「electron microscope」を含む例文一覧(1821)
＜前へ 1 2 .... 5 6 7 8 9 10 11 12 13 .... 36 37 次へ＞- To provide an electron microscope such as a scanning electron microscope and a transmission type electron microscope capable of effectively neutralizing charge-up on a sample surface such as an insulator.
絶縁物等の試料表面上のチャージアップを有効に中和させることができる走査電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡等の電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁 - To enable an electron microscope sample to be thinned.
電子顕微鏡用試料の薄膜化を可能とすること。 - 特許庁 - METHOD FOR MAKING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SPECIMEN
透過型電子顕微鏡観察試料の作製方法 - 特許庁 - PREPARATION METHOD FOR OBSERVING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡用観察試料作製方法 - 特許庁 - CATHODOLUMINESCENCE DETECTION DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE
走査電子顕微鏡等のカソードルミネッセンス検出装置 - 特許庁 - 3-DIMENSIONAL IMAGE BUILDING METHOD AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
３次元像構築方法および透過電子顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING ITS AXIS
走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING TILTING STAGE OF ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の傾斜ステージ補正方法及び装置 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION
電子顕微鏡観察用の試料片の製造方法 - 特許庁 - OBSERVATION METHOD BY PHASE RETRIEVAL TYPE ELECTRON MICROSCOPE
位相回復方式の電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE APPLICATION DEVICE, AND TESTPIECE INSPECTION METHOD
電子顕微鏡応用装置および試料検査方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH SAMPLE- CHANGING DEVICE
試料交換装置を備えた走査型電子顕微鏡 - 特許庁 - The particle diameter ratio would be measured by the electron microscope pictures.
粒径比の測定には電子顕微鏡写真を用いる。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置 - 特許庁 - HIGH RESOLUTION/CHEMICAL BOND ELECTRON/SECONDARY ION MICROSCOPE APPARATUS
高分解能・化学結合電子・２次イオン顕微鏡装置 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING DISTURBANCE CORRECTING DEVICE
外部擾乱補正装置を有した走査電子顕微鏡 - 特許庁 - ASTIGMATISM CORRECTION METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE
電子顕微鏡の非点収差補正方法とその装置 - 特許庁 - SPECTRUM DATA PROCESSING METHOD OF TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE USING ENERGY FILTER AND ITS TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE
エネルギーフィルタを用いた透過型電子顕微鏡の分光データ処理方法、及びその透過型電子顕微鏡 - 特許庁 - APPEARANCE INSPECTION APPARATUS WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DATA PROCESSING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像データの処理方法 - 特許庁 - METHOD OF PREPARING OBSERVATION SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過電子顕微鏡用観察試料の作製方法 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡を用いたパターン計測方法 - 特許庁 - THIN FILM PHASE PLATE FOR PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE, THE PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE, AND AN ANTISTATIC METHOD FOR THE PHASE PLATE
位相差電子顕微鏡用薄膜位相板並びに位相差電子顕微鏡及び位相板帯電防止法 - 特許庁 - CUTTING MACHINING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE
透過電子顕微鏡用試料の切り込み加工法 - 特許庁 - OBSERVATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND HOLDING JIG
透過型電子顕微鏡の観察方法および保持治具 - 特許庁 - ANALYSIS METHOD BY OPTICAL MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPY
光学顕微鏡と電子顕微鏡とによる分析方法 - 特許庁 - TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYSIS METHOD
透過型電子顕微鏡装置および試料解析方法 - 特許庁 - DIAGNOSTIC DEVICE OF RECIPE USED FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡に用いられるレシピの診断装置 - 特許庁 - VISUAL FIELD MOVEMENT CORRECTING DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査形電子顕微鏡等の視野移動補正装置 - 特許庁 - To improve total throughput of a scanning electron microscope.
走査型電子顕微鏡のトータルスループットを向上させる。 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS FOCUS DETECTION METHOD
走査型電子顕微鏡及びその焦点検出方法 - 特許庁 - WIEN FILTER TYPE ENERGY ANALYZER AND DISCHARGE ELECTRON MICROSCOPE
ウィーンフィルタ型エネルギーアナライザ及び放出電子顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE DIMENSION LENGTH MEASURING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
試料寸法測長方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE ANALYSIS METHOD USING SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
走査透過電子顕微鏡を用いた試料解析方法 - 特許庁 - TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH X- RAY SPECTROSCOPE
Ｘ線分光器を備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE STATIC CHARGE CONTROL METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
試料帯電制御方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁 - To prevent resolution degradation of a scanning electron microscope.
走査電子顕微鏡(SEM)の分解能劣化を防止する。 - 特許庁 - DETECTOR SYSTEM FOR USE IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡で用いられる検出器システム - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE SIGNAL PROCESSING METHOD
走査型電子顕微鏡および画像信号処理方法 - 特許庁 - MEASUREMENT METHOD OF SAMPLE SIZE USING ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡を用いた試料の寸法の測定方法 - 特許庁 - FIELD EMISSION ELECTRON SOURCE AND MICROSCOPE USING THIS
電界放射電子源およびこれを用いた顕微鏡 - 特許庁 - INSPECTION METHOD AND DEVICE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡を用いた検査方法および装置 - 特許庁 - DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD
暗視野走査透過電子顕微鏡および観察方法 - 特許庁 - SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, AND ITS MANUFACTURING METHOD
電子顕微鏡観察用試料及びその作製方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MICRO-PATTERN MEASURING METHOD
走査型電子顕微鏡及び微細パターン測定方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS IMAGE DISPLAY METHOD
走査型電子顕微鏡およびその画像表示方法 - 特許庁 - TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE GRID AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
透過型電子顕微鏡グリッド及びその製造方法 - 特許庁 - DEVICE FOR INDICATING VACUUM PRESSURE OF ELECTRON MICROSCOPE ACCELERATING TUBE
電子顕微鏡加速管の真空圧力表示装置 - 特許庁 - METHOD OF INSPECTING AND MEASURING SAMPLE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
試料の検査，測定方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁 - PLASMA GENERATOR AND LOW-VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
プラズマ発生装置及び低真空走査電子顕微鏡 - 特許庁 - ELECTRON PAIR MEASURING APPARATUS AND SCANNING TUNNELING MICROSCOPE
電子対測定装置および走査形トンネル顕微鏡 - 特許庁
