「electron microscope」を含む例文一覧(1821)

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  • AUTOMATIC FOCUS FUNCTION OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡の自動焦点機能 - 特許庁
  • POSITION DETERMINATION METHOD OF MEASURING OBJECT IN ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡における測定対象物の位置決定方法および電子顕微鏡 - 特許庁
  • TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE HAVING TELEVISION CAMERA
    テレビカメラを備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁
  • METHOD OF OBSERVING TESTPIECE AND ELECTRON MICROSCOPE
    試料観察方法及び電子顕微鏡 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE CONTROL DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE CONTROL METHOD, CONTROL PROGRAM, RECORDING MEDIUM HAVING CONTROL PROGRAM RECORDED THEREON, ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND ELECTRON BEAM IRRADIATION DEVICE
    電子顕微鏡制御装置、電子顕微鏡制御方法、制御プログラム、制御プログラムを記録した記録媒体、電子顕微鏡システム、および電子線照射装置 - 特許庁
  • ELECTRON-BEAM DRAWING APPARATUS, ELECTRON BEAM TESTER, AND ELECTRON BEAM MICROSCOPE
    電子ビーム描画装置および電子ビーム検査装置および電子ビーム顕微鏡 - 特許庁
  • ELECTRON-EMITTING ELEMENT, ELECTRON GUN, ELECTRON MICROSCOPE DEVICE USING IT, AND ELECTRON BEAM LITHOGRPHY DEVICE
    電子放出素子，電子銃、それを用いた電子顕微鏡装置及び電子線描画装置 - 特許庁
  • SECONDARY ELECTRON-REFLECTED ELECTRON DETECTING DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING SECONDARY ELECTRON-REFLECTED ELECTRON DETECTING DEVICE
    ２次電子・反射電子検出装置及び２次電子・反射電子検出装置を有する走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • ELECTRON BEAM DEVICE AND GAS REACTION SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子線装置及び電子顕微鏡用ガス反応試料ホルダ - 特許庁
  • LOW VACUUM OF SECONDARY ELECTRON DETECTING APPARATUS SUCH AS SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ETC
    走査電子顕微鏡等の低真空二次電子検出装置 - 特許庁
  • EMITTED ELECTRON ACCELERATING METHOD IN COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    複合放出電子顕微鏡における放出電子加速方法 - 特許庁
  • TEST SAMPLE EXAMINING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    試料検査方法及び走査型顕微鏡 - 特許庁
  • INSPECTION DEVICE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査型電子顕微鏡を用いた検査装置 - 特許庁
  • TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE WITH ENERGY FILTER
    エネルギーフィルタを備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁
  • DETECTOR SYSTEM FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過型電子顕微鏡用の検出器システム - 特許庁
  • IMPROVED ENVIRONMENTAL SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    改良された環境型走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • To favorably perform vibration resistance of an electron microscope.
    電子顕微鏡の除振を良好に行う。 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS PHOTOGRAPHING METHOD
    走査電子顕微鏡及びその撮像方法 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE WITH CAMERA FOR IMAGE OBSERVATION
    像観察用カメラを備える電子顕微鏡 - 特許庁
  • OBSERVATION METHOD BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過型電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁
  • OBSERVATION METHOD UNDER ELECTRON MICROSCOPE OF RESIN SAMPLE
    樹脂試料の電子顕微鏡観察方法 - 特許庁
  • SAMPLE CREATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過電子顕微鏡用試料作成方法 - 特許庁
  • SPHERICAL ABERRATION CORRECTION DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡の球面収差補正装置 - 特許庁
  • PLASMA GENERATOR AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    プラズマ発生装置及び走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • IMAGE OBSERVATION METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    像観察方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • OBSERVATION METHOD FOR SCANNING SECONDARY ELECTRON MICROSCOPE
    走査型２次電子顕微鏡の観察方法 - 特許庁
  • VARIABLE RATE SCANNING IN AN ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡における可変速度スキャニング - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DETECTING DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE
    半導体検出装置および電子顕微鏡 - 特許庁
  • CHARGED PARTICLE TUBE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    荷電粒子管および走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • As I say, every home should have a scanning electron microscope
    家には電子顕微鏡を置くべきです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • METHOD FOR ANALYSIS OF ELECTRON BEAM DIFFRACTION IMAGE AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE
    電子線回折像の解析方法及び透過型電子顕微鏡 - 特許庁
  • ELECTRON BEAM ENERGY SPECTRUM DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME
    電子線エネルギー分光装置及びそれを備えた電子顕微鏡 - 特許庁
  • METHOD FOR OBTAINING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USER FOR THE SAME
    走査電子顕微鏡画像を得る方法及びこれに用いられる走査電子顕微鏡装置 - 特許庁
  • PHASE PLATE FOR PHASE CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD THEREOF AND PHASE CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE
    位相差電子顕微鏡用位相板及びその製造方法並びに位相差電子顕微鏡 - 特許庁
  • DYEING AGENT FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, AND DYEING METHOD OF SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION
    電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法 - 特許庁
  • METHOD OF ANALYZING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過型電子顕微鏡用試料の解析方法および透過型電子顕微鏡用試料 - 特許庁
  • ELECTRODE RING, ELECTRON MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD OF ELECTRODE RING, AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE
    電極リング、電子顕微鏡、電極リングの製造方法及び電子顕微鏡の製造方法 - 特許庁
  • SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVING METHOD AND SAMPLING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡用試料ホルダおよび観察方法ならびに電子顕微鏡用試料作製装置 - 特許庁
  • TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND STEREOSCOPIC OBSERVING METHOD
    透過型電子顕微鏡及び立体観察法 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE, AND DIFFRACTION IMAGE OBSERVATION METHOD
    電子顕微鏡、および回折像観察方法 - 特許庁
  • FABRICATION OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁
  • To provide an electron microscope evaluation apparatus for properly evaluating the resolution of an electron microscope, and to provide an electron microscope.
    本発明は、電子顕微鏡の解像力を適正に評価する電子顕微鏡画像評価装置、及び電子顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE PHOTOGRAPHING METHOD
    走査電子顕微鏡及び試料撮影方法 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE, METHOD OF OPERATING ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE OPERATING PROGRAM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM AND RECORDED APPARATUS
    電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING PROGRAM OF ELECTRON MICROSCOPE AND RECORD MEDIUM READABLE WITH COMPUTER
    電子顕微鏡、電子顕微鏡の観察像記憶方法、電子顕微鏡の観察像記憶プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
  • TRANSMISSION TYPE AN SCAN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE
    透過型および走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁
  • SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過型電子顕微鏡の試料作製方法 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE FOR PERFORMING AUTOMATIC YOUNG'S FRINGE PHOTOGRAPHING
    自動ヤングフリンジ撮影を行う電子顕微鏡 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR EVALUATING ASTIGMATISM
    電子顕微鏡、及び非点収差評価方法 - 特許庁
  • CATHODE LUMINESCENCE MEASURING DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE
    カソードルミネッセンス測定装置及び電子顕微鏡 - 特許庁
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