「electron microscope」を含む例文一覧(1821)

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  • To prevent sample contamination in electron irradiation in an analytical electron microscope.
    分析電子顕微鏡において、電子線照射時の試料汚染を防止する。 - 特許庁
  • TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND TRANSMITTED ELECTRON EXAMINATION DEVICE AND EXAMINATION METHOD
    透過電子顕微鏡装置および透過電子検査装置並びに検査方法 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM AXIS ADJUSTING METHOD THEREFOR
    走査電子顕微鏡の電子ビーム軸調整方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • The crossover acts as an effective electron source for the electron optical system of the electron microscope.
    クロスオーバは、電子顕微鏡の電子光学系に対して事実上の電子光源として働く(作用する)。 - 科学技術論文動詞集
  • To provide a scanning electron microscope capable of easily controlling an electron beam axis, a control method of the scanning electron microscope, and an electron beam axis control method.
    電子ビームの軸調整を容易に行うことができる走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法並びに電子ビームの軸調整方法を提供する。 - 特許庁
  • In an electron microscope provided with electron beam bi-prisms, a microprobe 15 to shield an electron beam is installed between an electron gun 1 of the microscope and a holder to hold the sample 11.
    電子線バイプリズムを備えた電子顕微鏡において、該顕微鏡の電子銃１と試料１１を保持するホルダの間に電子線を遮蔽するマイクロプローブ１５を設ける。 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON BEAM HOLOGRAM FORMING METHOD, AND PHASE REPRODUCED IMAGE FORMING METHOD
    電子顕微鏡、電子線ホログラム作成方法及び位相再生画像作成方法 - 特許庁
  • To provide a scanning electron microscope device in which an electron gun is maintained in vacuum.
    電子銃が真空に保たれる走査型電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
  • CONTROL DEVICE AND CONTROL METHOD FOR ELECTRON GUN USED FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE
    走査電子顕微鏡等に用いる電子銃の制御装置及び制御方法 - 特許庁
  • ELECTRON BEAM IRRADIATION APPARATUS, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS, AND X-RAY ANALYSIS APPARATUS
    電子線照射装置、及び走査型電子顕微鏡装置、Ｘ線分析装置 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING AUTOMATIC AXIS OF ELECTRON LENS OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査型電子顕微鏡における電子レンズの自動軸調整方法及び装置 - 特許庁
  • To smoothly switch between observation fields of an electron microscope image and an optical microscope image.
    電子顕微鏡画像、光学拡大観察画像の観察視野切り替えをスムーズに行う。 - 特許庁
  • an electron microscope shows tiny details better than any other type of microscope.
    電子顕微鏡は、他のどのタイプの顕微鏡よりも、物体を細かく映し出すことができる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • To provide an electron gun capable of aiming at higher quality of electron beams in a simple way and provide an electron microscope and an electron generation method.
    簡便に電子ビームの高品質化を図ることができる電子銃、電子顕微鏡、及び電子発生方法を提供する。 - 特許庁
  • SAMPLE POSITION DETECTING METHOD AND DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過電子顕微鏡試料位置検出方法及び装置 - 特許庁
  • SPECIMEN OBSERVATION METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE FOR USE IN THE SAME
    試料像観察方法とそれに用いる電子顕微鏡 - 特許庁
  • SURFACE TREATMENT METHOD FOR TEST SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過型電子顕微鏡用試料の表面処理方法 - 特許庁
  • ELECTRONIC SPECTROSCOPE AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH ABOVE
    電子分光器及びそれを備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁
  • MANUFACTURING METHOD FOR MAPPING TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND MICRO DEVICE
    写像型電子顕微鏡及びマイクロデバイスの製造方法 - 特許庁
  • A dyeing agent for electron microscope observation contains cisplatin.
    電子顕微鏡観察用染色剤は、シスプラチンを含有する。 - 特許庁
  • To provide a scanning electron microscope which does not require warming up.
