「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 138 139 140 141 142 143 144 145 146 .... 366 367 次へ＞- STANDARD SILICON WAFER USED FOR INSPECTION MADE BY DEFECT INSPECTION DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND INSPECTION METHOD USING STANDARD SILICON WAFER
欠陥検査装置検査用の標準シリコンウェーハ、その製造方法および標準シリコンウェーハを用いた検査方法 - 特許庁 - A defect management enabled PIRM (100) includes a data storage medium providing a plurality of cross point data storage arrays (302, 304, 306, and 308).
複数のクロスポイントデータ記憶アレイ(302,304,306,308)を提供するデータ記憶媒体を含む欠陥管理可能ＰＩＲＭ(100)である。 - 特許庁 - At least some of the test elements are provided with a defect marking which includes information about defectiveness of the test elements.
該テストエレメントの少なくともいくつかには、テストエレメントの欠陥についての情報を含む欠陥マークが、設けられる。 - 特許庁 - To reduce the occurrence of a defect in a ferroelectric film in a semiconductor device having a ferroelectric capacitor.
強誘電体キャパシタを有する半導体装置において、強誘電体膜中における欠陥の発生を抑制する。 - 特許庁 - To prevent image defect caused by excessive or insufficient supply of a toner to a developing roller from a toner supply roller.
トナー供給ローラから現像ローラに対するトナー供給過多又は供給不足による画像不良を防止する。 - 特許庁 - Therefore, even if the load torque increases, by using the second acceleration, defect of the motor torque can be avoided.
これにより、負荷トルクが大きくなっても第二の加速度を適用することによりモータのトルク不足を解消できる。 - 特許庁 - To obtain a non-alkali glass without using Al2O3 as a clarifier and yet not containing foam to be a display defect.
清澄剤としてＡｓ_2 Ｏ_3 を使用せず、しかも表示欠陥となる泡が存在しない無アルカリガラスを提供する。 - 特許庁 - To facilitate defect analysis of a semiconductor memory by performing a probe test for wafer and a chip test for single chip.
ウェハ用のプローブ試験および単体チップ用のチップ試験が実施可能で半導体メモリの不良解析を容易にする。 - 特許庁 - To reduce an image defect arising from an abutting part between a photoreceptor drum and both ends in the longitudinal direction of a cleaning blade.
感光ドラムとクリーニングブレードの長手方向の両端部との当接部から発生する画像不良を低減する。 - 特許庁 - Then, a crystal defect 2 is formed inside of the silicon substrate 1 where the trench device-isolation region is not formed.
更に、トレンチ素子分離領域の形成されていないシリコン基板１内部に結晶欠陥層２が形成される。 - 特許庁 - When the differential is smaller than the threshold value Th2, something other than the deterioration of the photo-diode 601 is discriminated as the defect factor.
差分が閾値Ｔｈ２より小さいときは、フォトダイオード６０１の劣化以外が欠陥要因であると判別される。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory in which defect in a dummy bit line region can be detected effectively at a wafer test.
ダミービット線領域の不良をウェハテスト時に効果的に検出することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁 - The contour binary data, and the first and the second defect pixel binary data are combined and displayed on a particulate displaying monitor.
外形二値データと、第１及び第２不良画素二値データは合成されて粒状物表示モニター上に表示される。 - 特許庁 - To provide a heat treatment method capable of reducing any breakage or crystal defect arising on a semiconductor substrate.
半導体基板の破損や半導体基板に発生する結晶欠陥を抑制できる熱処理方法を提供する。 - 特許庁 - To efficiently detect in a short time display pixels having dynamic display defect out of display pixels of a display.
表示装置の表示画素の中から動的な表示欠陥を有する表示画素を短時間で効率よく検出する。 - 特許庁 - In addition, a shortage due to an ion trap and a defect according to shrinkage ratio may be improved.
また、イオントラップ（ｔｒａｐ）による欠陥（ｓｈｏｒｔａｇｅ）及び収縮率による不良を改善することができる。 - 特許庁 - To realize the defect inactivating method of a polycrystalline silicon substrate having a high diffusion length improving effect in hydrogen irradiation.
