「interferometer」を含む例文一覧(1556)
＜前へ 1 2 .... 4 5 6 7 8 9 10 11 12 .... 31 32 次へ＞- OPTICAL MULTILAYER FILM MIRROR AND FABRY-PEROT INTERFEROMETER EQUIPPED WITH THE SAME
光学多層膜ミラーおよびそれを備えたファブリペロー干渉計 - 特許庁 - The interferometer measures the position in the second dimension of a mirror (MI).
干渉計は、ミラー（ＭＩ）の第２次元の位置を測定する。 - 特許庁 - HETERODYNE LASER DOPPLER INTERFEROMETER WITH OPTICAL EXCITATION FUNCTION FOR SAMPLE
試料の光励振機能を有するヘテロダインレーザドップラー干渉計 - 特許庁 - VIBRATION AND IMPACT DETECTOR USING OPTICAL FIBER LOOP INTERFEROMETER
光ファイバループ干渉計を用いた振動・衝撃検出装置 - 特許庁 - SHEARING INTERFEROMETER, MEASURING METHOD BY SHEARING INTERFEROMETER, METHOD OF MANUFACTURING PROJECTION OPTICAL SYSTEM, PROJECTION OPTICAL SYSTEM, AND EXPOSURE DEVICE
シアリング干渉計、シアリング干渉計による計測方法、投影光学系の製造方法、投影光学系及び露光装置 - 特許庁 - INTERFEROMETER SYSTEM, STAGE DEVICE, EXPOSURE DEVICE, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
干渉計システム、ステージ装置、露光装置、及びデバイス製造方法 - 特許庁 - MICHELSON TYPE INTERFEROMETER, AND CRYSTAL SPECTRAL DIFFRACTION ELEMENT
マイケルソン型干渉計及びそれに用いられる結晶分光素子 - 特許庁 - OPTICAL SYSTEM FOR OBLIQUE-INCIDENCE INTERFEROMETER AND APPARATUS USING IT
斜入射干渉計用光学系およびこれを用いた装置 - 特許庁 - POSITION MEASUREMENT DEVICE OF OBJECT USING LASER INTERFEROMETER SYSTEM
レーザー干渉計システムを用いた対象物の位置の測定装置 - 特許庁 - To provide an interferometer capable of reducing polarization dependency (PDFS) resulting from incompleteness of a splitting element, a demodulator equipped with the interferometer, and a splitting element used for the interferometer.
分岐素子の不完全性により生ずる偏光依存性（ＰＤＦＳ）を低減することができる干渉計、当該干渉計を備える復調器、及び当該干渉計で用いられる分岐素子を提供する。 - 特許庁 - REFLECTION TYPE BLOOD SUGAR MEASURING INSTRUMENT USING LOW COHERENT LIGHT INTERFEROMETER
低コヒーレンス光干渉計を用いた反射式血糖測定装置 - 特許庁 - DISPERSION INTERFEROMETER, AND METHOD OF MEASURING PHYSICAL QUANTITY OF MEASURING OBJECT
ディスパーション干渉計及び被測定物の物理量の計測方法 - 特許庁 - OBLIQUE INCIDENCE INTERFEROMETER AND METHOD FOR CALIBRATING THE SAME
斜入射干渉計及び斜入射干渉計の較正方法 - 特許庁 - BEAM SPLITTER STRUCTURE GROUP AND INTERFEROMETER WITH IT
ビームスプリッタ構造群及びビームスプリッタ構造群を備えた干渉計 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR UNWRAPPING TWO-DIMENSIONAL PHASE DATA IN INTERFEROMETER
干渉計における２次元位相データのアンラップ方法及び装置 - 特許庁 - This laser interferometer measures a length based on laser light interference.
レーザ干渉測長装置は、レーザ光に基づき測長を行う。 - 特許庁 - To provide an interferometer which includes a reduced number of optical elements to be used.
使用する光学素子の数を抑えた干渉計を提供する。 - 特許庁 - OPERATION VERIFICATION DEVICE OF OPTICAL FIBER INTERFEROMETER, AND OCT (OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY) APPARATUS
光ファイバ干渉計の動作検証装置、およびＯＣＴ装置 - 特許庁 - To adjust a tilt of a sensor part of a Talbot interferometer with high accuracy.
トールボット干渉計のセンサ部の傾きを精度良く調整する。 - 特許庁 - To provide a method for optimally function a step scan interferometer.
ステップ走査干渉計を、最適に機能させる方法を提供する。 - 特許庁 - DETECTION SYSTEM, MICHELSON INTERFEROMETER, AND FOURIER TRANSFORMATION SPECTROSCOPIC ANALYZER
検知システム、マイケルソン干渉計、および、フーリエ変換分光分析装置 - 特許庁 - Oscillatory displacement is detected using a heterodyne interferometer 130.
振動変位検出にはヘテロダイン干渉計１３０を用いている。 - 特許庁 - OPTICAL FIBER FIXING METHOD AND OPTICAL FIBER INTERFEROMETER USING THE SAME
光ファイバの固定方法及びこれを用いた光ファイバ干渉計 - 特許庁 - POLARIZATION DEPENDENCY MEASURING METHOD AND DEVICE OF 2-LIGHT FLUX INTERFEROMETER
２光束干渉計の偏波依存性測定方法および装置 - 特許庁 - To provide a laser interferometer which detects a mode hop.
