「electron microscope」を含む例文一覧(1821)
＜前へ 1 2 .... 7 8 9 10 11 12 13 14 15 .... 36 37 次へ＞- ELECTRON BEAM ADJUSTING METHOD, CHARGED PARTICLE OPTICAL SYSTEM CONTROL DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
電子ビームの調整方法，荷電粒子光学系制御装置、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁 - To measure the deviation of an electron beam scanning axis with a stage moving axis of a scanning electron microscope.
走査電子顕微鏡の電子ビーム走査軸とステージ移動軸のずれを測定する - 特許庁 - To guide a large number of secondary electrons to an electron detection part, in a scanning electron microscope.
走査電子顕微鏡において、多数の２次電子を電子検出部に導くこと。 - 特許庁 - Holography observation is conducted by using a transmission electron microscope mounting a spin polarization electron source.
スピン偏極電子源を搭載した透過電子顕微鏡を用いてホログラフィー観察をする。 - 特許庁 - ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH, AND ELECTRON ENERGY LOSS SPECTRUM MEASURING METHOD
電子エネルギー損失分光装置、及びそれを備えた電子顕微鏡、及び電子エネルギー損失スペクトル測定方法 - 特許庁 - The electron microscope and the electron beam exposure apparatus are provided with this field-emission electron gun.
一実施の形態の電子顕微鏡、及び電子ビーム露光機は、この電界放出型電子銃を備えている。 - 特許庁 - SAMPLE-ATTACHING AND DETACHING MECHANISM OF SAMPLE- FORMING APPARATUS FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用試料作成装置の試料着脱機構 - 特許庁 - To provide an inspection method of a test piece in an electron microscope.
電子顕微鏡における試料の検査方法を提供する。 - 特許庁 - To prepare a sample for an electron microscope having uniform thickness.
均一な厚さとなる電子顕微鏡用の試料を作製する。 - 特許庁 - METHOD FOR AUTOMATICALLY DETERMINING ARRANGEMENT OF TILT SERIES IN ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡におけるチルト系列の自動配置決定方法 - 特許庁 - OBSERVATION METHOD OF FIB-PROCESSED SAMPLE BY ELECTRON MICROSCOPE
ＦＩＢによる加工試料の電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁 - TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND INSPECTION METHOD USING THE SAME
透過電子顕微鏡システムおよびそれを用いた検査方法 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING THICKNESS OF THIN FILM BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡による薄膜の厚みの測定方法 - 特許庁 - WIEN FILTER USED IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE
走査型電子顕微鏡等において使用するためのウィーンフィルタ - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE, AND ITS FOCUSING METHOD
走査型電子顕微鏡装置およびその焦点あわせ方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING THREE-DIMENSIONAL SHAPE ANALYSIS FUNCTION
三次元形状解析機能を有する走査型電子顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING INTEGRATED CIRCUIT
走査電子顕微鏡システムおよび集積回路の製造方法 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH GRAPHICAL USER INTERFACE AND ITS NOISE ELIMINATION METHOD
ＧＵＩを備えた電子顕微鏡及びそのノイズ除去方法 - 特許庁 - TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE OBSERVATION METHOD USING IT
透過型電子顕微鏡およびそれを用いた像観察方法 - 特許庁 - COMPACT COLUMN ELECTRON MICROSCOPE COMBINED DEVICE, AND DEFECT OBSERVATION METHOD
小型カラム電子顕微鏡複合装置及び欠陥観察方法 - 特許庁 - EVALUATION METHOD AND EVALUATION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE
走査型電子顕微鏡装置の評価方法及び評価装置 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD OF THE SAME
走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法 - 特許庁 - REAL-TIME PROCESSING SYSTEM FOR PLURAL-DETECTOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
複数検出器電子顕微鏡装置のリアルタイム処理方式 - 特許庁 - PATTERN MATCHING DEVICE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE EMPLOYING IT
パターンマッチング装置及びそれを用いた走査型電子顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE, AND IMAGING METHOD USING IT
走査型電子顕微鏡装置およびそれを用いた撮像方法 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE HOLDER FOR SEEBECK EFFECT (THERMOELECTRIC MATERIAL) ANALYSIS
ゼーベック効果（熱電材料）解析用電子顕微鏡試料ホルダ - 特許庁 - SAMPLE PLATFORM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAMPLE PLATFORM
試料台及びその試料台を備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁 - OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION APPARATUS OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
走査透過電子顕微鏡の観察方法及び観察装置 - 特許庁 - AUTOMATIC IMAGE DRIFT CORRECTION SYSTEM FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡における画像ドリフト自動修正システム - 特許庁 - This operation places the electron microscope into a beam shower mode.
