「electron microscope」を含む例文一覧(1821)

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  • SAMPLE CONVEYING MECHANISM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING THE SAME
    試料搬送機構、及び試料搬送機構を備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR PREPARING MINUTE OBJECT IN ELECTRON MICROSCOPE DEVICE
    電子顕微鏡装置内における微小物作成方法及びその装置 - 特許庁
  • OBSERVATION METHOD FOR SAMPLE BY USE OF SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE
    走査型電子顕微鏡を用いた試料の観察方法及びその装置 - 特許庁
  • SAMPLE-MANUFACTURING METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND CONVERGENT ION BEAM DEVICE
    透過型電子顕微鏡の試料作製方法および集束イオンビーム装置 - 特許庁
  • MULTIPLE CHARGED PARTICLE DETECTOR, AND SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    多重荷電粒子検出器、及びそれを用いた走査透過電子顕微鏡 - 特許庁
  • ABERRATION CORRECTION DEVICE AND ABERRATION CORRECTION METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    走査型透過電子顕微鏡の収差補正装置及び収差補正方法 - 特許庁
  • ELECTRON LENS ADJUSTMENT STANDARD FOR PHOTOELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF PRODUCING THE SAME
    光電子顕微鏡の電子レンズ調整標準及びその製造方法 - 特許庁
  • METHOD OF OBSERVATION OF SAMPLE FLOATING ON LIQUID SURFACE UNDER SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    液体の表面を浮遊する試料の走査電子顕微鏡観察方法 - 特許庁
  • METAL THIN FILM FORMING METHOD FOR MICROSCOPIC OBSERVATION SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査型電子顕微鏡用検鏡試料の金属薄膜成膜方法 - 特許庁
  • This scanning electron microscope provided with a sample transfer device.
    試料移送装置を備えた走査電子顕微鏡を例にとって説明する。 - 特許庁
  • CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD
    荷電粒子ビーム装置、走査型電子顕微鏡、及び試料観察方法 - 特許庁
  • METHOD AND SYSTEM FOR OBSERVING SAMPLE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査型電子顕微鏡を用いた試料の観察方法およびそのシステム - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE-PROCESSING METHOD THEREFOR
    走査電子顕微鏡、および、走査電子顕微鏡における画像処理方法 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, EVALUATION POINT GENERATION METHOD, AND PROGRAM
    走査型電子顕微鏡装置、及び評価ポイント生成方法、並びにプログラム - 特許庁
  • IMPROVEMENT OF CHARGE TRAP IN SAMPE INSPECTION USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡を用いた試料検査における電荷トラップの改善 - 特許庁
  • That every home really ought to have a scanning electron microscope.
    全ての家庭が電子顕微鏡を持つべきだと分かっていただくことです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • An electron interference microscope images both the specimen and an interference pattern.
    電子干渉顕微鏡は、試料と干渉パターンの両方を結像する。 - 科学技術論文動詞集
  • This electron microscope was manufactured in the late 1990s and is still used.
    この電子顕微鏡は、1990年代後期に製造され、今なお使われている。 - 科学技術論文動詞集
  • To provide a method for preparing a sample for electron microscope observation capable of readily performing observation, using an electron microscope with a relatively simple work.
    比較的簡易な作業にて、電子顕微鏡で容易に観察することができる電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供することにある。 - 特許庁
  • To provide a chamber suitable for use with a scanning electron microscope useful for allowing wet samples to be viewed under an electron microscope.
    湿潤サンプルの電子顕微鏡検査を可能にすることになる、走査型電子顕微鏡と共に使用するように適合されたチャンバを提供する。 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE, METHOD AND PROGRAM FOR DETERMINING OBJECTIVE LENS APERTURE OF ELECTRON MICROSCOPE, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM
    電子顕微鏡、電子顕微鏡の対物レンズ絞り判別方法、電子顕微鏡の対物レンズ絞り判別プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
  • When a sample 5 processed by an FIB apparatus is inserted into a body tube of the electron microscope, the microscope is automatically set into a scanning secondary electron image acquisition mode.
    ＦＩＢ装置で加工された試料５は、電子顕微鏡鏡筒内に挿入されると、装置は走査２次電子像取得モードに自動的に設定される。 - 特許庁
  • To provide a phase plate and a method of manufacturing the same, and a phase difference electron microscope capable of acquiring a stable, high-resolution phase difference electron microscope image.
    安定で、かつ高分解能の位相差電子顕微鏡像の取得が可能な位相板及びその製造方法、並びに位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide a sample cooling holder such that once the sample cooling holder is attached to an electron microscope, the sample stage of the electron microscope can be positioned.
    電子顕微鏡に試料冷却ホルダーを一度取り付けれるだけで電子顕微鏡の試料台の位置決めを可能にする試料冷却ホルダーを提供する。 - 特許庁
  • To provide an electron gun capable of obtaining an electron beam with high luminance and high stability used for an electron beam and an electron beam apparatus or a vacuum tube, especially, electronic optical apparatuses such as an electron microscope and an electron beam drawing apparatus.
    電子線及び電子ビーム機器や真空管、特に、電子顕微鏡や電子ビーム描画装置等の電子光学機器に使用される、高輝度高安定性を有する電子ビームが得られる電子銃を提供する。 - 特許庁
  • To provide an imaging device for a transmission electron microscope image, using a CCDTV camera, having a wide visual field, and providing a high resolution transmission electron microscope image corresponding to the spatial resolution of an existing transmission electron microscope.
