「electron microscope」を含む例文一覧(1821)
＜前へ 1 2 .... 13 14 15 16 17 18 19 20 21 .... 36 37 次へ＞- ANIMATION FUNCTION USING THREE-DIMENSIONAL COMPUTER GRAPHICS ON SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR SIMILAR EQUIPMENT
走査形電子顕微鏡あるいは類似装置における三次元ＣＧ（ＣｏｍｐｕｔｅｒＧｒａｐｈｉｃｓ）を用いたアニメーション機能 - 特許庁 - DEFLECTION MECHANISM OF CHARGED PARTICLE BEAM, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
荷電粒子ビームの偏向機構及び荷電粒子ビーム装置並びに走査電子顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE CASE FOR ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED FOR OBSERVATION OF GENERAL SAMPLE/LIVING CELL
一般試料／生体細胞の観測のために提供される電子顕微鏡用試料ケース - 特許庁 - With the use of the scanning electron microscope of such a structure, a sample image is obtained.
このような構造を有する走査型電子顕微鏡を用いて、試料像を得る。 - 特許庁 - A surface of the first sample T is observed by an electron microscope (step S14).
前記第１試料Ｔの表面を電子顕微鏡によって観察する（ステップＳ１４）。 - 特許庁 - IMAGE PROCESSING METHOD AND PROGRAM FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION IMAGE AND RECORDING MEDIUM
電子顕微鏡観察像の画像処理方法および画像処理プログラム並びに記録媒体 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR QUANTITATIVE THREE DIMENSIONAL RECONSTRUCTION IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡における定量的３次元再構成のための方法および装置 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE, CONTROL METHOD OF THE SAME, AND METHOD FOR OBTAINING DIFFRACTION PATTERN
電子顕微鏡及び電子顕微鏡の制御方法並びに回折パターン取得方法 - 特許庁 - METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE, CONVERGED ION BEAM DEVICE AND A SAMPLE SUPPORT STAND
電子顕微鏡用試料作製方法、集束イオンビーム装置および試料支持台 - 特許庁 - An EBSD pattern is firstly generated from a sample placed within an electron microscope.
最初に、ＥＢＳＤパターンが、電子顕微鏡内に配置された試料から生成される。 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND FILM THICKNESS REDUCTION AMOUNT EVALUATION METHOD OF RESIST PATTERN USING IT
電子顕微鏡システム及びそれを用いたレジストパターンの膜厚減少量評価方法 - 特許庁 - The scanning electron microscope is provided with a charge collecting unit to arrest a charge generated in the sample by electron beams irradiated by the scanning electron microscope, and a cost for inspecting the sample can be reduced and a high quality image can be provided.
走査電子顕微鏡から照射される電子ビームによって試料に発生する電荷を捕集する電荷捕集部を備えることによって、試料検査へのコストを低減し、かつ、高品質の映像を提供する。 - 特許庁 - On the basis of the focusing position information, the electron microscope body control part 30 controls each part of an electron microscope body, so as to irradiate electron beams focused on the focusing position.
そして、電子顕微鏡本体制御部３０は当該焦点合わせ位置情報に基づいて、電子線を当該焦点合わせ位置に集束して照射するように電子顕微鏡本体の各部を制御する。 - 特許庁 - To provide a mask for rapidly searching and observing the specific region of a sample, which is observed by an optical microscope, by an existing electron microscope even if a device which incorporates the optical microscope in the electron microscope is not used, and also to provide a sample analyzing method using it.
電子顕微鏡内部に光学顕微鏡を組み込んだ装置を用いなくても既存の電子顕微鏡で、光学顕微鏡で観察した試料の特定部位を迅速に探索・観察することが可能なマスク及びそれを用いた方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a position determination method capable of easily determining the position of a measuring object in electron microscope observation from position information or the like of the measuring object acquired by observation by a first microscope such as an optical microscope, a phase contrast microscope, a differential interference microscope or a polarization microscope.
光学顕微鏡、位相差顕微鏡、微分干渉顕微鏡または偏光顕微鏡等の第１の顕微鏡で観察した測定対象物の位置情報等から電子顕微鏡観察における測定対象物の位置を簡単に求めることができる位置決定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a transmission electron microscope capable of accurately focusing even a crystalline sample by an electron ray tilting method.
結晶性の試料に対しても、電子線傾斜法による焦点合わせを正確に行える透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an electron microscope with which even an unskilled person can simply make an astigmatic correction and an axis alignment of electron beams.
熟練者でなくとも簡単に非点補正や電子ビームの軸合わせを行なうことができる電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁 - To acquire a distinct observation image by enhancing the field intensity of the electron source of an electron microscope.
本発明の目的は、電子顕微鏡の電子源の電界強度を向上させ、取得する観察画像を鮮明とすることにある。 - 特許庁 - To provide an electron gun for an electron microscope, an electronic drawing apparatus and the like, which is small and can maintain high vacuum.