この動作によって、透過電子顕微鏡はビームシャワーモードとなる。 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND CONTROL DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
荷電粒子線装置及び走査電子顕微鏡の制御装置 - 特許庁 - To prevent charge of a sample in a scanning electron microscope.
走査型電子顕微鏡において試料のチャージを防止する。 - 特許庁 - MIRROR ELECTRON MICROSCOPE, AND PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE USING IT
ミラー電子顕微鏡及びそれを用いたパターン欠陥検査装置 - 特許庁 - TOOL FOR COVERING GRID HOLE WITH THIN SLICE OF ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN
電子顕微鏡試料の超薄切片をグリッド孔に張る器具。 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD USING IT
走査電子顕微鏡及びそれを用いた試料観察方法 - 特許庁 - FIXING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE TABLE
透過電子顕微鏡用試料の固定方法および試料台 - 特許庁 - SAMPLE HEATING HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVING METHOD
電子顕微鏡用試料加熱ホルダ及び試料観察方法 - 特許庁 - To enable observation of electron microscope images by using phase contrast technique.
位相差法により電子顕微鏡像を観察可能にする。 - 特許庁 - RADIATION DETECTING DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE AND MEASURING APPARATUS
放射線検出装置および電子顕微鏡および計測装置 - 特許庁 - REMOTE CONTROL METHOD AND REMOTE CONTROL SYSTEM FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の遠隔制御方法及び遠隔制御システム - 特許庁 - SPHERICAL ABERRATION CORRECTION ELECTRON MICROSCOPE HAVING LESS COLOR ABERRATION
色収差も小さく抑えた球面収差補正電子顕微鏡 - 特許庁 - To provide a correction device in which a chromatic aberration and an aperture aberration in a scanning electron microscope or a scanning transmission type electron microscope are removed.
走査型電子顕微鏡または走査透過型電子顕微鏡における色収差および開口収差を除去する。 - 特許庁 - COMMON SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSED-ION BEAM DEVICE, AND SAMPLE-PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡と集束イオンビーム装置との共用試料ホルダー及び透過型電子顕微鏡用の試料作製方法 - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING THICKNESS OF AMORPHOUS LAYER OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡用試料のアモルファス層の厚さ評価方法および透過型電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁 - With the position of a crossover A as the table face of this electron microscope, the energy filter can be settled under the table of the electron microscope.
クロスオーバーＡの位置を電子顕微鏡のテーブル面とし、エネルギーフィルタを電子顕微鏡のテーブルの下に納めることができる。 - 特許庁 - SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, SAMPLE SUPPORT STRUCTURE FOR THE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, SAMPLE HOLDER AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS
透過電子顕微鏡用試料作製方法、透過電子顕微鏡用試料支持構造、試料ホルダ及び荷電粒子ビーム装置 - 特許庁 - An accurate electron energy loss spectrum is acquired with an electron microscope provided with the electron energy loss spectroscope.
電子エネルギー損失スペクトル装置を備えた電子顕微鏡において、高精度な電子エネルギー損失スペクトルを取得できる。 - 特許庁 - ELECTRON SPIN DETECTOR, SPIN POLARIZATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME, AND SPIN DECOMPOSED-LIGHT ELECTRON SPECTROSCOPE
電子スピン検出器並びにそれを用いたスピン偏極走査電子顕微鏡及びスピン分解光電子分光装置 - 特許庁 - DISTORTION COMPENSATING METHOD OF ELECTRON-RAY DEFLECTION, ELECTRON-RAY EXPOSURE DEVICE WHICH HAS DEFLECTION DISTORTION COMPENSATING MEANS, AND SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE
電子線の偏向歪補正方法、及び歪補正手段を有する電子線露光装置、走査型電子顕微鏡 - 特許庁 - The electron gun 1 of this mapping type electron microscope emits an electron beam as a primary irradiation beam 4 to irradiate a sample 6 placed on a stage 5.
電子銃１からの電子ビームは、一次照射ビーム４となり、ステージ５の上の試料６を落射照射する。 - 特許庁
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