水素照射における拡散長改善効果の高い、多結晶シリコン基板の欠陥不活性化方法を実現する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a color filter by which a black matrix having high density and no defect can easily be manufactured.
高濃度で欠陥のないブラックマトリックスを簡便に製造することができるカラーフィルターの製造方法を提供する。 - 特許庁 - The third determination means 23 performs defect determination on the basis of reflectance ratio components of the pixel values of the peripheral pixels.
第３の判定手段２３は、複数の周辺画素の画素値の反射率成分に応じたキズ判定を実施する。 - 特許庁 - Thereafter, the defective semiconductor devices 1b an screened out by physically picking up the defect mark FM using tools such as a magnet.
その後、磁石などによって不良マークＦＭを物理的にピックアップし、不良の半導体装置１ｂを選別する。 - 特許庁 - The defect of the wiring pattern is detected from the angle between the preceding profile vector and the following profile vector (S18).
そして、先行輪郭ベクトルと追従輪郭ベクトルとの間の角度から配線パターンの欠陥を検出する（Ｓ１８）。 - 特許庁 - In these UV curing treatment steps, exposure is carried out with 500-2,000 mJ and no alignment defect is generated.
これらの紫外線硬化処理では、５００〜２０００ｍＪで露光が行われており、配向不良が生じることはない。 - 特許庁 - To provide a method of producing a thermoplastic elastomer composition difficult to give rise to molding defect and excellent in moldability.
成形不良を引き起こしにくい、成形性に優れた熱可塑性エラストマー組成物を製造する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a bottle inspection system for investigating the causes of the defect of a bottle rapidly and securely without requiring any help.
人手を煩わせることなく、迅速かつ確実に瓶の欠陥原因を究明し得る瓶検査システムを提供する。 - 特許庁 - The display 7 displays thumbnail images formed by reducing review inspection images of the respective defect based upon the thumbnail image data.
ディスプレイ７は、サムネイル画像データに基づいて、各欠陥のレビュー検査画像を縮小したサムネイル画像を表示する。 - 特許庁 - The CMP slurry contains a polishing agent, an oxidant, and at least one defect inhibitor to protect the metal film.
ＣＭＰスラリーは研磨剤、酸化剤及び金属薄膜を保護するための少なくとも一つの欠陥防止剤を含む。 - 特許庁 - WIRING AND ELECTRODE ELECTRODE FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY FREE FROM GENERATION OF HEAT DEFECT AND SPUTTERING TARGET FOR FORMING THEM
熱欠陥発生のない液晶表示装置用配線および電極並びにそれらを形成するためのスパッタリングターゲット - 特許庁 - To prevent emission of hydrogen being a fatal defect of a chemical thermogenic agent composed of powder aluminum and powder calcium oxide.
粉体アルミニウムと粉体酸化カルシウムから成る化学発熱剤の致命的な欠陥である水素の発生を防止する。 - 特許庁 - A defective product notice was published in the newspaper because a defect was found in one of the products our company owns.
我が社が取り扱っている商品に欠陥が見つかったため、欠陥商品のお知らせを新聞に掲載した。 - Weblio英語基本例文集 - By a heating control means 11 at a defect controller 10, a periodic thermal wave motion is given to a heating device 17.
欠陥制御装置１０の加熱制御手段１１により、加熱装置１７に周期的な熱波動を与える。 - 特許庁 - To prevent image defect resulting from paper powder from occurring even using recycled paper or imported paper including much loading material.
填料を多く含む再生紙や輸入用紙を使用しても紙粉に起因する画像不良が生じないようにする。 - 特許庁 - To solve the problem a defect signal is missed and sensitivity is degraded by light scattered by a pattern in the irregular circuit pattern portion.
不規則な回路パターン部分では、パターンからの散乱光によって欠陥信号が見落とされ、感度が低下する。 - 特許庁 - To prevent erroneous operation caused by that the prescribed test mode is not set due to defect of a line in a burn-in test.
バーンイン試験におけるライン不良により所定のテストモードに入れていないことによる誤動作を防止すること。 - 特許庁 - To provide one side spot welding equipment which can stably form a joint, and also, can prevent the generation of a hole opening defect.
