RESIST COMPOSITION FOR NEGATIVE DEVELOPMENT AND PATTERN FORMING METHOD USING SAME ネガ型現像用レジスト組成物及びこれを用いたパターン形成方法 - 特許庁
PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION AND METHOD FOR PRODUCING RELIEF PATTERN USING THE SAME 感光性樹脂組成物及びこれを用いたレリーフパターンの製造法 - 特許庁
PICTURE PATTERN-PRINTED COATING FILM AND PAINT COMPOSITION FOR FORMING THE SAME 絵柄印刷塗膜及び絵柄印刷塗膜形成用塗料組成物 - 特許庁
COMPOUND, ACID-FORMING AGENT, RESIST COMPOSITION AND METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN 化合物、酸発生剤、レジスト組成物およびレジストパターン形成方法 - 特許庁
POSITIVE PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION, METHOD FOR MANUFACTURING PATTERN, AND ELECTRONIC PARTS ポジ型感光性樹脂組成物、パターンの製造方法及び電子部品 - 特許庁
CHEMICALLY AMPLIFIED POSITIVE PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD FOR MANUFACTURING RESIST PATTERN 化学増幅型ポジ型フォトレジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 - 特許庁
FILM-FORMING RESIN COMPOSITION, PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION, METHOD FOR PRODUCING RESIN PATTERN, AND THE RESULTANT RESIN PATTERN, AND ELECTRONIC DEVICE 膜形成用樹脂組組成物、感光性樹脂組成物、樹脂パターンの製造方法及びそれにより得られた樹脂パターン、並びに電子デバイス - 特許庁
POSITIVE PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION, METHOD FOR MANUFACTURING RELIEF PATTERN AND ELECTRONIC PARTS ポジ型感光性樹脂組成物、レリーフパターンの製造法及び電子部品 - 特許庁
POLYMERIZABLE COMPOSITION FOR SOLDER RESIST AND METHOD FOR FORMING SOLDER RESIST PATTERN ソルダーレジスト用重合性組成物及びソルダーレジストパターンの形成方法 - 特許庁
HEAT RESISTANT PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION, METHOD FOR PRODUCING PATTERN AND SEMICONDUCTOR DEVICE 耐熱感光性樹脂組成物、パターン製造法及び半導体デバイス - 特許庁
A display control device includes a pattern data generation part (10) and data composition parts (12 and 28). パターンデータ生成部(10)と、データ合成部(12、28)とを備える。 - 特許庁
RADIATION-SENSITIVE COMPOSITION, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PATTERN FORMING PROCESS 感放射線性組成物、その製造方法、ならびにパターン形成方法 - 特許庁
POLYMER COMPOUND, POSITIVE-TYPE RESIST COMPOSITION AND METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN 高分子化合物、ポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法 - 特許庁
POLYMER COMPOUND, POSITIVE-TYPE RESIST COMPOSITION AND METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN 高分子化合物、ポジ型レジスト組成物及びレジストパターン形成方法 - 特許庁
POSITIVE RESIST COMPOSITION, POLYMERIC COMPOUND, AND METHOD OF FORMING RESIST PATTERN ポジ型レジスト組成物、高分子化合物およびレジストパターン形成方法 - 特許庁
POSITIVE RESIST COMPOSITION, RESIST PATTERN FORMING METHOD, AND HIGH MOLECULAR COMPOUND ポジ型レジスト組成物、レジストパターン形成方法および高分子化合物 - 特許庁
METHOD FOR PREPARING PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION AND RELIEF PATTERN USING THE SAME 感光性樹脂組成物の製造方法、及びそれを用いたレリーフパターン - 特許庁
COMPOSITION FOR FORMING LOWER LAYER FILM AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME 下層膜形成用組成物及びそれを用いたパターン形成方法 - 特許庁
POSITIVE PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION, METHOD OF FORMING PATTERN, AND ELECTRONIC COMPONENT ポジ型感光性樹脂組成物、パタ−ンの製造方法及び電子部品 - 特許庁
RESIST COMPOSITION, RESIST PATTERN FORMING METHOD, HIGH MOLECULAR COMPOUND, AND COMPOUND レジスト組成物、レジストパターン形成方法、高分子化合物及び化合物 - 特許庁
RESIN COMPOSITION FOR FILM FORMATION, PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION, PRODUCTION METHOD OF RESIN PATTERN, RESIN PATTERN OBTAINED BY THE SAME, AND ELECTRONIC DEVICE 膜形成用樹脂組成物、感光性樹脂組成物、樹脂パターンの製造方法およびそれにより得られた樹脂パターン、ならびに電子デバイス - 特許庁
To provide a positive photosensitive composition for producing a flat pattern so that the pattern is not made spherical when the composition is cured by heating in photolithography. フォトリソグラフィー法での加熱硬化の際にパターンが球面化せず、平坦なパターンを製造できるポジ型感光性組成物を提供すること。 - 特許庁
POSITIVE RESIST COMPOSITION FOR LIQUID IMMERSION LITHOGRAPHY AND RESIST PATTERN FORMING METHOD 液浸露光用ポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法 - 特許庁
METHOD FOR FORMING POSITIVE TYPE RESIST COMPOSITION FOR IMMERSION EXPOSURE AND RESIST PATTERN 液浸露光用ポジ型レジスト組成物およびレジストパターンの形成方法 - 特許庁
RESIST COMPOSITION FOR NEGATIVE DEVELOPMENT AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME ネガ型現像用レジスト組成物及びこれを用いたパターン形成方法 - 特許庁