「electron microscope」を含む例文一覧(1821)

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  • The electron microscope is equipped with a sample stage capable of slanting a sample, a camera photographing an electron microscope image of the sample, a monitor displaying an electron microscope image of the sample, and an area means calculating a sharp image area depending on the slanting angle of the sample, and the sharp image area is displayed on the monitor.
    本発明によると、電子顕微鏡は、試料を傾斜させる試料ステージと、試料の電子顕微鏡像を撮影するカメラと、試料の電子顕微鏡像を表示するモニタと、試料の傾斜角に基づいてボケがない領域を計算する領域手段と、を有し、上記モニタに上記ボケがない領域を表示する。 - 特許庁
  • To easily form an observation region to a range which can be observed by a transmission type electron microscope.
    透過型電子顕微鏡によって観察できる範囲に観察領域を形成することを容易にする。 - 特許庁
  • APPARATUS FOR MEASURING SURFACE CROSS-SECTIONAL SHAPE OR THREE-DIMENSIONAL SURFACE SHAPE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    表面の断面形状若しくは三次元表面形状測定装置及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁
  • To realize a sample moving system of electron microscope hardly affected by acoustic vibration and vibration of floor.
    音響振動やフロア振動の影響を受けにくい電子顕微鏡用試料移動装置を実現する。 - 特許庁
  • To provide an electron microscope capable of clearly detecting minute unevenness of a sample.
    試料に微小な凹凸があっても明瞭に検出することができる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide an electron microscope or the like capable of easily determining the type and the aperture diameter of an objective lens diaphragm.
    対物レンズ絞りの種類や絞り径を容易に判別可能な電子顕微鏡等を提供する。 - 特許庁
  • In addition, a device for preparing the sample for an electron microscope applying the freeze-drying device is provided.
    さらに、当該凍結乾燥装置を応用する電子顕微鏡用試料作製装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a dark field detection system of a scanning electron microscope (SEM) having a polar angle identification function of scattered electrons.
    散乱電子の極角識別機能を有するＳＥＭ暗視野検出システムを提供すること。 - 特許庁
  • The sample is moved along a substantially straight passage in the Z-axis (optical axis of the transmission electron microscope).
    標本は、Ｚ軸（透過型電子顕微鏡の光軸）における実質的な直線通路を移動する。 - 特許庁
  • The pre-cryogenic electron microscope specimen holder includes a specimen holding means and a cryogenic energy storing means.
    電子顕微鏡の予冷型試料台は試料載置手段と、冷却エネルギー蓄積手段とを備えている。 - 特許庁
  • In the case of B-level abnormality the abnormality information is delivered only to the operator of the scanning electron microscope.
    レベルＢの異常の場合には、異常情報は走査電子顕微鏡のオペレータのみに転送される。 - 特許庁
  • QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD OF CATALYST CONTAINED IN FUEL CELL CATALYST LAYER BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
    透過型電子顕微鏡による燃料電池触媒層に含まれる触媒の定量的解析方法 - 特許庁
  • ANALYSIS METHOD OF ENERGY LOSS SPECTROSCOPIC DEVICE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE ENERGY LOSS SPECTROSCOPIC DEVICE
    エネルギー損失分光装置の分析方法及びエネルギー損失分光装置を備えた透過電子顕微鏡 - 特許庁
  • To provide an electron microscope which realizes the automation with a tomography while using an omega type energy filter.
    オメガ型エネルギーフィルタを用いながらもトモグラフで自動化を実現する電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide a length measuring method using a scanning electron microscope capable of highly accurate measurement.
    精度の高い測定を行うことができる走査型電子顕微鏡を用いた測長方法を提供する。 - 特許庁
  • FOCUSED ION BEAM DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE PROCESSING EQUIPPED WITH WRITING FUNCTION BY CODING RELEVANT INFORMATION
    関連情報をコード化して書き込む機能を備えたＴＥＭ試料加工用集束イオンビーム装置 - 特許庁
  • To provide a device for controlling an electron microscope that facilitates the moving operation of a microscopic image.
    顕微像の移動操作を容易にする電子顕微鏡の制御装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide an electron microscope or the like capable of easily setting image observation conditions for a rough-vacuum observation.
    低真空観察のための像観察条件を容易に設定できる電子顕微鏡等を提供する。 - 特許庁
  • To constitute an electron microscope that has a high resolution at a low acceleration voltage, without impressing large retarding or boosting voltage.
