggravation of an error at the time of playback, by suppressing occurrence of the defect in pre-baking a 2nd photoresist layer, and its manufacturing method.
第二のフォトレジスト層のプリベーク中の欠陥の発生を抑制して光記録媒体の欠陥率悪化及び再生時のエラー悪化を防止することができる光記録媒体原盤とその製造方法の提供。 - 特許庁 - To provide an inspection method for a ceramic structure, capable of not only knowing a position and a size of an internal defect of the ceramic structure but also grasping an accurate position, shape and size of the internal defect, nondestructively and easily in a short time.
非破壊、簡便且つ短時間で、セラミック構造体の内部欠陥の位置や大きさが分かるだけでなく、内部欠陥の正確な位置や形状及び大きさも把握することができるセラミック構造体の検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device for a plate-like transparent body and a method thereof capable of detecting a minute defect with a length of about 10 μm in a major axis which is present on a surface of the plate-like transparent body without microscope inspection.
板状透明体の表面に存在している長径１０μｍ程度の微細傷を、顕微鏡精査を行うことなく検出することができる板状透明体の欠陥検査装置及びその方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device in which a gravitational defect and a non-filling phenomenon are prevented, further a contact failure and occurrence of foreign matters inside are reduced and further a pressurizing defect is prevented, a method for fabricating the same and a display device.
重力不良及び未充填現象を防止し、かつ接触不良及び内部の異質物発生を減少させ、さらに押圧不良を防止できる液晶表示装置、この製造方法及び表示装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect correction method and a defect correcting device for correcting a disconnected defective portion in a wiring line thinner than 10 μm by an easy method without contaminating a TFT substrate nor damaging the nearby area of the defective portion.
ＴＦＴ基板を汚染することなく、欠陥部の近傍にダメージを与えることなく、簡単な方法で１０μｍよりも細い配線の断線欠陥部を修正することが可能な欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁 - The defect inspection apparatus 1, using the coordinate table 6a, irradiates the laser light 5a to the predetermined position of the sample 20, in the predetermined order and detects a signal caused by a temperature change ΔT generated by the irradiation to inspect a defect.
欠陥検査装置１は、座標テーブル６ａを用い、レーザ光５ａを試料２０の所定位置に所定順序で照射し、照射によって生じる温度変化ΔＴに起因した信号を検出し、欠陥検査を行う。 - 特許庁 - To practically use a surface defect inspection device by robot grasping, by reducing rotation deflection in an open end when inspecting a defect while rotated under the condition where one side of an inspected object is grasped and where the other side is opened.
被検査物の一方を把持し、他方を開放した状態で回転させながら欠陥検査を行う上で、開放端側の回転振れを小さくし、ロボット把持による表面欠陥検査装置を実用化できるようにする。 - 特許庁 - The display and detection control circuit 6 corrects the data signal to peripheral pixels based on the black spot defect position, and when a data line drive circuit 11 is driven by the corrected data signal, the black spot defect is corrected visually.
この表示及び検出制御回路６は、黒点欠陥位置に基づいて、その周辺画素へのデータ信号を補正し、補正したデータ信号にてデータ線駆動回路１１を駆動することで、視覚的に黒点欠陥を補正する。 - 特許庁 - To provide a conveyance inspection device capable of performing defect inspection even during conveyance, and performing defect inspection during conveyance in the noncontact state even when a conveyance object is a transparent material.
搬送中にも欠陥検査が行える搬送検査装置を提供すること、また、搬送対象物が透明材料であっても、非接触状態での搬送中に欠陥検査が行える搬送検査装置を提供すること。 - 特許庁 - To prevent a display defect caused by a change in characteristics of a thin film transistor and a display defect caused by a short circuit between a pixel electrode and a common electrode and to enlarge an aperture ratio, in an in-plane switching mode liquid crystal display.
