「electron microscope」を含む例文一覧(1821)

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  • ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH ELECTRON BEAM BIPRISM DEVICE
    電子線バイプリズム装置を備えた電子顕微鏡 - 特許庁
  • ELECTRON EMITTING CATHODE, ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON BEAM EXPOSING MACHINE
    電子放射陰極、電子顕微鏡および電子ビーム露光機 - 特許庁
  • ELECTRON BEAM HOLOGRAM, METHOD OF PRODUCING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法及び透過電子顕微鏡 - 特許庁
  • REMOTE OPERATING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡遠隔操作装置 - 特許庁
  • REMOTE OPERATING SYSTEM FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡遠隔操作装置 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE AND TESTPIECE CHAMBER FITTED WITH ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡、及びそれに取り付けられる電子顕微鏡用試料室 - 特許庁
  • VACUUM CONTAINER AND ELECTRON MICROSCOPE
    真空容器および電子顕微鏡 - 特許庁
  • REMOTE OPERATING SYSTEM FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡遠隔操作システム - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD
    電子顕微鏡及び観察方法 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE STAGE
    電子顕微鏡および試料ステージ - 特許庁
  • APPARATUS FOR SIGHT COMPENSATION OF ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡の視野補正装置 - 特許庁
  • RAPID SUCCESSIVE SHOOTING ELECTRON MICROSCOPE
    高速連続撮影電子顕微鏡 - 特許庁
  • SCANNING CIRCUIT FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡の走査回路 - 特許庁
  • MAGNETIC FIELD APPLYING DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡の磁場印加装置 - 特許庁
  • SAMPLE HOLDER OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡の試料ホルダ - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE WITH ENERGY FILTER
    エネルギフィルタを備えた電子顕微鏡 - 特許庁
  • And under the scanning electron microscope
    走査型電子顕微鏡を使うと - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • BEDDING SPECIMEN FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE MEASURING METHOD, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE
    透過電子顕微鏡観測用下地試料、透過電子顕微鏡測定方法、および透過電子顕微鏡装置 - 特許庁
  • SCANNING PROBE MICROSCOPE EQUIPPED WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡を備えた走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁
  • FIELD-EMISSION ELECTRON GUN, ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM EXPOSURE APPARATUS
    電界放出型電子銃、電子顕微鏡、及び電子ビーム露光機 - 特許庁
  • ELECTRON BEAM IRRADIANCE LEVEL DISPLAY DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡の電子線照射量表示装置 - 特許庁
  • REFLECTION ELECTRON DETECTION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡等の反射電子検出装置 - 特許庁
  • FOCUSING SYSTEM OF ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡のフォーカス合わせ装置 - 特許庁
  • WAFER HOLDER AND ELECTRON MICROSCOPE DEVICE
    ウエハホルダおよび電子顕微鏡装置 - 特許庁
  • SAMPLE HOLDING MEMBER FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡用試料保持部材 - 特許庁
  • DIFFERENTIAL PUMPING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    差動排気走査形電子顕微鏡 - 特許庁
  • PRE-CRYOGENIC ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN HOLDER
    電子顕微鏡の予冷型試料台 - 特許庁
  • PROTECTIVE MATERIAL FOR SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡試料保護材料 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE DISPLAY METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡、および走査電子顕微鏡における像表示方法 - 特許庁
  • PHASE PLATE LENS SYSTEM FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過電子顕微鏡の位相板用レンズシステム、および透過電子顕微鏡 - 特許庁
  • DIFFERENTIAL CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF DATA PROCESSING OF ELECTRON MICROSCOPE IMAGE
    差分コントラスト電子顕微鏡および電子顕微鏡像のデータ処理方法 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DRIFT CORRECTION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡のドリフト補正方法 - 特許庁
  • REMOTE OPERATING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡の遠隔操作装置 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE AND REMOTE CONTROL DEVICE
    電子顕微鏡と遠隔操作装置 - 特許庁
  • VACUUM EXHAUSTION DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡の真空排気装置 - 特許庁
  • OBJECTIVE LENS SYSTEM AND ELECTRON MICROSCOPE
    対物レンズ系及び電子顕微鏡 - 特許庁
  • SHUTTER MECHANISM OF ANALYTIC ELECTRON MICROSCOPE
    分析電子顕微鏡のシャッタ機構 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE WITH ENERGY FILTER
    エネルギーフィルタを備えた電子顕微鏡 - 特許庁
  • IMAGE PROCESSING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡用画像処理装置 - 特許庁
  • FILAMENT ASSEMBLY FOR ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE
    電子顕微鏡等のフィラメントアセンブリ - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH MONOCHROMETER
    モノクロメータ付走査形電子顕微鏡 - 特許庁
  • SAMPLE MOVING DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡用試料移動装置 - 特許庁
  • SAMPLE REPLACEMENT MECHANISM OF ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡の試料交換機構 - 特許庁
  • IMAGE DISPLAY DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡用画像表示装置 - 特許庁
  • TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE OBSERVATION DEVICE
    透過電子顕微鏡像観察装置 - 特許庁
  • SAMPLE HEATING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡用試料加熱装置 - 特許庁
  • OBSERVING DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡用観察装置 - 特許庁
  • ANALYZING METHOD IN ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡における分析方法 - 特許庁
  • RETRIEVAL METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE IMAGE
    電子顕微鏡画像の検索方法 - 特許庁
  • SAMPLE STAGE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡用試料ステージ - 特許庁
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