「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 134 135 136 137 138 139 140 141 142 .... 366 367 次へ＞- When the type of the defect is a curl, air suction force is decided by referring to an air suction force decision table.
欠陥の種類がカールである場合は、エアー吸引力決定テーブルを参照してエアー吸引力を決定する。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus suppressing an image defect caused for prevention of transfer scattering.
転写散りを防止するために生じる画像不良を抑制することが可能な画像形成装置を提供すること。 - 特許庁 - Or, the region is assumed to a defective region and the information may be registered to a defect registering region on a record medium.
あるいは、その領域は欠陥領域であると見なし、記録媒体上の欠陥登録領域に登録してもよい。 - 特許庁 - To provide a commutator motor which controls a winding defect without damaging a winding property of a stator winding.
固定子巻線の巻線性を損なうことなく、巻線不良を抑制できるようにした整流子電動機を提供する。 - 特許庁 - This method is that a residue having a fear of the presence of a defect being concealed, dust, other foreign matter are removed from a part.
本発明の方法では、欠陥の存在を覆い隠すおそれのある残渣、塵その他の異物を部品から除去する。 - 特許庁 - An image defect detecting unit 15 detects a defective portion from the motion image data outputted from the unit 14.
画像欠陥検出部１５は、画像伸張処理部１４が出力する動画像データから欠陥部分を検出する。 - 特許庁 - Thus, the increase of the communication data amount is evaded and the influence of the reception defect of the data is suppressed.
従って、通信データ量の増加を回避するとともに、データの受信不良による影響を抑制することができる。 - 特許庁 - To provide a method by which an engraving edge is not injured with respect to an effective elimination method of an engraving defect, in particular, a cap.
彫刻欠陥、特にキャップの効果的な除去方法であって、彫刻エッジを損傷しない方法を提案する。 - 特許庁 - To optimize the surface layer film material of an electrifying member and to effectively prevent soil and an image quality defect such as a spotty mark.
帯電部材の表層フィルム材料の最適化を図り、斑点状の画質欠陥及び汚れを有効に防止する。 - 特許庁 - To provide a method for producing the metal-ceramic composite material, by which a hole having no defect on the surface of the hole can be formed.
穴面に欠陥のない穴を加工することができる金属−セラミックス複合材料の製造方法の提供。 - 特許庁 - To provide a means for detecting the bonding defect of a bonding interface of an SOI wafer with high sensitivity.
ＳＯＩウェーハの貼り合わせ界面の貼り合わせ不良を高感度に検出するための手段を提供すること。 - 特許庁 - To suppress solder bridges between adjacent wiring patterns and, at the same time, to make the inspections easier for defect solder junctions.
隣接する配線間でのはんだブリッジの発生を抑制するとともに、はんだ接合不良の検査を容易化すること。 - 特許庁 - To provide a laminated type semiconductor device with short-circuit defect in a through electrode correctly discovered, and its test method.
貫通電極のショート不良を正確に発見可能な積層型半導体装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To prevent defect caused by static electricity charged to a component of a game machine such as a back set member.
裏セット部材のような遊技機の構成部材に帯電した静電気が原因となって発生する不具合を防止する。 - 特許庁 - To provide an apparatus for correcting defective pixels, capable of satisfactorily correcting even the defective pixels in a low defect degree.
不良の程度が小さい不良画素であっても良好に補正することができる不良画素補正装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an Internet terminal for a mobile body capable of restraining a defect due to unauthorized use of the Internet.
インターネットの不正使用による不具合を抑制することができる移動体用インターネット端末装置を提供すること。 - 特許庁 - When a defect is caused in the accumulator pressure adjusting system, the pressure intensifying valves 40RR, 40RL of the rear wheels are opened to release the hydraulic pressure.
アキュムレータ圧調整系に失陥があるときは、後輪の増圧弁４０ＲＲ，４０ＲＬを開けて液圧を逃がす。 - 特許庁 - To provide an imaging apparatus capable of preventing generation of wrong control information even if a V line defect exists in an image.