横電界方式の液晶表示装置において、薄膜トランジスタ特性の変化に起因する表示不良及び画素電極と共通電極との間のショートに起因する表示不良を防止し、さらに、開口率を大きくする。 - 特許庁 - To provide a multilayer printed circuit board with built-in capacitor, capable of avoiding a lowering in reliability due to a defect of interlayer adhesion, and having capacitor individual pieces avoiding a defect of short circuit in the inside thereof, and to provide a method of manufacturing the same.
層間密着性不具合による信頼性の低下を回避すると共に、短絡する不具合を回避したキャパシタ個片を内部に配置したキャパシタ内蔵型多層プリント配線板及びその製造方法の提供。 - 特許庁 - To provide a liquid container attaching and detaching apparatus capable of attaching and detaching a liquid container to and from an application mechanism located at an optional position inside a defect correction apparatus, and the defect correction apparatus equipped with the liquid container attaching and detaching apparatus.
欠陥修正装置内の任意の位置にある塗布機構に対して液体容器を着脱することができる、液体容器着脱装置および当該液体容器着脱装置を備える欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁 - To detect pixel defects of a solid state imaging element in real time and to enable a correction of the defect in a method for detecting the pixel defect of the element for outputting a video signal by imaging a plurality of spectral lights obtained by spectrally separating an imaged light.
撮像光を分光して得られた複数分光光をそれぞれ撮像して映像信号を出力する固体撮像素子の画素欠陥検出方法において、画素欠陥を実時間で検出し、補正できるようにする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory in which a defect ratio of memory parts can be suppressed low even if the defect ratio of individual memory cells are high and properties of individual memory cells are changed after shipping of products, and electronic equipment using the same.
個々のメモリセルの不良率が高くても、また、個々のメモリセルの特性が製品出荷後に変動しても、メモリ部の不良率を低く抑えることができる半導体記憶装置およびそれを用いた電子機器を提供する。 - 特許庁 - A defect count determination part 306 determines whether a defect count in the blocks ζkl is smaller than a threshold or not, and an interpolation processing part 308 interpolates defects in the blocks ζkl with the function f(i, j) computed by the approximation function computation part 304.
欠陥数判定部３０６は、ブロックζｋｌの欠陥数が閾値より少ないか否かを判定し、補間処理部３０８は、ブロックζｋｌの欠陥を、近似関数算出部３０４が算出した関数ｆ（ｉ，ｊ）により補間する。 - 特許庁 - In a defect inspection device 10, light-receiving directions of optical receivers 22, 24 are set at a light-receiving angle θ_1 (0°<θ_1≤60°, preferably 30°≤θ_1≤45°) having high light-receiving sensitivity to a minute defect which is present on a lower surface of a glass substrate G.
欠陥検査装置１０は、ガラス基板Ｇの下面に存在している微細傷に強い受光感度を有する受光角度θ_１（０°＜θ１≦６０°、好ましくは３０°≦θ_１≦４５°）に、受光器２２、２４の受光方向を設定した。 - 特許庁 - The method for checking the pattern comprises calculating the feature amount of a defect which includes the signal amount of a charged particle beam image of the defect, simultaneously or concurrently upon checking, and immediately sorting the defects based on the electrical properties of the defects.
検査と同時にあるいは並行して欠陥部の荷電粒子線画像の信号量を含む欠陥の特徴量を算出し、これによって欠陥の電気的性質に基づく分類を即座に行えるようにする。 - 特許庁 - To provide a polishing pad having both of excellent flattening ability and improved defect rate performance, in particular a polishing pad suitable for polishing oxide/SiN in improved combination of flattening and defect rate polishing performance.
優れた平坦化能力を改善された欠陥率性能と併せ持つさらなる研磨パッド、特に、平坦化と欠陥率研磨性能との改善された組み合わせで酸化物／ＳｉＮを研磨するのに適した研磨パッドを提供する。 - 特許庁 - The method comprises: detecting a defective position of a pseudo defect or true defect by adding up images or image signals obtained by performing a number of scans on each location, and comparing the images or image signals which are different in the number of additions with each other.