    ウォーミングアップが不要な走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • DETECTION METHOD OF IMAGE INTEGRATION TIMES OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡の画像積算回数検出方法 - 特許庁
  • HERMETICALLY SEALED OBSERVATION ENVIRONMENT FORMING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡用の密閉式観測環境形成装置 - 特許庁
  • INSPECTING DEVICE AND METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡を用いた検査装置および検査方法 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH TIME CONSTANT MEASUREMENT FUNCTION MOUNTED
    時定数測定機能を搭載した走査型電子顕微鏡 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYZING METHOD USING IT
    電子顕微鏡及びこれを用いた試料の解析方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS OF OBSERVING IMAGE IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡における像観察方法及び装置 - 特許庁
  • TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN AND METHOD FOR PREPARING THE SAME
    透過型電子顕微鏡用試料及びその作製方法 - 特許庁
  • LINEWIDTH MEASUREMENT REGULATION METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    線幅測定調整方法及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁
  • DISTORTION MEASURING METHOD AND LUMINANCE CORRECTION METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡の歪み測定方法及び輝度補正方法 - 特許庁
  • IN SITU OBSERVATION SYSTEM IN COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    複合放出電子顕微鏡におけるその場観察システム - 特許庁
  • AXIS ADJUSTMENT METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE
    透過電子顕微鏡の軸調整方法およびその装置 - 特許庁
  • ENERGY FILTER AND ELECTRON MICROSCOPE AND SLIT TRAVELLING MECHANISM
    エネルギーフィルタおよび電子顕微鏡ならびにスリット移動機構 - 特許庁
  • MICRO RUGGEDNESS VALUE MEASUREMENT DEVICE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    微細凹凸量測定装置及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING SAME
    走査型電子顕微鏡及びそれを用いる測定方法 - 特許庁
  • OPERATIONAL AMPLIFIER AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME
    演算増幅器及びそれを用いた走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • OBSERVATION CONDITIONS SUPPORT DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査形電子顕微鏡における観察条件支援装置 - 特許庁
  • SCANNING IMAGE SIGNAL ACQUIRING METHOD AND SCAN TYPE ELECTRON MICROSCOPE
    走査像信号取得方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH DETECTION PART IN OBJECTIVE LENS
    対物レンズ内検出器を備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE, TEMPERATURE MEASUREMENT METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE
    温度測定装置、温度測定方法および電子顕微鏡 - 特許庁
  • SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE SETTING METHOD
    電子顕微鏡用試料ホルダー及び試料装着方法 - 特許庁
  • DRAWING PLATE FOR ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
    電子顕微鏡用絞りプレート板及びその製造方法 - 特許庁
  • MEASURING TECHNIQUE OF SAMPLE DIMENSION AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    試料寸法測定方法及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁
  • SAMPLE PREPARATION METHOD AND KIT FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION
    電子顕微鏡観察用サンプルの作製方法及びキット - 特許庁
  • If you look at the everyhomeshouldhaveone scanning electron microscope picture
    「一家に一台の電子顕微鏡」で撮った写真を見ると - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • SEMI-HERMETICALLY SEALED OBSERVATION ENVIRONMENT FORMING DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡の半密閉式観測環境形成装置 - 特許庁
  • All these pictures were taken with a scanning electron microscope
    これらの写真は全て 電子顕微鏡で撮られたものです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • REFERENCE SAMPLE FOR ELEMENT MAPPING OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT MAPPING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME
    透過電子顕微鏡の元素マッピング用の標準試料およびそれを利用した透過電子顕微鏡の元素マッピング法 - 特許庁
  • INFORMATION TRANSMISSION LIMIT MEASURING METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE WITH THE MEASURING METHOD APPLIED
    透過型電子顕微鏡の情報伝達限界測定法およびこの測定法が適用された透過型電子顕微鏡 - 特許庁
  • To provide a method for remote controlling an electron microscope capable of accurately adjusting an electron microscope such as a scanning electron microscope even in bad environment of a network.
    ネットワーク回線の環境が悪い場合でも、より正確に走査電子顕微鏡などの電子顕微鏡の調整を行なうことができる電子顕微鏡の遠隔調整方法を実現する。 - 特許庁
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