    リターディングやブースティングを大きくかけずに低加速でも分解能の高い電子顕微鏡を構成する。 - 特許庁
  • To estimate diameters of wet holes without observing the wet holes by a scanning type electron microscope.
    走査型電子顕微鏡でウェットホールを観察することなく、ウェットホール径を見積ることができるようにする。 - 特許庁
  • To provide a scanning electron microscope capable of increasing detection efficiency of secondary electrons in a simple constitution.
    簡単な構成で２次電子の検出効率を高めることができる走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁
  • METHOD FOR PHOTOMASK DEFECT CORRECTION USING COMPOSITE APPARATUS OF CONVERGENCE ELECTRON BEAM DEVICE AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE
    集束電子ビーム装置と原子間力顕微鏡との複合装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁
  • To provide an electron microscope suitable for eliminating the breakage of samples caused by processing errors.
    本発明によれば、加工ミスによる試料の破損をなくするのに適した電子顕微鏡が提供される。 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM FOR DIMENSION MEASUREMENT, AND EVALUATION SYSTEM OF CIRCUIT PATTERN FEATURE AND METHOD THEREFOR
    寸法計測走査型電子顕微鏡システム並びに回路パターン形状の評価システム及びその方法 - 特許庁
  • To provide a scanning electron microscope which can achieve the entire process from fine adjustment to review through complete automation.
    微調整からレビューまでを完全に自動化で行なえる走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SAMPLE PREPARING METHOD FOR SOLID PHASE REACTIVE SAMPLE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
    固相反応試料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法および荷電粒子ビーム装置 - 特許庁
  • METHOD OF MANUFACTURING MEMBRANE SAMPLE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE
    走査透過電子顕微鏡用薄膜状試料の作製方法および薄膜試料の観察方法 - 特許庁
  • A substrate including a plurality of defects is inspected by using an electron microscope device in the substrate inspection method.
    電子顕微鏡装置を用い複数の欠陥を含む基板を検査する基板検査方法である。 - 特許庁
  • When the device is used as a photo-electron microscope, a positive acceleration voltage is applied to the lens barrel 2.
    光電子顕微鏡として用いられる場合、レンズ鏡筒２には正の加速電圧が印加される。 - 特許庁
  • To provide a scanning electron microscope conducting highly precise three-dimensional analysis using low acceleration voltage.
    低加速電圧を用いた高精度な三次元解析を行える走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • AUTOMATIC CCD CAMERA CHANGEOVER SYSTEM IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH LASER DEFECT DETECTING FUNCTION
    レーザ欠陥検出機能を備えた走査型電子顕微鏡におけるＣＣＤカメラ自動切替方式 - 特許庁
  • The idea of holography was first introduced by Gabor to improve the resolution of the electron microscope.
    ホログラフィーの考えは、最初はGaborによって、電子顕微鏡の分解能を改善するために導入された。 - 科学技術論文動詞集
  • The electron microscope transmission technique lends itself to studies of the effect of microstructure on magnetic properties.
    電子顕微鏡の透過技法は、磁性に対する微小構造の影響の研究に適している(役に立つ)。 - 科学技術論文動詞集
  • The optical diffractometer, much like the electron microscope, needs to be carefully aligned and calibrated.
    光学回折計は電子顕微鏡とほぼ同じように、注意深く調節および較正される必要がある。 - 科学技術論文動詞集
  • Electron-microscope specimens thinner than 10 nm and of low atomic number behave as weak-phase objects.
    10nmより薄く低い原子番号から成る電子顕微鏡の試料は、弱位相物体として振る舞う。 - 科学技術論文動詞集
  • The electron microscope 12 electronically scans, radiates an electron beam to the tested element T after the deterioration has been promoted, and measures a shape of the tested element T.
    電子顕微鏡１２は、電子走査型であり、劣化促進後の試験体Ｔに電子線を照射して試験体Ｔの形状を測定する。 - 特許庁
  • When this device is used as a scanning electron microscope, a lens barrel 2 is kept at the same potential as that of a sample 4, and a negative potential is applied to an electron gun 1.