同一箇所を複数回スキャンして得られる画像あるいは画像信号を加算し、加算回数の異なる画像あるいは画像信号を比較することにより、擬似欠陥あるいは真の欠陥の欠陥位置を検出する。 - 特許庁 - That is to say, the existence or absence of the generation of the defect to communicate with the machining portion is predicted and determining by calculating the distance between the defect and the machining portion and by determining whether or not the distance is within a preset required value.
すなわち、欠陥と加工部との距離を算出し、その距離が予め設定された所定値以下であるかどうかを判断することで、両者の間で接続が生じる不良の発生の有無を予測・判定している。 - 特許庁 - To enable to eliminate products having lower reliability out of initial good products by testing margin for a reference potential of a bit line in the case that storage data is read out from a memory cell in a ferroelectric memory, improving reliability of products shipped, and to perform efficiently analysis of defect by making easy to discriminate whether defect of an initial defective product is caused by margin defect or by defect of a manufacturing process.
強誘電体メモリに関し、メモリセルからビット線に記憶データが読み出された場合におけるビット線の電位の基準電位に対するマージンを試験し、初期良品からの信頼性の低い製品の除去を可能とし、出荷する製品の信頼性の向上を図ると共に、初期不良品については、その不良がマージン不良を原因とするものなのか、あるいは、製造プロセスの欠陥によるものなのかの識別を容易にし、不良解析の効率化を図る。 - 特許庁 - The method of correcting a black defect generated in a transparent conductive electrode or a transparent conductive wiring pattern comprising the transparent conductive film deposited on a surface of a transparent substrate or a color filter formed in the transparent substrate, includes applying a high voltage between a discharge electrode and the transparent conductive film disposed in the vicinity of the black defect, applying a spark discharge to the black defect, and then removing the black defect by cleaning.
透明基材または透明基材に形成されたカラーフィルタの表面に成膜された透明導電膜からなる透明導電性電極または透明導電性配線パターンに存在する黒欠陥の修正方法であって、黒欠陥の近傍に配置した放電電極と透明導電膜の間に高電圧を印加し、黒欠陥部に火花放電を当て、その後の洗浄によって黒欠陥を除去することを特徴とする黒欠陥修正方法。 - 特許庁 - To remove a defect of color purity, a spot of black matrix caused by an unbalance of a fluorescence trio formed on a panel.
パネルに形成される蛍光体トリオのアンバランスによって生じる色純度の欠陥、ブラックマトリクスのむらをなくす。 - 特許庁 - An image defect difficult to express by the combination of dot patterns is regionally divided in noticing a region probably formed.
ドット・パターンの組み合わせで表現困難な画像ディフェクトは、発生しそうな部位に着目して領域分割を行なう。 - 特許庁 - To enable detection of excessive erase defect without using word line voltage being threshold voltage or less of the lowest limit of excessive erase.
過消去の下限の閾値電圧以下のワード線電圧を用いることなく過消去不良を検出可能にする。 - 特許庁 - To provide a process for producing a semiconductor device capable of forming fine patterns and reducing the occurrence rate of a resolution defect.
微細なパタンが形成でき、解像不良の発生率を現象できる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To reduce a synchronization error between an image carrier and an intermediate transfer body to prevent an image defect such as color shift.
像担持体と中間転写体との間の同期誤差を低減して、色ずれ等の画像不良の発生を低減する。 - 特許庁 - Even there is small defect in the rout 4 on this welded joint, the stress acted to this rout 4 becomes small.
この溶接継手は、ルート４に微細な欠陥があったとしても、当該ルート４に作用する応力が小さくなる。 - 特許庁 - To stably form a high-quality image by preventing central blanking being an image defect caused in a transfer stage.
