「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 131 132 133 134 135 136 137 138 139 .... 366 367 次へ＞- To provide a mandrel mill, capable of raising the elongation ratio of a pipe and further suppressing generation of a hole defect.
管の延伸比を高めることができると同時に穴あき欠陥の発生を抑止可能なマンドレルミル等を提供する。 - 特許庁 - To provide a separating device for an image forming apparatus capable of preventing an image defect due to image contamination.
画像汚染等による画像不具合を防止することができる画像形成装置の分離装置を提供することである。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory which can analyze easily a defective state when defect is caused at testing of a memory.
メモリのテスト時に不良が生じた場合、その不良状況の解析が容易な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a pattern forming method capable of attaining both CDU (Critical Dimension Uniformity) performance and defect performance at high levels.
ＣＤＵ（Critical Dimension Uniformity）性能と欠陥性能とを高い水準で両立させることが可能なパターン形成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection device capable of discriminating whether a defect of a substrate is one on a front surface or one on a rear surface.
基板の欠陥が表面の欠陥なのか裏面の欠陥なのかを区別できる検査装置を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a microfabricated structure which has a reduced crystalline defect level and has superior semiconductor characteristics.
結晶欠陥準位が少なく、優れた半導体特性を有する微小構造体の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display panel wherein a display defect due to too much sealing material which comes in can be effectively suppressed.
封止材の入り込み過多による表示不良を効果的に抑制した液晶表示パネルを提供すること。 - 特許庁 - To decrease the factors for occurrence of an image defect during the conveyance process of a material to be recorded from a transfer means to a fixing means.
転写手段から定着手段への被記録材の搬送過程中の画像不良の発生要因の低減化。 - 特許庁 - To make it possible to easily and surely correct a defect of display devices of a transmission type, reflection type and transmission and reflection type.
透過型、反射型および透過・反射型の表示装置の欠陥修正を容易かつ確実にできるようにする。 - 特許庁 - To provide a method which surely detects a surface defect without being affected by a rust preventive oil and conducts marking.
防錆油の影響を受けること無く表面欠陥を確実に検出してマーキングを行う方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a device for removing defective products, which is capable of stably removing defective tubes without the occurrence of errors in defect removal.
不良除去ミスを発生せずに、安定して不良チューブを除去できる不良製品除去装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an electric razor capable of preventing the mounting defect of packing and preventing waterproof defects.
パッキンの装着不良を防止して防水不良を防止することのできる電気かみそりを提供することを課題とする。 - 特許庁 - To prevent the occurrence of an image defect due to the prolongation of the life of a photoreceptive drum and the lowering of a discharge current.
感光ドラムの長寿命化、及び放電電流の低下による画像不良の発生を防止できるようにする。 - 特許庁 - If the completion of attachment is not detected within the predetermined time, it is decided as the attachment defect to be informed to the user.
所定時間内に装着完了が検出されなければ装着不完全状態と判定し、ユーザに通知する。 - 特許庁 - Occurrence of any scale-like defect in the product is suppressed, and it is effective for increase in yield of the product and shortage of the delivery.
製品にスケール性欠陥が発生するのを抑制でき、製品歩留まり向上やデリバリーの短縮に効果がある。 - 特許庁 - To provide a method for deciding a weld condition by which the generation of a spatter and a weld defect are clearly decided.
スパッタの発生と溶接不良の判定を明確に行うことのできる溶接状態判定方法を提供する。 - 特許庁 - To reduce user's time and effort in checking the defect of a read image using a preview screen of an image forming unit.
画像形成装置におけるプレビュー画面による読み取り画像のディフェクトのチェックにおけるユーザの手間を軽減する。 - 特許庁 - To provide a method for casting a light alloy wheel for a vehicle capable of reducing the casting defect and restraining deterioration of a die coating agent.
鋳造欠陥が少なく、塗型の劣化を抑制可能な車両用ホイールの鋳造方法を提供する。 - 特許庁 - A device 31 for implementing this defect inspection method by image recognition is constituted of an image picking-up means 13 and a computer 14.
画像認識による不良検査方法を実施する装置３１は撮像系１３とコンピュータ１４から構成される。 - 特許庁 - Then, the strained SiGe alloy is made to ease substantially by strained relaxation resulting from defect using an anneal step.
次いで、アニール・ステップを使用し、欠陥に起因する歪み緩和によって歪みＳｉＧｅ合金を実質的に緩和させる。 - 特許庁 - Thus the possibility of occurrence of luminescent defect due to adhesion of foreign matter onto the product substrate can be minimized.
これにより、製品基板に異物が付着して発光不良が発生するのを最小限に抑えることができる。 - 特許庁 - To provide a method for detecting crystal defect in a thin Si layer on a SiGe alloy layer.
本発明は、ＳｉＧｅ合金層上の薄いＳｉ層における結晶欠陥を検出するための方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device capable of displaying inspection patterns for a plurality of defect modes at the same time.
複数の不良モードに対する検査パターンを同時に表示することができる液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - To stably grasp a folding box having a defect to remove the same at a high speed in an adhesion machine for the folding box.
折り畳み箱用接着機械において、欠陥のある折り畳み箱を安定して把持して高速で取り除く。 - 特許庁 - To provide a pattern inspection apparatus capable of rapidly and conveniently creating a recipe and checking a defect.
レシピ作成及び欠陥確認の使い勝手がよく、かつ迅速に行うことのできるパターンの検査装置を提供する。 - 特許庁 - To reduce generation of epitaxial defect without addition of new heat treatment process and change in the condition of heat treatment.
新たな熱処理プロセスの追加や熱処理条件の変更を行うことなく、エピタキシャル欠陥の発生を低減する。 - 特許庁 - The defect generation place in the second inspection wafer is observed, thus detecting the margin of the lithography conditions (S7).
