「First layer」を含む例文一覧(24472)

<前へ 1 2 .... 76 77 78 79 80 81 82 83 84 .... 489 490 次へ>
  • An indium composition of the first semiconductor layer 9a is smaller than an indium composition of the second semiconductor layer 11a.
    第1の半導体層9aのインジウム組成は、第2の半導体層11aのインジウム組成より小さい。 - 特許庁
  • A second insulating layer 42 is formed on the first insulating layer 41 to cover the wiring pattern W1.
    第1の絶縁層41上に配線パターンW1を覆うように第2の絶縁層42が形成される。 - 特許庁
  • The first electrode is provided on a region of the second principal surface of the semiconductor layer, which has the light-emitting layer.
    第1の電極は、半導体層の第2の主面における発光層を有する領域に設けられた。 - 特許庁
  • A first layer 24 is formed of Ni or an alloy containing Ni on the top surface of the semiconductor layer 14.
    半導体層14の上面にNi又はNiを含む合金で形成される第1層24を形成する。 - 特許庁
  • The first insulating layer 116 contains a silicon oxide, and the dielectric layer 120a may contain silicon nitride.
    第1絶縁層116は、シリコン酸化物を含み、誘電体層120aは、シリコン窒化物を含んでもよい。 - 特許庁
  • The composition ratio of aluminum in a second AlGaN layer 6 is larger than that in a first AlGaN layer 5.
    第2のAlGaN層6のAlの組成比は、第1のAlGaN層5のAlの組成比よりも大きい。 - 特許庁
  • Then, a first electrode 2, an organic layer including a luminous layer 3, and a second electrode 4 are laminated in this order.
    そしてその上に第一電極2、発光層3を含む有機層、第二電極4をこの順に積層する。 - 特許庁
  • Similarly to the first insulating resin layer 4, the second insulating resin layer 5 is also formed by, for example, injection molding.
    第2絶縁樹脂層5も第1絶縁樹脂層4と同様に例えば、射出成型により形成される。 - 特許庁
  • The first emitter layer is formed as thin as about 7-15 nm, while the second emitter layer 6 is formed sufficiently thick.
    第1エミッタ層5は7〜15nm程度に薄く形成し、第2エミッタ層6は十分の膜厚に形成する。 - 特許庁
  • Even after applying the second ink receiving layer, pores present in the first ink receiving layer are not necessarily blocked.
    第2のインク受容層塗工後も、第1のインク受容層が有する細孔が全て塞がれるということはない。 - 特許庁
  • Electrodes 33, 34 of the light-emitting device 32 are in contact with the first conductive layer 14 and the second conductive layer 24.
    発光素子32の電極33,34は、第1導電層14および第2導電層24に接している。 - 特許庁
  • A first adhesive layer 6 has conductivity, and a second adhesive layer 8 is also one that has conductivity.
    第1接着剤層6は導電性を有し、第2接着剤層8も導電性を有するものとなっている。 - 特許庁
  • The thickness d1 of the first dielectric layer 12 is made to be ≤85% of a thickness d3 of the third dielectric layer 16.
    第1誘電体層12の厚さd1を第3誘電体層16厚さd3の85%以下にする。 - 特許庁
  • The second layer 3A is made of e.g., gold (Au), and the first layer 3B is made of e.g., titanium (Ti).
    第2の層3Aは例えば金(Au)で形成され、第1の層3Bは例えばチタン(Ti)で形成される。 - 特許庁
  • Exposed portions of the first substrate 11 and the photosensitive resin layer 12 are coated with an insulating layer 14.
    第1の基板11および感光性樹脂層12の露出する部分には、絶縁層14が被覆される。 - 特許庁
  • The first layer is formed on an amorphous layer, contains aluminum nitride and has a compressive strain or a tensile strain.
    前記第1層は、非晶質層の上に形成され、窒化アルミニウムを含み、圧縮歪または引張歪を有する。 - 特許庁
  • A gas layer or a vacuum layer is formed between the first transparent plate 11 and the second transparent plate 12.