    ＣＣＤＴＶカメラを用いて、広い視野であって、現存の透過電子顕微鏡の空間分解能に対応した高分解能の透過電子顕微鏡像を得ることができる透過電子顕微鏡の撮像装置を実現する。 - 特許庁
  • To provide a sample inspection device in which a sample is inspected by using a scanning electron microscope which irradiates electron beams.
    電子ビームを照射する走査電子顕微鏡を用いて試料を検査する試料検査装置を提供する。 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPY, AND ELECTRON MICROSCOPE, BIOLOGICAL SAMPLE INSPECTING METHOD AND BIOLOGICAL INSPECTING DEVICE USING THE SAME
    電子顕微方法及びそれを用いた電子顕微鏡並び生体試料検査方法及び生体検査装置 - 特許庁
  • ENERGY DISPERSION TYPE X-RAY DETECTION DEVICE, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME AND ELECTRON BEAM MICRO ANALYZER
    エネルギー分散型Ｘ線検出装置及びこれを用いた走査型電子顕微鏡及び電子線マイクロアナライザー - 特許庁
  • TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS HAVING ELECTRON SPECTROSCOPE, SAMPLE HOLDER, SAMPLE STAGE, AND METHOD FOR ACQUIRING SPECTRAL IMAGE
    電子分光器を有する透過型電子顕微鏡装置，試料ホルダ，試料台及びスペクトル像の取得方法 - 特許庁
  • To further improve resolution of a spherical aberration correction electron microscope by building electron beam having a small energy width.
    エネルギー幅の小さい電子ビームを造り、球面収差補正電子顕微鏡の分解能を更に向上させる。 - 特許庁
  • In this state, electron beam is irradiated on the sample on the holder 5 and observation of the scanning electron microscope is made.
    この状態でホルダ５上の試料に電子ビームを照射し、走査電子顕微鏡像の観察を行う。 - 特許庁
  • To provide a compact transmission electron microscope allowing a fluorescent plate to be disposed on an optical axis of an electron beam and to be retreated from the electron beam optical axis.
    蛍光板を電子線光軸上に配置および電子線光軸上から退避できるコンパクトな透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To identify a cell to be observed using an electron microscope among floating cells in a liquid, by using an optical microscope, and observe the identified cell in detail by using the electron microscope.
    液体中に浮遊している浮遊細胞の中から、電子顕微鏡の観察対象とすべき細胞を、光学顕微鏡を用いて特定し、その特定した細胞を電子顕微鏡で詳細に観察する。 - 特許庁
  • SAMPLE PREPARING DEVICE FOR OBSERVING THREE-DIMENSIONAL STRUCTURE, ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD THEREOF
    ３次元構造観察用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法 - 特許庁
  • To provide an electron microscope with which the field-of-view of an observation image can be moved smoothly.
    観察像の視野移動をスムーズに行える電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • In addition, a change in the electron microscope such as addition of an external power supply is not required.
    さらに、外部電源追加など電子顕微鏡への変更は不要となる。 - 特許庁
  • The sample for tuning of the scanning electron microscope is provided with a plurality of protrusions.
    走査型電子顕微鏡調整用試料は、複数の突起部を有する。 - 特許庁
  • To simplify a mounting work of a cover part on an electron microscope.
    電子顕微鏡へのカバー部の取り付け作業を簡略化できるようにする。 - 特許庁
  • METHOD OF MANUFACTURING THIN SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD OF THE SAMPLE
    電子顕微鏡用薄片試料の作製方法とこの試料の観察方法 - 特許庁
  • MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVATION METHOD AND STRUCTURE
    透過型電子顕微鏡用の試料の作製方法、観察方法及び構造 - 特許庁
  • To improve a stage-link precision between CAD (Computer Assisted Drawing) data and the electron microscope stage.
    ＣＡＤデータと電子顕微鏡ステージのステージリンク精度を向上させる。 - 特許庁
  • SAMPLE HOLDER AND SAMPLE MOVER USING THE SAME AS WELL AS ELECTRON MICROSCOPE
    試料ホルダおよびそれが使用された試料移動装置並びに電子顕微鏡 - 特許庁
  • To improve dimensional inspection accuracy and reproducibility of a scanning electron microscope.
    走査型電子顕微鏡の寸法検査精度及び再現性を向上させる。 - 特許庁
  • VIBRATION ISOLATING COUPLING HAVING ELASTOMER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND THE LIKE
    走査電子顕微鏡等のためのエラストマー隔膜を有する振動絶縁カップリング - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR PRETREATING SAMPLE FOR OBSERVATION THROUGH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査電子顕微鏡観察用試料の前処理装置及び前処理方法 - 特許庁
  • THREE-DIMENSIONAL STRUCTURE OBSERVATION SAMPLE FORMATION DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS METHOD
    ３次元構造観察用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法 - 特許庁
  • PREPARATION METHOD AND PREPARATION DEVICE FOR SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION
    透過型電子顕微鏡観察用試料の作製方法および作製装置 - 特許庁
  • To provide a scanning electron microscope by which the optimum image contrast can be obtained.
    最適な画像コントラストが得られる走査形電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE DISPLAY METHOD USING THE SAME
    走査型電子顕微鏡装置およびこれを用いた三次元画像表示方法 - 特許庁
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