モードホップがわかるレーザ干渉計を実現することを目的にする。 - 特許庁 - INTERFERENCE MEASURING METHOD, INTERFEROMETER, EXPOSURE DEVICE, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
干渉計測方法、干渉計、露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁 - UNWRAP METHOD AND APPARATUS FOR TWO-DIMENSIONAL PHASE DATA BY INTERFEROMETER
干渉計による２次元位相デ−タのアンラップ方法および装置 - 特許庁 - INTERFEROMETER FOR MEASURING SURFACE SHAPE, ETC., AND MEASURING METHOD
面形状等を測定するための干渉計及びその測定方法 - 特許庁 - To improve the measurement accuracy and repeatability of an optical heterodyne interferometer.
光ヘテロダイン干渉計の測定精度や再現性を向上する。 - 特許庁 - SIGNAL PROVIDING METHOD FOR OFFSET COMPENSATION DECISION, AND INTERFEROMETER SYSTEM
オフセット補正決定用信号提供方法および干渉計システム - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING PHASE TYPE DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER
Ｘ線タルボ干渉計用位相型回折格子の製造方法 - 特許庁 - To measure a variation in height of a stage by an interferometer system and to hold flexibility in disposing a moving mirror, etc. for other interferometer high.
干渉計方式でステージの高さの変化を計測すると共に、他の干渉計用の移動鏡等の配置の自由度を高く保つ。 - 特許庁 - MULTI-DIRECTIONAL PROJECTION TYPE MOIRE INTERFEROMETER AND INSPECTION METHOD USING THIS
多方向映写式モアレ干渉計及びこれを用いた検査方法 - 特許庁 - LOW COHERENCE OPTICAL INTERFEROMETER, AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD USING IT
低コヒーレンス光干渉計及びそれを用いた膜厚測定方法 - 特許庁 - ADJUSTING METHOD OF INTERFEROMETER, INTERFEROMETER USED FOR IMPLEMENTATION OF THE ADJUSTING METHOD, AND PROCESSING PROGRAM FOR THE ADJUSTING METHOD
干渉計の調整方法、その調整方法の実施に使用する干渉計および、その調整方法の実施のための処理プログラム - 特許庁 - The interferometer for demodulation of differential M phase shift modulated sinal comprises: a PLC type interferometer body; a heating part for heating the PLC type interferometer body; and an interposition material having higher rigidity than the PLC type interferometer body and sandwiched between the PLC type interferometer body and the heater to be mutually attached to both of them.
ＰＬＣ型干渉計本体と、ＰＬＣ型干渉計本体を加熱する加熱部と、ＰＬＣ型干渉計本体より高い剛性を有し、ＰＬＣ型干渉計本体と加熱部との間に挟まれた状態で両者と相互に接着される介装材とを含む差動Ｍ位相偏移変調信号の復調用干渉計である。 - 特許庁 - To provide a method of monitoring thin-film formation using a dynamic interferometer.
動的干渉計を使用した薄膜形成監視方法の提供。 - 特許庁 - WAVE FRONT MEASURING INTERFEROMETER UNIT, AND LIGHT BEAM MEASURING INSTRUMENT AND METHOD
波面測定用干渉計装置、光ビーム測定装置および方法 - 特許庁 - INCLINATION POSITIONING APPARATUS AND INTERFEROMETER EQUIPPED WITH THE SAME
傾斜位置決め装置及びこの傾斜位置決め装置を備える干渉計 - 特許庁 - MACH-ZEHNDER INTERFEROMETER, OPTICAL COUPLER, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
マッハ・ツェンダー干渉計、光結合器及び光結合器の製造方法 - 特許庁 - To provide an interferometer requiring no beam splitter, using a simple optical system.
ビームスプリッタが不要な干渉計を単純な光学系で実現する。 - 特許庁 - To provide a diffraction grating for an X-ray Talbot interferometer which can be manufactured with ease and high accuracy as the diffraction grating having high aspect ratio of a groove, a method for manufacturing the diffraction grating for the X-ray Talbot interferometer, and the X-ray Talbot interferometer.
溝のアスペクト比の高い回折格子を容易かつ高精度で製造することができるＸ線タルボ干渉計用回折格子及びその製造方法、並びにＸ線タルボ干渉計を提供する。 - 特許庁 - To improve the measurement precision of the interferometer for measuring the mobile body.
移動体計測用干渉計の測定精度を向上させること。 - 特許庁 - The received RZ-DPSK signal is led to an interferometer 11.
受信したＲＺ−ＤＰＳＫ信号は、干渉計１１に導かれる。 - 特許庁 - REFLECTION TYPE MICRO-OPTICAL INTERFEROMETER TYPE FILTER AND APPLIED DEVICE USING THE SAME
反射型マイクロオプティック干渉計型フィルター及びその応用装置 - 特許庁 - The optical interferometer 105 comprises a monolithic optical element 201 having a polarized beam splitter (PBS) 204 and at least one reflecting surface 211 substantially parallel to the PBS 204.
モノリシック光学素子(201,801)を含む光学干渉計(105)。 - 特許庁 - POINT DIFFRACTION INTERFEROMETER, AND EXPOSURE APPARATUS AND METHOD USING SAME
点回折干渉計、並びに、それを利用した露光装置及び方法 - 特許庁 - POINT DIFFRACTION INTERFEROMETER, METHOD OF MAKING REFLECTOR, AND PROJECTING EXPOSURE DEVICE
点回折干渉計、反射鏡の製造方法及び投影露光装置 - 特許庁 - PINHOLE UNIT, POINT DIFFRACTION INTERFEROMETER, AND METHOD OF MANUFACTURING PROJECTION OPTICAL SYSTEM
ピンホールユニット、点回折干渉計、及び投影光学系の製造方法 - 特許庁 - TALBOT INTERFEROMETER, ADJUSTMENT METHOD THEREOF, AND EXPOSURE DEVICE
トールボット干渉計、トールボット干渉計の調整方法、及び露光装置 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
