「electron microscope」を含む例文一覧(1821)
＜前へ 1 2 .... 8 9 10 11 12 13 14 15 16 .... 36 37 次へ＞- To provide a semi-hermetically sealed observation environment for an electron microscope, which is applicable for electron microscope observation of a general test piece or a living cell and an electron microscope observation of high resolution.
一般の試料または生体細胞の電子顕微鏡観察に適用でき、高解像度の電子顕微鏡の観測に適用できる電子顕微鏡用の半密閉式観測環境を提供する。 - 特許庁 - The invention describes the method for electron diffraction tomography in a transmission electron microscope.
当該発明は、透過電子顕微鏡における電子回折断層撮影のための方法を記載する。 - 特許庁 - RADIATION ELECTRON MICROSCOPE FOR INSULATOR SAMPLE OBSERVATION USING DIAGONALLY IRRADIATING METHOD OF CHARGED NEUTRALIZATION ELECTRON
帯電中和電子の斜め照射法を用いた絶縁物試料観察用放射電子顕微鏡 - 特許庁 - ILLUMINANT, AND ELECTRON BEAM DETECTOR, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MASS SPECTROMETER USING THE SAME
発光体と、これを用いた電子線検出器、走査型電子顕微鏡及び質量分析装置 - 特許庁 - IRIS DEVICE TO BE USED FOR ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING IRIS DEVICE
電子顕微鏡に用いる絞り装置及びその製造方法 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR CROSS-SECTIONAL OBSERVATION BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡による断面観察用サンプルの作製方法 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING THIN-FILM SAMPLE FOR OBSERVING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料の作製方法 - 特許庁 - MAGNETIC DOMAIN STRUCTURAL IMAGE ACQUISITION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
磁区構造画像取得方法および走査透過電子顕微鏡 - 特許庁 - PRELIMINARY EXHAUST METHOD AND PRELIMINARY EXHAUST ROOM IN ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPE
分析電子顕微鏡における予備排気方法及び予備排気室 - 特許庁 - LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS METHOD FOR EXCHANGE OF TEST PIECE
低真空走査電子顕微鏡及びその試料交換方法 - 特許庁 - DEVICE FOR PUTTING ON GRID ULTRA-THINLY SLICED PIECE OF SPECIMEN FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡試料の超薄切片をグリッドに載せる用具。 - 特許庁 - SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE WITH EXTERNAL AC MAGNETIC FIELD CANCELLATION MECHANISM
外部交流磁場キャンセル機構を有した走査形電子顕微鏡 - 特許庁 - TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR OBSERVING IMAGE THEREOF
透過形電子顕微鏡及び透過電子顕微鏡像観察方法 - 特許庁 - IMAGE ADJUSTING METHOD AND DEVICE OF A PLURALITY OF SIGNALS IN ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡における複数信号の画像調整法と装置 - 特許庁 - SCAN ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND IMAGE OBTAINING METHOD USING THE SAME
走査電子顕微鏡装置及びそれを用いた画像取得方法 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING MEASUREMENT TARGET PATTERN USING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE
電子顕微鏡装置を用いた計測対象パターンの計測方法 - 特許庁 - MAGNETIC MATERIAL SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION
磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法 - 特許庁 - To provide an electron microscope with an improved observation property and operability.
電子顕微鏡における観察性及び操作性を向上させる。 - 特許庁 - PHASE PLATE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE
位相板及びその製造方法、並びに位相差電子顕微鏡 - 特許庁 - To enhance the image quality of an image photographed by scanning electron microscope.
走査型電子顕微鏡の撮像画像の画質を向上させる。 - 特許庁 - To provide a direct imaging electron microscope with small aberrations.
収差の小さい直接写像型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - SAMPLE STAND FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS ANGLE ADJUSTING METHOD
走査電子顕微鏡用試料台およびその角度調整方法 - 特許庁 - The chamber (34) is suitable for use with the scanning electron microscope.
走査型電子顕微鏡と共に使用するのに適したチャンバ（３４）。 - 特許庁 - METHOD OF SETTING EXPOSURE TIME AND IRRADIATION CONDITION OF ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の露光時間及び照射条件の設定方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECTIVE POSITION ANALYSIS METHOD USING IT
走査型電子顕微鏡およびそれによる欠陥部位解析方法 - 特許庁 - PARTICLE OPTICAL DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND ELECTRONIC LITHOGRAPHY SYSTEM
粒子光学装置、電子顕微鏡システムおよび電子リソグラフィーシステム - 特許庁 - IMAGE LUMINANCE ADJUSTMENT METHOD AND SYSTEM IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過電子顕微鏡における画像の輝度調整方法及びシステム - 特許庁 - SAMPLE HOLDER, SAMPLE TABLE AND SAMPLE TABLE FIXTURE FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の試料ホルダー、試料台および試料台用治具 - 特許庁 - SAMPLE FOR TUNING OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD
走査型電子顕微鏡調整用試料及びその製造方法 - 特許庁 - TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH PHASE PLATE AND LENS SYSTEM FOR PHASE PLATE
位相板と位相板用レンズ系を備えた透過電子顕微鏡 - 特許庁 - SPECIMEN FREEZING METHOD, COOLING HOLDER AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
試料凍結方法および冷却ホルダ並びに走査電子顕微鏡 - 特許庁 - The electron microscope is logged on a computer 44 for each operating user.