    第1透明板11と第2透明板12との間には気体層もしくは真空層が形成される。 - 特許庁
  • The intermediate layer (first coated film layer) may contain a surface-active agent and/or a hydrophilic agent.
    更に、中間層(第1塗膜層)が界面活性剤及び/又は親水剤を含有するものであってもよい。 - 特許庁
  • The laminate 16 has a first electrode 17, an insulating layer 18, an organic layer 20, and a second electrode 21.
    積層体16は、第一電極17と、絶縁層18と、有機層20と、第二電極21とを有する。 - 特許庁
  • Also, the first layer thin film is preferably constructed with a metal oxide layer such as Al2O3 or Ta2O5.
    また、この第1層目の薄膜は、Al_2O_3、Ta_2O_5等の金属酸化物層で構成されることが好ましい。 - 特許庁
  • A contact opening part for connection to a first layer wiring metal layer in an Si wafer is formed in step 11.
    ステップ11でSiウェハへの第1層目配線金属層との接続のためのコンタクト開口部を形成する。 - 特許庁
  • In a shoulder part 22, the thicknesses of the first rubber layer 16A and the second rubber layer 16B are approximately the same.
    ショルダー部22においては、第1ゴム層16Aの厚さと第2ゴム層16Bの厚さとは略同一である。 - 特許庁
  • The first layer is formed of an ionic conductor or a dielectric material, while the second layer is formed of an electronic dielectric material.
    第1層はイオン導電体又は誘電体で形成され、第2層は電子誘電体で形成されている。 - 特許庁
  • The p-type doping density of the first semiconductor layer 109 is substantially uniform with respect to the direction of the layer.
    第一半導体層109のp型のドーピング濃度は層方向に関して実質的に均一である。 - 特許庁
  • Carrier concentration C2 of the second InP layer 15 is higher than the carrier concentration C1 of the first InP layer 13.
    第2のInP層15のキャリア濃度C2は第1のInP層13のキャリア濃度C1より大きい。 - 特許庁
  • An epoxy positive type photosensitive resin is applied on the first layer 10 to form a second layer 11.
    次に、第1の層10上に、再度エポキシ系のポジ型の感光性樹脂で第2の層11を形成する。 - 特許庁
  • A portion, formed on the upper surface of the first semiconductor layer 20 of the second semiconductor layer 30, is removed by etching.
    第2半導体層30のうち第1半導体層20の上面に形成された部分をエッチング除去する。 - 特許庁
  • Then, the first conductive layer is formed so as to fill the deep trench (the gap is generated inside the layer simultaneously).
    そして深トレンチを充填するように第1の伝導層を形成する(層内に隙間が同時に生成される)。 - 特許庁
  • A first conductivity ion is poured into a part for forming a well-contact layer 4 to form the well-contact layer 4.
    ウェルコンタクト層4を形成する部分に、第1導電型のイオンを注入し、ウェルコンタクト層4を形成する。 - 特許庁
  • Multiple columnar bodies 3' each having the first layer 13 and the second layer 14 are formed by removing the resist 11.
    レジスト11を除去して、第1の層13及記第2の層14を有する柱状体3’を多数形成する。 - 特許庁
  • A second layer of a second conductivity type is formed in a recessed part of the mesa structure of the first layer by a liquid-phase growing method.
    第1の層のメサ構造の凹部に、液相成長法により第2導電型の第2の層を形成する。 - 特許庁
  • The second insulation layer 22 stacking on the surface of the first insulation layer 21 is made of a resin material.
    加えて、第1絶縁層21の表面に積み重ねられる第2絶縁層22は樹脂材料からなる。 - 特許庁
  • A second overcoat layer 15b made of translucent silica having sealing property is formed on the upper surface of the first overcoat layer.
    この上面にシール性と光透過性を有する酸化珪素よりなる第2オーバーコート層15bを形成する。 - 特許庁
  • A first Au layer 51 and a second Au layer are formed on the surfaces of the pads 11 and 12 and the alignment mark.