電子顕微鏡、電子描画装置等の電子銃において、小型で高真空維持が達成可能な電子銃を提供する。 - 特許庁 - To make the shape observation and dimension inspection of very fine pattern possible in an electron beam inspection device of a scanning electron microscope for example.
走査形電子顕微鏡などの電子ビーム検査装置において、微細なパターンの形状観察や寸法検査を可能とする。 - 特許庁 - INCIDENT AXIS ADJUSTING METHOD OF SCATTERED ELECTRON BEAM AGAINST ANNULAR DARK FIELD SCANNING IMAGE DETECTOR, AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡 - 特許庁 - The restriction of the reflected electron beam using the restriction diaphragm 14 improves the contrast of a mirror electron microscope image.
この制限絞り１４を用いて反射電子線を制限することにより、ミラー電子顕微鏡像のコントラストを改善させる。 - 特許庁 - To switch various magnifications or illuminating methods rapidly and simply when an electron microscope and an optical microscope are jointly used.
電子顕微鏡及び光学的顕微鏡の併用に際し種々の倍率又は照射方法を迅速かつ単純に切り替えること。 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope that can greatly reduce vibration of the image due to the mechanical vibration of the microscope body tube and the stage.
鏡筒とステージの機械的な振動による像の振動を著しく軽減することができる走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁 - To simplify the processes including the collection and molding of a sample piece for a transmission electron microscope(TEM) or scanning electron microscope(SEM) observation from an original sample and the installation of an observation holder and to consistently conduct the processes in a sample processing chamber.
元試料から、TEMまたはSEM観察のための試料片の採取、成形および観察ホルダ設置までの工程を簡素化し、試料処理室において一貫して行なう。 - 特許庁 - To provide a simple, convenient, and downsized integrated high-performance electron microscope in which function as a scanning electron microscope and function of detection of vacuum ultraviolet light emission are made compatible.
走査電子顕微鏡としての機能と真空紫外発光検出の機能を両立させた、簡便で小型化された一体型の高性能の電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a compact electron microscope with a shield cover, which includes a table surface usable as both a work table and an observation table without inhibiting the performance or handling property of the electron microscope.
電子顕微鏡の性能や取扱性を阻害することなく作業台や観察台を兼用し得るテーブル面を備えたコンパクトなシールドカバー付きの電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - FREEZE-DRYING DEVICE, FREEZE-DRYING METHOD FOR SAMPLE, DEVICE FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE INCLUDING FREEZE-DRYING DEVICE AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE
凍結乾燥装置および試料の凍結乾燥方法、ならびに凍結乾燥装置を有する電子顕微鏡用試料作製装置および電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a transmission electron microscope grid, and a method of manufacturing a graphene sheet-carbon nanotube film composite structure to be used for the transmission electron microscope grid.
本発明は、透過型電子顕微鏡グリッドの製造方法、及び該透過型電子顕微鏡グリッドに用いられるグラフェンシート−カーボンナノチューブフィルム複合構造体の製造方法。 - 特許庁 - To provide a compact scanning electron microscope and a method for switching the objective lens usage of the scanning electron microscope, enabling a usage change of the objective lens in a short time.
小型で、短時間で対物レンズの用途切替ができる走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To solve a problem in which an electron beam holography observation using a transmission type electron microscope has a complicated condition search of an electron optical system for achieving a required space resolution, and takes a long time for a person who is not familiar with the operation of an electron microscope.
透過型電子顕微鏡を用いた電子線ホログラフィ観察は、要求する空間分解能を実現させるための電子光学系の条件探索が複雑であり、電子顕微鏡の操作に不慣れな者にとっては長時間を費やす作業である。 - 特許庁 - To provide a mapping type electron microscope composed by relaxing restriction of a condition of a projection electron optical system to design of an illumination electron optical system to increase the degree of freedom of design of the illumination electron optical system.
投影電子光学系の条件が照明電子光学系の設計の制約となることを緩和し、照明電子光学系の設計の自由度を増した写像型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The invention is characterized by constituting the electron gun, the electron microscope and the electron beam drawing device by using each electron beam emission element.
また、先端部に閉構造領域を有するカーボンナノチューブであって、閉構造領域に存在する五員環を頂点とする頂角を７０°以上のものを用いて電子線放出素子とすることを特徴とする。 - 特許庁 - To provide a TTL-mode scanning electron microscope capable of giving high resolution to a secondary electron image and effectively providing a reflected electron image with good contrast.
二次電子像での高分解能化が可能であり、かつＴＴＬ方式の走査型電子顕微鏡にてコントラストの良い反射電子像を効果的に得ることが課題である。 - 特許庁 - The processing progress is monitored by running the electron beam, and detecting secondary electrons generated from the object by a secondary electron detector to acquire an electron microscope image.