電子顕微鏡を操作するユーザごとにコンピュータ４４にログオンする。 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND PATTERN DIMENSION MEASURING METHOD USING IT
電子顕微鏡システム及びそれを用いたパターン寸法計測方法 - 特許庁 - MEASURING METHOD FOR LINE-AND-SPACE PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡を用いたライン・アンド・スペースパターンの測定方法 - 特許庁 - IMAGE PROCESSOR AND PROCESSING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
画像処理装置、画像処理方法および走査型電子顕微鏡 - 特許庁 - SIGNAL DETECTION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS DISPLAY DEVICE
走査電子顕微鏡の信号検出装置およびその表示装置 - 特許庁 - OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION EQUIPMENT BY SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置 - 特許庁 - In the first chapter, the different types of electron microscope are compared.
最初の章では、異なるタイプの電子顕微鏡が比較される。 - 科学技術論文動詞集 - DEVICE AND METHOD FOR MOVING SAMPLE IN ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE
電子顕微鏡等の試料移動装置及び試料移動方法 - 特許庁 - Thus, once a sample cooling holder is attached to an electron microscope, the sample stage of the electron microscope can be positioned.
これにより、電子顕微鏡に試料冷却ホルダーを一度取り付けれるだけで電子顕微鏡の試料台の位置決めが可能になる。 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ITS MAINTENANCE/MANAGEMENT PROGRAM, MAINTENANCE/MANAGEMENT METHOD, AND RESOURCE ALLOCATION METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM
走査型電子顕微鏡、その保守・管理プログラム、保守・管理方法および走査型電子顕微鏡システムにおける資源割り当て方法 - 特許庁 - PATTERN DIMENSION MEASUREMENT METHOD USING ELECTRON MICROSCOPE, PATTERN DIMENSION MEASUREMENT SYSTEM AND MONITORING METHOD OF SECULAR CHANGE OF ELECTRON MICROSCOPE DEVICE
電子顕微鏡を用いたパターン寸法計測方法、パターン寸法計測システム並びに電子顕微鏡装置の経時変化のモニタ方法 - 特許庁 - To clear an observation image of a sample for transmission type electron microscope observation at a specific position to be observed by the transmission type electron microscope.
透過型電子顕微鏡で観察したい特定箇所の透過型電子顕微鏡観察用試料の観察像を鮮明にする。 - 特許庁 - To selectively detect a secondary electron signal and a reflected electron signal regarding a secondary electron-reflected electron detecting device and a scanning electron microscope having the secondary electron-reflected electron detecting device.
本発明は２次電子・反射電子検出装置及び２次電子・反射電子検出装置を有する走査電子顕微鏡に関し、２次電子信号と反射電子信号を選択的に検出することを目的としている。 - 特許庁 - The electron microscope has: a specimen stage for making a specimen incline; a camera for taking an electron microscope image of the specimen; a monitor for displaying the electron microscope image of the specimen; and a domain means for calculating a domain in which the electron microscope image does not become blurred, wherein the monitor displays the domain in which the electron microscope image does not become blurred.
本発明によると、電子顕微鏡は、試料を傾斜させる試料ステージと、試料の電子顕微鏡像を撮影するカメラと、試料の電子顕微鏡像を表示するモニタと、試料の傾斜角に基づいてボケがない領域を計算する領域手段と、を有し、上記モニタに上記ボケがない領域を表示する。 - 特許庁 - To provide a field-emission electron gun which can control the deterioration of electron emission characteristics and is low cost, and to provide an electron microscope and an electron beam exposure apparatus.
電子放出特性の劣化を抑制可能であり、低コストな電界放出型電子銃、電子顕微鏡、及び電子ビーム露光機を提供する。 - 特許庁 - The scanning electron microscope 1 is provided with electron guns 3A, 3B, and electron beam B_1 emitted from the electron gun 3A has a higher energy than the electron beam B_2 emitted from the electron gun 3B.
走査型電子顕微鏡１は電子銃３Ａ，３Ｂを備え、電子銃３Ａから放出される電子ビームＢ_１は、電子銃３Ｂから放出される電子ビームＢ_２よりも高いエネルギーを有している。 - 特許庁 - An electron beam irradiation surface 13a is used for detecting a focusing state of an electron beam B of a scanning electron microscope 1.
走査電子顕微鏡１の電子ビームＢの集束状態を検出するために電子ビーム照射面１３ａを使用する。 - 特許庁 - To provide an electron microscope in which an electron energy loss spectroscopic (EELS) profile can be obtained regardless of an electron beam irradiation position on a sample.
試料上での電子線照射位置に関係なくＥＥＬＳプロファイルを得ることができる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an electron microscope capable of specifying constituents of a sample.
試料の構成物質を特定可能な電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
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