    パッド11,12及びアライメントマークの表面に、直接第一Au層51及び第二Au層を形成する。 - 特許庁
  • The optical amplifier includes a second conductive type lower buried layer and a first conductive type or semi-insulative upper buried layer.
    第2導電型の下部埋込層と、第1導電型または半絶縁性の上部埋込層とを含む。 - 特許庁
  • The second layer is a diffusion layer which is in contact with the surface area at the first surface side of the silicon substrate.
    第2層は拡散層であり、この拡散層は、シリコン基板の第1表面側の表面領域に接する。 - 特許庁
  • It may further comprises a third metal layer 13 patterned on the same plane as the first metal layer.
    又、第一のメタル層と同一平面上にパターン形成された第三のメタル層13を有することもある。 - 特許庁
  • The second interface layer does not exist in the first interface layer, and includes an additional element different from Si, O, and N.
    第2の界面層は第1の界面層内になくかつSi、O及びNと異なる添加元素を有する。 - 特許庁
  • The first layer 1 to the fifth layer 5 have optical film thicknesses satisfying conditional expressions (1) to (5).
    さらに、第1層1から第5層5は、条件式(1)〜(5)をそれぞれ満足するような光学膜厚を有している。 - 特許庁
  • A steel pipe 10 is protected in a multi-layered manner by a first layer 16 and a second layer 18 having different corrosion prevention actions.
    鋼管10を防食作用の異なる第一層16と第二層18により重層的に保護する。 - 特許庁
  • In the light-sensitive laminate, the second photosensitive layer and the first photosensitive layer are stacked in this order on a substrate.
    感光性積層体は、基体上に、上記第二感光層、上記第一感光層の順序で積層する。 - 特許庁
  • Then, a first sacrificial layer 39 and a second sacrificial layer 40 are formed so as to cover the sensor area 10.
    次に、センサ領域10を覆うように第1犠牲層39および第2犠牲層40を形成する。 - 特許庁
  • The metal film 261 is continuously extended to connect the first silicide layer 262 and the second silicide layer 263.
    金属膜261は、第1シリサイド層262と第2シリサイド層263とを接続するように連続して延びている。 - 特許庁
  • An edge portion of the copper layer 37 on the first iron layer 38 side is beveled at an inner wall of the open hole 35.
    また、貫通孔35の内壁における銅層37の第1鉄層38側の端部が面取りされている。 - 特許庁
  • Then NO_2 is supplied to a sample to form a second surface layer 5 on the first surface layer 2 (Fig.1(d)).
    試料にNO_2を供給し、第1の表面層2上に第2の表面層5を形成する(図1(d))。 - 特許庁
  • The first insulating layer 18 contains a termination material that terminates a dangling bond the semiconductor layer 4 has.
    第1絶縁層18は、半導体層4が有するダングリングボンドを終端させる終端材料を含んでいる。 - 特許庁
  • The wiring board comprises a base 11 formed of ceramic, and a first conductor layer 12a and a second conductor layer 12b.
    セラミックスからなる基体11と、第1の導体層12aおよび第2の導体層12bを有している。 - 特許庁
  • Thereby, recording order of the first layer 50 and the second layer 52 can be arbitrarily set.
    判別結果に応じて切り替えるため、第1層50と第2層52の記録順序は任意に設定できる。 - 特許庁
  • The conductor layer 6 is provided on the first cover insulating layer 4 so as to cover the wide width portions 31-33.
    導体層6は、幅広部31〜33の上方を覆うように第1のカバー絶縁層4上に設けられる。 - 特許庁
  • Tracks are formed on the second recording layers of the first layer and the second layer, and a plurality of sectors are provided along the tracks.
    1層目と2層目の記録層上にはトラックが形成され、該トラックに沿って複数のセクタが設けられる。 - 特許庁
<前へ 1 2 .... 76 77 78 79 80 81 82 83 84 .... 489 490 次へ>

例文データの著作権について

  • 特許庁
    Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.