「electron microscope」を含む例文一覧(1821)

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  • ELECTRON MICROSCOPE AND FLAW SHAPE CONFIRMING METHOD
    電子顕微鏡および欠陥形状確認方法 - 特許庁
  • FUNCTION FOR REGULATING AUTOMATICALLY IMAGE FOR ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE
    電子顕微鏡等の自動画像調整機能 - 特許庁
  • To provide a monochromator used for an electron microscope.
    電子顕微鏡使用のためのモノクロメータに関する。 - 特許庁
  • GRID AND GRID HOLDER FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過型電子顕微鏡用グリッドおよびグリッドホルダー - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SEMICONDUCTOR INSPECTING SYSTEM
    走査型電子顕微鏡及び半導体検査システム - 特許庁
  • TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF OPERATING THE SAME
    透過形電子顕微鏡及びその動作方法 - 特許庁
  • SPECIMEN OBSERVING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    試料観察方法および走査型電子顕微鏡 - 特許庁
  • RETAINER FOR SAMPLE CARRIER IN ELECTRON MICROSCOPE INSPECTION
    電子顕微鏡検査のサンプル担体のための保持器 - 特許庁
  • OBSERVATION IMAGE ACQUIRING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    観察画像取得方法、走査型電子顕微鏡 - 特許庁
  • METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過型電子顕微鏡用の試料製造方法 - 特許庁
  • SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過型電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁
  • MONOCHROMATOR AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH MONOCHROMATOR
    モノクロメータ及びそれを用いた走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査型電子顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁
  • BREAKING MECHANISM AND SAMPLE STAGE FOR ELECTRON MICROSCOPE
    制動機構および電子顕微鏡用試料ステージ - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECT DETECTOR DEVICE
    走査型電子顕微鏡及び欠陥検出装置 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD
    走査型電子顕微鏡及び試料観察方法 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND ITS CONTROL METHOD
    走査型電子顕微鏡装置とその制御方法 - 特許庁
  • SAMPLE IMAGE ACQUIRING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    試料像取得方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • METHOD OF SETTING DIFFERENT MAGNIFICATION FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡の異種倍率設定方法 - 特許庁
  • To increase the contrast of a mirror electron microscope.
    ミラー電子顕微鏡の高コントラスト化を実現する。 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUS POSITION CONTROL METHOD
    電子顕微鏡及びその焦点位置制御方法 - 特許庁
  • COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE FOR CHEMICAL ANALYSIS
    化学分析用複合放出電子顕微鏡装置 - 特許庁
  • PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡用の試料の作製方法 - 特許庁
  • IMAGE COMPENSATING APPARATUS IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査型電子顕微鏡における画像補償装置 - 特許庁
  • VACUUM DISPLAY DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE CELL
    電子顕微鏡試料室の真空度表示装置 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE FOR DIMENSION CALIBRATION
    走査電子顕微鏡及び寸法校正用試料 - 特許庁
  • CHARGE-UP DETECTION METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査型電子顕微鏡のチャージアップ検出方法 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH ANNULAR ILLUMINATING APERTURE
    環状の照明開口を備える電子顕微鏡 - 特許庁
  • It is better than even 300 million n electron microscope. n
    3億 相当のn電子顕微鏡にも勝るって。n - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • The electron microscope carries out Fourier synthesis automatically.
    電子顕微鏡は、フーリエ合成を自動的に行う。 - 科学技術論文動詞集
  • VISUAL INSPECTION DEVICE WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE FORMING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像生成方法 - 特許庁
  • ELECTRON SOURCE HAVING CARBON NANOTUBE, ELECTRON MICROSCOPE USING IT, AND ELECTRON BEAM DRAWING DEVICE
    カーボンナノチューブを有する電子源とそれを用いた電子顕微鏡および電子線描画装置 - 特許庁
  • OBSERVING APPARATUS FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON IMAGE OF ELECTRON MICROSCOPE MOUNTED WITH ENERGY FILTER
    エネルギーフィルタを備えた電子顕微鏡の走査透過電子像観察装置 - 特許庁
  • SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM ENERGY SPECTROSCOPY USING IT
    走査透過電子顕微鏡及びそれを用いた電子線エネルギー分光方法 - 特許庁
  • METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION
    透過電子顕微鏡観察用試料作製方法 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD THEREOF
    走査型電子顕微鏡および該装置の制御方法 - 特許庁
  • CRYSTAL ORIENTATION IDENTIFICATION SYSTEM AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    結晶方位同定システム及び透過電子顕微鏡 - 特許庁
  • METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過型電子顕微鏡用試料の調製方法 - 特許庁
  • PATTERN SIZE MEASURING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    パターン寸法計測方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE
    透過型電子顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁
  • IMAGE PROCESSING SYSTEM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM
    画像処理システム、及び走査型電子顕微鏡装置 - 特許庁
  • SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION MEASURING METHOD
    走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法 - 特許庁
  • SAMPLE SUPPORT DEVICE AND METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡の試料支持装置およびその方法 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING PERMANENT MAGNETIC LENS
    永久磁石レンズを使用した走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • PHASE PLATE FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD
    電子顕微鏡用位相板及びその製造方法 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE WITH MAGNETIC IMAGE FORMING ENERGY FILTER
    磁気形結像エネルギフィルタを有する電子顕微鏡 - 特許庁
  • SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION CORRECTION METHOD
    走査透過電子顕微鏡、及び収差補正方法 - 特許庁
  • TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE HAVING SCAN IMAGE OBSERVATION FUNCTION
    走査像観察機能を有した透過電子顕微鏡 - 特許庁
  • An electron microscope was invented by Ruska in 1938.
    電子顕微鏡はルスカによって、1938年に発明された。 - 科学技術論文動詞集
  • SPACER FOR NANO-IMPRINTING, PREPARATION METHOD OF SPECIMEN FOR CONDITIONING ELECTRON-MICROSCOPE USING IT, SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE CONDITIONING AND ELECTRON-MICROSCOPE PROVIDED WITH IT
    ナノインプリント用スペーサ、及びこれを用いた電子顕微鏡調整用試料の製造方法、並びに電子顕微鏡調整用試料、及びこれを備えた電子顕微鏡 - 特許庁
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