転写工程において生ずる画像欠陥である「中抜け」を防止して、高画質の画像を安定して形成する。 - 特許庁 - To provide a lamp unit and a projector, which correctly determine a lifetime and initial defect of a light source lamp.
光源ランプの寿命と、初期不良の判定を正確に行うことができるランプユニットおよびプロジェクターを提供する。 - 特許庁 - To provided an improved highly sensitive optical inspection system for detecting a defect on a diffraction face including a surface pattern.
表面パターンを含む回折面上の欠陥を検出するための改良された高感度光学検査システムの提供 - 特許庁 - To provide a mechanism for more accurately evaluating an image defect caused by a specific process in an image forming device.
画像形成装置における特定のプロセスに起因する画像不良をより的確に評価する仕組みを提供する。 - 特許庁 - The defect-termination blocks 4 are made of a material which is different in the removal rate from that of the first epitaxial layer 3.
この欠陥停止ブロック４は除去速度が第１のエピタキシャル層３のものとは異なる物質で作られている。 - 特許庁 - Therefore, a data line defect may be easily repaired by using the dummy buffer section built into the data driver chip.
それにより、データ駆動チップに内蔵されたダミーバッファ部を用いてデータ配線不良を容易にリペアすることができる。 - 特許庁 - To provide a method enabling identification and enrichment of combination pattern specific to cell and dissolving defect of conventional technique.
細胞特異的コンビネーションパターンの同定及び富化を可能にし、従来技術の欠点を解消する方法の提供。 - 特許庁 - To improve the yield of manufacturing by preventing a coating defect due to marking and assuring the optical performance of a spectacle lens.
刻印が起因のコーティング不良を防止して眼鏡レンズの光学性能を確保し、製造歩留まりを向上させること。 - 特許庁 - The defect 3 becomes a bright spot 3D, when it is viewed from the surface of the optical film 2 (in the direction of arrow D).
このため、欠点３は、光学フィルム２の表面（矢符Ｄの方向）から見ると輝点３Ｄとなって現れる。 - 特許庁 - To improve inspection capability and production capability by reducing inspection time by a defect inspection apparatus.
欠陥検査装置による検査時間を短縮し、検査能力の向上および生産能力の向上を実現する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT WITH REFERENCE TO FILM AS WELL AS FILMLIKE PRODUCT AND METHOD AND SYSTEM OF WORKING THE SAME
フィルムに対する欠陥検査方法およびその装置並びにフィルム状製品、その加工方法およびその加工システム - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY, AND DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING GHOST DEFECT FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY
液晶表示装置の製造方法並びに液晶表示装置のゴースト不良検査装置及びゴースト不良検査方法 - 特許庁 - To provide a defect inspection method and a device improving detection sensitivity by restraining temperature rise on a sample surface.
試料表面の温度上昇を抑えて検出感度を向上させる欠陥検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a vessel appearance inspection device capable of inspecting in compliance with the actual situation, an appearance defect of a vessel including a new bottle can.
ニューボトル缶を含む容器の外観不良を実情に合った検査のできる容器外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a mask capable of suppressing an exposure defect, a stage device, an aligner, an exposure method, and a device manufacturing method.
露光不良を抑制できるマスク、ステージ装置、露光装置、露光方法及びデバイス製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an image forming device comprising a one pass double- sided function having no occurrence of an image defect and increase in a driving load.
画像欠陥の発生や駆動負荷の増大のない１パス両面機能を具備する画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a data processor capable of realizing high-speed reading of an on-chip nonvolatile memory, and the improvement of the defect saving efficiency.
オンチップ不揮発性メモリの高速読み出しと、欠陥救済効率の向上を実現するデータプロセッサを提供する。 - 特許庁 - To decrease parts while maintaining the performance to defect a disk like heretofore and to make a price lower and the shape smaller.
ディスクを検出する性能は従来通りに保持したまま、部品削減を図り、低価格化・小型化を実現する。 - 特許庁
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