Ｖライン傷が画像に存在する場合でも、誤った制御情報の生成を防止できる撮像装置を提供する。 - 特許庁 - A stripe shaped recess (16) is formed on a GaN substrate (10) having a low defect concentration of 10^6 cm^-2 or less by etching.
欠陥密度が１０^6ｃｍ^-2以下と低いＧａＮ基板(10)に、エッチングによってストライプ状の凹部(16)を形成する。 - 特許庁 - To provide a toner bottle capable of preventing paper-passing defect, to provide a developing unit equipped with the toner bottle, and to provide an image forming apparatus.
通紙不良を防止するトナーボトルおよびこれを備えた現像器ユニット並びに画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - Thereby a small defect in the lip 1a can be easily detected and checked, enabling the accurate inspection to be performed.
これによりリップ１ａの小さな欠陥を容易に検出確認することができ、精度よく検査することが可能となる。 - 特許庁 - To prevent connection defect caused by foreign matter when connecting a TCP(tape carrier package) to an ACF(anisotropic conductive film).
ＴＣＰ（テープキャリヤパッケージ）をＡＣＦ（異方性導電膜）に接続する際の異物による接続不良を防止する。 - 特許庁 - The printer recognizes a hole or an electronic signal, and the printer is enabled to skip the defect frame, or alternatively the image is reprinted.
プリンタが穴または電子信号を認識し、プリンタをイネーブルにして、欠陥フレームをスキップするか、画像を再印刷する。 - 特許庁 - It is known that a level considered to be the cause of a compound defect exists in the n-type semiconductor layer of high concentration.
高濃度のｎ型半導体層中には複合欠陥起因と思われる準位が存在することが知られている。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor device by which the repair of a defect of a wiring pattern can be made efficiently.
配線パターンの欠陥修正の効率化を図ることができる半導体装置の製造技術を提供する。 - 特許庁 - To detect a defect of a TFT driving circuit provided outside an active area along with the active area formed on a substrate.
基板上に形成されたアクティブエリアと共にアクティブエリア外に設けられたＴＦＴ駆動回路の欠陥を検出する。 - 特許庁 - The buffer layer prevents a lattice defect existing on the surface of the SiC substrate 1 from propagating to the electron transit layer.
バッファ層は、ＳｉＣ基板１の表面に存在する格子欠陥の電子走行層への伝播を防止している。 - 特許庁 - To provide a photomask whose defect quality can be ensured, while forming a gradation pattern in a small area of pixel size.
ピクセルサイズの小さな領域に階調パターンを形成しながら、欠陥品質保証が可能なフォトマスクを提供する。 - 特許庁 - A polysilicon film 70 for a resistor element 7 has a high crystal defect density in the vicinity of a silicide film 73.
抵抗素子７用の多結晶シリコン膜７０中の結晶欠陥密度はシリサイド膜７３付近においてより高い。 - 特許庁 - Consequently, distortion of the crystal due to the lattice mismatch is sufficiently moderated to ensure a semiconductor crystal with less dislocation defect.
これにより、格子不整合による歪みが十分に緩和され、転位欠陥の少ない半導体結晶が得られる。 - 特許庁 - The prevention of a dark current flow by the dark current suppressed region allows the dark level defect to be minimized.
前記暗電流抑制領域によって暗電流の流れを防止して、ダークレベル不良を最小化することができる。 - 特許庁 - To obtain a defect-inspecting semiconductor substrate facilitating detection of defects, without changing the function and constitution of an inspection unit.
検査装置の機能や構成を変えることなく、欠陥を検出しやすくする欠陥検査用半導体基板を得る。 - 特許庁 - The existence of the defect is determined by comparing the difference data with a positive first threshold value and a negative second threshold value.
差分データを正の第１しきい値および負の第２しきい値と比較することにより、欠陥の有無が判定される。 - 特許庁 - To provide a defect detector for preventing defects on a substrate from being missed while performing image processing at high speed.
画像処理を高速に行いつつ、基板上の欠陥の見逃しを抑制する欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - The inspection device 1 extracts a defect (dirt or chip) from the differences between the reference region image (am) and similar region images (bm).