また、電子ビームを走査させ、物体から発生した二次電子を二次電子検出器で検出し電子顕微鏡画像を取得して、加工の進行状況をモニタリングする。 - 特許庁 - The electron microscope performs adjustment and deletion of phase differences due to differences of electron beam paths, generated at focusing or image formation of the electron beams by a lens.
本発明は、電子線をレンズにより収束もしくは結像する際に生じる、電子線経路の差により生じる位相差を調整し、その差をなくすことに関する。 - 特許庁 - A scanning electron microscope 10 generates a microscopic image by emitting electron beams from an electron gun to a sample, and detecting secondary electrons generated from the sample.
走査電子顕微鏡１０は、電子銃から電子線を試料に照射し、試料から発生した二次電子を検出することによって顕微鏡画像を生成する。 - 特許庁 - The surface of the sample is shaven off by ion milling and the scanning image by the scanning electron microscope is observed while the surface of the sample is removed by chemical etching and the scanning image by the scanning electron microscope is again observed to prepare the sample for the scanning electron microscope.
イオンミリングによって試料の表面を削り取り、走査電子顕微鏡による走査像を観察し、ケミカルエッチングによって試料の表面を除去し、再度、走査電子顕微鏡による走査像を観察することによって、走査顕微鏡用の試料を作製する。 - 特許庁 - To provide a test piece carrier for a transmission type electron microscope and its manufacturing method, a test piece for the transmission type electron microscope and its manufacturing method, as well as observation and crystal structure analysis methods using the test piece for the transmission type electron microscope, wherein observation using the transmission type electron microscope can obtain observation data of an object to be observed in various directions.
透過型電子顕微鏡を用いた観測により、種々の方向における観測対象物の観測データを取得することが可能な、透過型電子顕微鏡用試料保持体およびその製造方法、透過型電子顕微鏡用試料およびその製造方法、並びに、透過型電子顕微鏡用試料を用いた観測方法および結晶構造解析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample holder and an electron microscope, capable of improving resolution in acquiring an image when an scanning transmission electron image of a sample is acquired by using a general objective lens of the scanning electron microscope.
走査電子顕微鏡における一般的な対物レンズを用いて試料の走査透過電子像を取得する際に、像取得時での分解能を向上させることのできる試料ホルダ及び電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - On a sample holder 20 for an electron microscope, the electron beam that transmits through a sample S supported by a grid 28 and passes through an aperture member 31 with a main body portion 21 attached to a sample stand of a scanning electron microscope is irradiated on a secondary electron generating surface 32, resulting in a secondary electron being generated from the secondary electron generating surface 32.
電子顕微鏡用試料ホルダ２０においては、走査型電子顕微鏡の試料台に本体部２１が取り付けられた状態で、グリッド２８によって支持された試料Ｓを透過し且つ絞り部材３１を通過した電子線が２次電子発生面３２に照射され、それにより、２次電子発生面３２から２次電子が発生させられる。 - 特許庁 - To increase the number and density of primary electron beamlet spots formed at a time while maintaining a desired image forming resolution of an electron microscope device.
電子顕微鏡装置の所望の結像解像度を維持しながら、一度に形成される一次電子ビームスポットの数や、密度を高める。 - 特許庁 - To provide a transmission electron microscope capable of finding an observation area of an electron beam diffraction image without overlapping and omission.
電子線回折像の観察領域を重複及び欠落なしに、見つけ出すことができる透過型電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To realize a scanning electron microscope, in which secondary electrons can be detected even under a low vacuum, and an observation of a secondary electron image can be performed.
低真空下でも２次電子を検出でき、２次電子像の観察を行うことができる走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁 - To provide an electron microscope capable of creating secondary electrons and transparent electron images that are not affected by the structure in the interior of thin film samples.
薄膜試料内部の構造の影響を受けない２次電子および透過電子像の構成できる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - MEASUREMENT METHOD AND CORRECTION METHOD OF THE DEVIATION OF ELECTRON BEAM SCANNING AXIS WITH STAGE MOVING AXIS AND STAGE MOVING ERROR IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡における電子ビーム走査軸とステージ移動軸のずれ及びステージの移動誤差の測定方法及び補正方法。 - 特許庁 - A safety function is provided when the microscope is changed from the state of observation of transmission electron enlarged image into an observation of an electron diffraction image.
透過電子拡大像を観察している状態から電子回折像の観察への切換時には、安全機能が備えられている。 - 特許庁 - To enable to easily and correctly measure the length of a testpiece from its image on a transmission electron microscope.
透過型電子顕微鏡の画像上で試料の長さを簡単かつ正確に測定する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a non-deteriorated good observation sample for a transmission electron microscope.
変質のない良好な透過電子顕微鏡用観察試料の作成方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an electron microscope or the like in which a maintenance work and a readjustment work are carried out with ease.
メンテナンス作業および再調整の作業を容易にした電子顕微鏡等を提供する。 - 特許庁
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