第２検査ウエハにおける前記欠陥発生箇所を観察することで、リソグラフィー条件のマージンを検出する（Ｓ７）。 - 特許庁 - To prevent an electric defect caused by getting around of ink from the back face of an electric wiring substrate and corrosion of wiring thereby.
電気配線基板の裏面からインクが回り込み、配線が腐食することによる電気的不良を防止する。 - 特許庁 - In the analysis process 126, the defect position is specified three-dimensionally from such two pieces of mutually different planar information.
解析工程１２６では，かかる相異なる２の平面的な情報から，欠陥位置が３次元的に特定される。 - 特許庁 - To obtain a dense and flat nano-sheet deposition film having a film thickness of a certain degree and no defect in a single process.
或る程度の膜厚を有し、緻密で欠陥のない平坦なナノシート堆積膜を１回の処理で得るようにする。 - 特許庁 - To reliably reduce the defect density originated from tin compound particles in a glass plate formed by a float glass process.
フロート法によって成形されるガラス板において、スズ化合物粒子に由来する欠陥密度を確実に低減する。 - 特許庁 - More in concrete, a flicker is reduced through the diffraction of the light and the very small defect 5z is made to rise as the bright point.
より具体的には、光の回折により、チラツキを低減させて微小欠点５ｚを輝点として浮かび上がらせる。 - 特許庁 - To provide a paper cup appearance inspection device capable of detecting a shape defect generated on a top curled part of a paper cup.
紙カップのトップカール部に発生する形状不良を検出することができる紙カップ外観検査装置の提供。 - 特許庁 - To conduct a test such as defect analysis normally by decreasing the wiring of the semiconductor device which has a plurality of banks.
複数のバンクを有する半導体記憶装置の配線数を削減し、不良解析等のテストを正常に行う。 - 特許庁 - To provide a EUV lithography apparatus and a mask which hardly images a defect caused by dust or damage.
ごみや損傷によって生じる欠陥を結像するおそれの少ないＥＵＶリソグラフィー装置及びマスクを提供する。 - 特許庁 - Defect inspection is conducted for a liquid crystal panel 11 performing a gray scale display by controlling fluctuation of transmitted light quantity.
光透過量の増減を制御することにより階調表示を行う液晶パネル１１の欠陥検査を行う。 - 特許庁 - Then, the respective criterion values Lw, Lb are compared with an image signal Y(P0) of the target pixel and the pixel defect is discriminated.
そして、各判定基準値Ｌｗ、Ｌｂを目標画素の画像信号Ｙ（Ｐ０）と比較し、画素欠陥を判別する。 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR CLASSIFYING DEFECT OCCURRING AT SURFACE OF SUBSTRATE USING GRAPHICAL REPRESENTATION OF MULTI-CHANNEL DATA
マルチチャネルデータのグラフィック表現を用いて基板の表面において生じる欠陥を分類するための方法及びシステム - 特許庁 - To simplify a circuit configuration for black insertion driving to a 'dot defect' in the case of normally white display.
ノーマリーホワイト表示を行なう場合の「輝点不良」に対して、黒挿入駆動のための回路構成を簡略化すること。 - 特許庁 - To make it possible to attain a fine pattern having an excellent shape by preventing the generation of pattern defect in double patterning.
ダブルパターニングにおけるパターン不良の発生を防止して、良好な形状を有する微細パターンを得られるようにする。 - 特許庁 - Since a defect does not extend to the region for forming a memory cell, leak current of the memory cell can be reduced.
その結果、メモリセルが形成される領域までは、欠陥が延びず、メモリセルのリーク電流を低減することができる。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device of the structure in which its internal defect is well detected even in its completed state.
完成状態でも内部の不良を良好に検出することができる構造の半導体装置を提供する。 - 特許庁 - The first table has a plurality of storage areas respectively corresponding to the respective blocks and storing defect information.
第１テーブルは、各ブロックにそれぞれ対応するとともに欠陥情報が記憶される複数の記憶領域を有する。 - 特許庁 - The rectangular region importantly has a rim, providing a first skew angle with respect to the platen axis for preventing image defect.
この矩形領域は、重要なことには、プラテン軸線と画像欠陥防止用第１スキュー角をなす縁を有する。 - 特許庁 - The defect of the liquid crystal micro display is reduced because the debris of the substrate, etc., caused by the separation does not enter the inside of the display.
分離に伴なう基板等の破片がディスプレイ内部に入らなくなり液晶マイクロディスプレイの欠陥が減少する。 - 特許庁 - In this way, the oxidation of the molten metal is suppressed, and the defect of oxides in the resultant casting is remarkably reduced.
これによって溶湯の酸化が抑えられ、結果として得られた鋳造品の酸化物不良が大幅に低減する。 - 特許庁 - LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL, IMPARTING METHOD OF STEP IDENTIFIER OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL AND DEFECT SPECIFYING METHOD OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL
液晶表示パネル、液晶表示パネルの工程識別子の付与方法及び液晶表示パネルの欠陥特定方法 - 特許庁 - To stably generate an image having brightness suitable for defect detection without affecting the accuracy of inspection.
検査の精度に影響を及ぼすことなく、欠陥の検出に適した明るさの画像を安定して生成できるようにする。 - 特許庁 - To solve a defect by the irregularities of a conventional block by utilizing magnetic force working between the block and a mounting.
ブロックと装着品の間に働く磁力を利用することにより、従来のブロックの凹凸による短所を解決する。 - 特許庁 - To obtain an image data recorder that can record image data without interruption immediately before occurrence of a defect until just after it.
不良の発生の直前から直後までを切れ目なく記録することができる画像データ記録装置を提供する。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