検査装置１は基準領域画像ａｍと類似領域画像ｂｍとの差異から、欠陥（汚れ、欠け）を抽出する。 - 特許庁 - To measure an influence of a change intentionally given to a disk separately from an influence of a defect having existed before the change.
ディスクに意図的に与えた変化の影響を、変化前から存在する欠陥の影響から分離して計測する。 - 特許庁 - To manufacture a homogeneous foil by suppressing the generation of pin hole defect of the foil in the manufacture of the electrolytic metallic foil.
電解金属箔の製造において、箔のピンホール欠陥の発生を抑え均質な箔を製造することができる。 - 特許庁 - Since the graphene has the defect at the number density, the oxygen concentration of the graphene is 0.3-30 atomic%.
また、上記の数密度で欠陥を有するため、グラフェンの酸素濃度は０．３原子％以上３０原子％以下である。 - 特許庁 - To obtain a useful mold coating agent for preventing gas defect in the case of casting with a mold containing nitrogen atoms.
窒素原子を含有する鋳型で鋳造する場合にガス欠陥を防止するために有用な塗型剤の提供 - 特許庁 - To eliminate an insulation defect due to electrical conduction between electrodes completely by smoothing a substrate on which the electrodes are formed.
電極が形成される下地を平滑化して電極間の電気的導通による絶縁不良を完全に無くす。 - 特許庁 - PHOTOGRAPHING METHOD OF CRYSTAL DEFECT HAVING IN-PLANE ORIENTED DISLOCATION LINE IN SINGLE CRYSTAL SAMPLE BY X-RAY TOPOGRAPH
単結晶試料における面内配向した転位線を有する結晶欠陥のＸ線トポグラフによる撮影方法 - 特許庁 - To provide the method of manufacturing gallium nitride system semiconductor having low density crystal defect and high quality crystallinity.
低密度の結晶欠陥と高品質の結晶性を有する窒化ガリウム系半導体の製造方法を提供する。 - 特許庁 - A silicon oxide film 10A is formed at a part other than a defect 12 by oxidizing a silicon wafer surface 11 by ozone.
シリコンウェハ表面１１をオゾンにより酸化して欠陥１２以外の部分にシリコン酸化膜１０Ａを形成する。 - 特許庁 - SILICON WAFER HAVING CONTROLLED DEFECT DISTRIBUTION, ITS MANUFACTURING METHOD AND CZOCHRALSKI PULLER FOR MANUFACTURING SINGLE CRYSTAL SILICON INGOT
制御された欠陥分布をもつシリコンウェーハ、その製造方法及び単結晶シリコンインゴットを製造するためのチョクラルスキープーラ - 特許庁 - Article 15 A trustee shall succeed to a settlor's defect in possession of property that belongs to the trust property.
第十五条 受託者は、信託財産に属する財産の占有について、委託者の占有の瑕疵を承継する。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - The discriminating system 10 of the coil component is provided with a disconnection defect detection sensor 24, a measurement part 48, and a drive control unit 50.
コイル部品の選別装置１０は、断線不良検出センサ２４、計測部４８、及び駆動制御部５０を備える。 - 特許庁 - To provide a defect marking device for testing a painted surfaces of a vehicle, which can carry out marking defective positions by projecting a light beam thereon.
欠陥位置を光ビームの照射によりマーキングし得る車両塗面検査用欠陥マーキング装置を提供する。 - 特許庁 - To solve the problems such as image defect and carrying failure caused in the case of passing a thick paper sheet in a transfer and separating part.
転写分離部において、厚紙通紙の場合に発生する画像不良や搬送不良の問題を解決する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device which minimizes degradation of perception in the portion where the defect is generated and a method for manufacturing the same.
不良発生部位の視感低下を最小化する液晶表示装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a low-cost surface inspection device capable of measuring the shape of a minute projecting/recessed defect, and its method.
微小な凹凸欠陥の形状を、計測できるようにした安価な表面検査装置及びその方法を提供する。 - 特許庁
- 特許庁
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- ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