接合部を安定して形成し、且つ、穴明き不良の発生を防止できる片側スポット溶接装置を提供する。 - 特許庁 - In this way, the distribution and amount, e.g. of the shrinkage cavity defect of a die casting can be predicted at high precision.
このため、ダイカスト鋳物の収縮巣欠陥などの分布や欠陥量を高精度で予測することが可能となる。 - 特許庁 - To prevent a defect such as color unevenness in color printing by detecting that a carriage inclines.
キャリッジに傾きが生じていることを検出することで、カラー印字における色ムラなどの不具合の発生を防止する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device and its inspecting method which can easily inspect color display unevenness and a short circuit defect.
カラー表示ムラや短絡欠陥を容易に検査できる液晶表示装置及びその検査方法を提供する。 - 特許庁 - Although the normal paper receives too much fixing energy, decreasing the density can reduce a defect of the image quality.
普通紙では定着エネルギーが過多となるが、濃度を低下させることにより画質欠陥を低減させることができる。 - 特許庁 - A primary judgement and a final judgement of re-broadcasting are made for the broadcast receiver/player judged as a reception defect.
受信不良と判定した放送受信再生機に対し、再放送の一次判定と最終判定とを行う。 - 特許庁 - The apparatus 15 for detecting defects is equipped with a guide section 20, a defect-detecting section 30, guide pulleys 31-38 and a controller 40.
欠陥検出装置１５は、ガイド部２０、欠陥検出部３０、ガイドプーリ３１〜３８、及びコントローラ４０を備えている。 - 特許庁 - To improve a diagnostic function of fuel metering system and make it possible to diagnose a defect of a high pressure pump as requested.
燃料調量システムの診断機能を改善し、高圧ポンプの欠陥を所望に応じて診断できるようにする。 - 特許庁 - METHOD FOR ACQUIRING THREE-DIMENSIONAL PROFILE OF PIPELINE, METHOD FOR LOCATING BURIED POSITION OF PIPELINE, AND METHOD FOR LOCATING DEFECT POSITION OF PIPELINE
パイプラインの３次元プロファイルを求める方法、パイプラインの埋設位置特定方法、パイプラインの欠陥位置特定方法 - 特許庁 - To detect and separate a short-circuiting defect in an array without increasing an array area in a semiconductor memory device.
半導体記憶装置においてアレイ面積を増大させることなくアレイ内の短絡不良を検出して分離する。 - 特許庁 - The photosensitive material A having been cut, therefore, never jams owing to a defect in conveyance in the development processor 10.
従って、カットされた感光材料Ａが現像処理装置１０内で搬送不良となり、ジャミング等をすることがない。 - 特許庁 - To provide a silicon oxide film which substantially has no oxygen defect and which has a stable electrical characteristic.
本発明の課題は、実質的に酸素欠損がなく電気的特性が安定なシリコン酸化膜を提供することである。 - 特許庁 - A glare prevention function which has a defect of the glare of a high output white LED lighting apparatus is easily obtained at a low cost.
高出力白色・ＬＥＤ照明器具の欠点であったぎらつき防止機能を安価に簡便に実現する。 - 特許庁 - Since the speed of voltage change of the word line can be accelerated, the short circuit defect can be detected efficiently.
電流量の制限により、ワード線の電圧変化の速度を高くできるため、ショート不良を効率よく検出できる。 - 特許庁 - To provide an exposure mask which can prevent a defect from being caused in a light shielding pattern, and to provide a method for manufacturing the mask.
遮光パターンに欠陥が入るのを防ぐことができる露光用マスクとその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To prevent color mixing, a bright defect and color irregularity inside a coloring pixel in a method for manufacturing a color filter with an inkjet method.
インクジェット方式によるカラーフィルタの製造方法において、混色、白抜け、着色画素内の色ムラを防止する。 - 特許庁 - To provide a developing method which is capable of making the line width uniform and hardly gives a defect at the time of developer application for coating.
線幅を均一にすることができ、現像液塗布の際に欠陥が生じ難い現像方法を提供すること。 - 特許庁
- 特許庁
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