    走査型電子顕微鏡として用いられる場合、レンズ鏡筒２は試料４と同電位に保持され、電子銃１には負の電位が印加される。 - 特許庁
  • xlii) Electron accelerators or flash X-ray generators falling under any of the following (excluding electron microscope components and medical equipment
    四十二　電子加速器又はフラッシュ放電型のエックス線装置であって、次のいずれかに該当するもの（電子顕微鏡の部分品又は医療用装置を除く。） - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To provide a scanning electron microscope capable of preventing charge-up and contamination in the midst of observation without executing special preprocessing and stably obtaining a secondary electron image.
    特別な前処理をすることなく観察中のチャージアップや汚染を防ぐことができ、安定して２次電子像が得られる走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide a micro-hand which applies micro-operating force to a sample under electron beams in a vacuum of an electron microscope while ensuring vibration-isolation and suppressing outgassing.
    電子顕微鏡の真空中、電子線下でマイクロハンドにより耐振アウトガス抑制を保証しつつ試料に微細操作力を与えるようにする。 - 特許庁
  • To provide a spin-polarized electron source which can be used for an electron microscope and an accelerator, has a superior durability of magnetic characteristics and can be operated at room temperature.
    電子顕微鏡や加速器に用いることができる、磁気特性の耐久性に優れて、且つ、室温動作可能なスピン偏極電子源を提供する。 - 特許庁
  • To provide a radiation electron microscope which can obtain a quality electron image with a higher space resolution while preventing damage of a sample as caused by electric discharge.
    高い空間分解能で良質な電子像を得られ、かつ、放電による試料の損傷を防止することができる放射電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • In the scanning electron microscope system, the focal position is varied by a focus controlling system as an electron beam is scanned by a deflection controlling system.
    走査型電子顕微鏡装置において、偏向制御系によって電子ビームを走査させながら同時に焦点制御系によって焦点位置を変化させる。 - 特許庁
  • Further, either a TV camera 28 or 31 is selected and aligned on the light axis with an electron optics system maintained in a mode of a scanning transmission electron microscope.
    更に、電子光学系を走査透過電子顕微鏡モードに維持した状態で、ＴＶカメラ２８か３１が選択されて光軸上に配置される。 - 特許庁
  • To provide a measuring method of a regist pattern with high accuracy by controlling the volume shrinkage of a scanning electron microscope which is caused by electron irradiation.
    走査型電子顕微鏡の電子線照射によるレジストパータンの体積収縮を抑制して、測定精度を向上し得る方法を提供する - 特許庁
  • To provide an electron beam device not requiring skill of a user represented by a scanning electron microscope suitable for obtaining a dark-field STEM image.
    ユーザの熟練を必要とせずに高コントラストな暗視野ＳＴＥＭ像を得るのに好適な走査電子顕微鏡に代表される電子線装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a phase plate of an electron microscope which minimizes shielding of an electron wave and prevents effect of charge of an insulation film without using an advanced manufacturing technology, and provide a phase difference electron microscope which does not require significant change and addition of an optical element.
    電子波の遮蔽を極小化し、かつ絶縁膜の帯電の影響を回避できる電子顕微鏡の位相板を高度な製造技術を利用せずに提供し、光学要素を大幅に変更・追加必要としない位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide a vacuum display device for an electron microscope sample cell capable of more accurately displaying the degree of vacuum in the sample cell than before without giving poor effect on the control of a primary electron beam or a signal for secondary electrons during examination via an electron microscope.
    電子顕微鏡の検鏡時に、一次電子線の制御や二次電子の信号に悪影響を与えることなく、試料室内の真空度を従来よりも正確に表示することのできる電子顕微鏡試料室の真空度表示装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a simpler and easy-to-use method for adjustment of an aberration correction apparatus in a scanning transmission electron microscope with built-in aberration correction apparatus, and to provide a scanning transmission electron microscope with such a functionality.
    収差補正器を搭載した走査透過電子顕微鏡において、従来よりも簡便で取り扱いやすい収差補正器の調整方法、および当該機能を備えた走査透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To facilitate interpretation of electron microscope images obtained through alleviation of works by utilizing calculation on selection of conditions such as defocusing volumes or an objective lens aperture in a transmission electron microscope observation.
    透過型電子顕微鏡観察における対物レンズのデフォーカス量及び対物絞りの選定といった条件選定を、計算を利用することで作業を軽減し、得られた電子顕微鏡像の解釈を容易にする。 - 特許庁
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