「electron microscope」を含む例文一覧(1821)

＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 36 37 次へ＞
  • And these electron microscope pictures
    こうした電子顕微鏡の写真から - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • ELECTRON MICROSCOPE AND REMOTE OPERATION SYSTEM THEREOF
    電子顕微鏡と遠隔操作装置 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM PROBE MICROANALYZER
    走査型電子顕微鏡及び電子線プローブマイクロアナライザー - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGING METHOD USING ELECTRON BEAM
    電子顕微鏡及び電子線を用いた撮像方法 - 特許庁
  • ELECTRON BEAM ADJUSTMENT METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    電子ビーム調整方法、及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁
  • METHOD FOR IRRADIATING ELECTRON BEAM AND ELECTRON SCANNING MICROSCOPE
    電子ビームの照射方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • TWO-DIMENSIONAL ELECTRON DETECTOR AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE
    二次元電子検出器及び透過型電子顕微鏡 - 特許庁
  • ELECTRON BEAM IRRADIATION DEVICE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE
    電子線照射装置及び走査電子顕微鏡装置 - 特許庁
  • TRANSMISSION ELECTRON BEAM MICROSCOPE EQUIPPED WITH ELECTRON BEAM SPECTROMETER
    電子線分光器を備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁
  • TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE WHICH REDUCES ELECTRON BEAM DAMAGE
    電子線損傷を低減する透過型電子顕微鏡 - 特許庁
  • CROSS-SECTION OBSERVATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    断面観察用走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査形電子顕微鏡、および走査形電子顕微鏡を用いた撮像方法 - 特許庁
  • SAMPLE COOLING HOLDER OF ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡の試料冷却ホルダー - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND BRAKE MECHANISM
    電子顕微鏡装置およびブレーキ機構 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE OPERATION PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM
    電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING PROGRAM OF ELECTRON MICROSCOPE AND COMPUTER READABLE RECORD MEDIUM
    電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡の操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
  • HYSTERESIS CORRECTION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査型電子顕微鏡のヒステリシス補正方法、及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁
  • SAMPLE PREPARING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, MICRO VESSEL FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, AND ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION METHOD
    電子顕微鏡観察用試料作製方法、電子顕微鏡観察用微小容器及び電子顕微鏡観察方法。 - 特許庁
  • SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND TUNING METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    走査透過電子顕微鏡、および走査透過電子顕微鏡の調整方法 - 特許庁
  • SAMPLE FOR RESOLUTION EVALUATION OF ELECTRON MICROSCOPE, RESOLUTION EVALUATION METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, AND THE ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡の分解能評価用試料及び電子顕微鏡の分解能評価方法並びに電子顕微鏡 - 特許庁
  • SAMPLE PRODUCING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡用試料作製装置 - 特許庁
  • SAMPLE COATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡の試料コーティング方法 - 特許庁
  • X-RAY DETECTOR FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡用Ｘ線検出器 - 特許庁
  • ABERRATION CORRECTING DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE
    収差補正装置及び電子顕微鏡 - 特許庁
  • SAMPLE COOLING HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡用試料冷却ホルダ - 特許庁
  • BEAM SEPARATOR AND REFLECTION ELECTRON MICROSCOPE
    ビームセパレータ及び反射電子顕微鏡 - 特許庁
  • BEAM SEPARATOR AND REFLECTION ELECTRON MICROSCOPE
    ビームセパレータおよび反射電子顕微鏡 - 特許庁
  • FIELD EMISSION TYPE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    電界放射型走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SIMILAR DEVICE
    走査電子顕微鏡および類似装置 - 特許庁
  • SAMPLE HOLDER OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過型電子顕微鏡の試料ホルダー - 特許庁
  • SAMPLE COOLING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡の試料冷却装置 - 特許庁
  • PHOTOGRAPHING DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過型電子顕微鏡の撮影装置 - 特許庁
  • ANALYZER AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    分析装置および透過電子顕微鏡 - 特許庁
  • METHOD FOR CALIBRATING ELECTRON MICROSCOPE, AND STANDARD SAMPLE FOR CALIBRATING THE ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡の校正方法及び電子顕微鏡校正用標準試料 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH FUNCTION OF X-RAY MICROSCOPE
    Ｘ線顕微鏡の機能を備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • COMPOUND MICROSCOPE OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE
    透過型電子顕微鏡と近接場光学顕微鏡の複合型顕微鏡 - 特許庁
  • METHOD OF MANUFACTURING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡用試料作製方法 - 特許庁
  • DEFECTIVE REVIEWING DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE
    欠陥レビュー装置および電子顕微鏡 - 特許庁
  • DEFOCUSING AMOUNT MEASURING METHOD OF TEM (TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE)
    ＴＥＭのデフォーカス量測定方法 - 特許庁
  • MICROSCOPE WITH ELECTRON BEAM FOR ILLUMINATION
    照射用電子線を有する顕微鏡 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH ELECTRONIC SPECTROMETER
    電子分光器を備えた電子顕微鏡 - 特許庁
  • IMAGE DISPLAY METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡の像表示方法 - 特許庁
  • IMAGING DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE
    透過電子顕微鏡像の撮像装置 - 特許庁
  • DISTORTION CORRECTION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡の歪み補正装置 - 特許庁
  • ANALYTICAL METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡による分析方法 - 特許庁
  • ALIGNMENT DEVICE OF TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE
    透過型電子顕微鏡のアライメント装置 - 特許庁
  • PATTERN MEASUREMENT METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE
    パターン測定方法、及び電子顕微鏡 - 特許庁
  • MAGNETIC FIELD OBJECTIVE LENS FOR ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡用磁界型対物レンズ - 特許庁
  • OBJECTIVE LENS FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND THE LIKE
    走査電子顕微鏡等の対物レンズ - 特許庁
  • CALIBRATION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査型電子顕微鏡の校正方法 - 特許庁
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 36 37 次へ＞

例文データの著作権について