「interferometer」を含む例文一覧(1556)
＜前へ 1 2 .... 8 9 10 11 12 13 14 15 16 .... 31 32 次へ＞- Further, when a multi-mode interferometer is constituted of these modulators, since optical power density in the multi-mode interferometer is reduced, the allowable optical input power can be enlarged.
また，これらの変調器により，マルチモード干渉器を構成すると，マルチモード干渉器中の光パワー密度を小さくすることが可能なため，許容光入力パワーを大きくすることができる。 - 特許庁 - To efficiently replace an inspection target object in an interferometer, and easily adjust a position between the inspection target object and an interferometer body even if a constitution is simple.
干渉計において被検体を効率よく交換できるとともに、簡素な構成であっても被検体と干渉計本体部との間の位置調整を容易に行うことができるようにする。 - 特許庁 - Based on the obtained respective shifts and tilts and relative position relation of the first interferometer 1A and the second interferometer 1B, the face shift and the face tilt are calculated.
求められた各々のシフト量およびチルト量と、第１干渉計１Ａおよび第２干渉計１Ｂの相対位置関係とに基づき、面ずれ量および面倒れ量を算出する。 - 特許庁 - A mirror is provided on the object stage, the interferometer is provided on a member supporting the base of the stage, and a position of the object stage is measured by the mirror and the interferometer.
対象物ステージにはミラーが設けられ、干渉計装置がステージのベースを支持する部材に設けられ、ミラーと干渉計装置により対象物ステージの位置を測定する。 - 特許庁 - To provide a low-loss Mach-Zehnder interferometer which can reduce temperature dependence of wavelength characteristics, and to provide an arrayed waveguide diffraction grating and a method for manufacturing the Mach-Zehnder interferometer.
波長特性の温度依存性を低減することができる、低損失のマッハ・ツェンダ干渉計、アレイ導波路回折格子及びマッハ・ツェンダ干渉計の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - A voltage supplied to the delay interferometer may be controlled so that a difference between a positive phase signal optical intensity and an opposite phase signal optical intensity of the delay interferometer becomes largest.
また、遅延干渉計の正相信号光強度と逆相信号光強度との差が最大になるように、遅延干渉計に供給される電圧を制御してもよい。 - 特許庁 - The interferometer 200 returns parallel beams that are subject to walk-off caused by reflector misalignment for an additional pass through the interferometer optical system and thereby eliminates beam walk-off.
干渉計（２００）は、反射器の位置ずれによって生じるウォークオフを受ける平行なヒ゛ームを、干渉計光学系を通る追加の通過のために戻し、それによりヒ゛ームのウォークオフを排除する。 - 特許庁 - This light receiving module 10 is provided with the delay interferometer 12, the balanced receiver 14, and a pair of optical fibers 20 for guiding a light emitted from the delay interferometer 12 to the balanced receiver 14.
光受信モジュール１０は、遅延干渉計１２と、バランスドレシーバ１４と、遅延干渉計１２から出射される光をバランスドレシーバ１４に導く一対の光ファイバ２０と、を備える。 - 特許庁 - To provide a Mach-Zehnder interferometer capable of adjusting easily the position of a lens to be inspected and measuring in a short time, and an inspection method of an optical element by the Mach-Zehnder interferometer.
容易に被検レンズの位置を調整でき、短時間で測定を行うことができるマッハツェンダー干渉計及びマッハツェンダー干渉計による光学素子の検査方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a point diffraction interferometer enabling development of relatively high-intensity radiation, utilization of an interferometer analysis, and also use of an extended source emitting spatially-incoherent radiation.
比較的高強度の放射線の達成を可能にし、干渉計分析を利用可能にし、また空間的に非干渉性の放射線を放出する分散光源の使用も可能にする。 - 特許庁 - To provide an interferometer capable of easily obtaining interference fringes with high contrast even when the coherence distance of a light source is short, and a highly precise projection lens manufactured by the interferometer.
光源の可干渉距離が短い場合でも、容易に高コントラストな干渉縞を得ることができる干渉計及び該干渉計で製造された高精度投影レンズを提供する。 - 特許庁 - To enhance a dynamic measuring range for executing measurement using a plane mirror interferometer, without requiring a large optical element and a short separate distance, in an interferometer system.
干渉計システムにおいて、大きな光学素子又は短い離間についての要請がなく、平面鏡干渉計を用いて測定するためのダイナミック測定レンジを向上すること。 - 特許庁 - Laser light 18a emitted from the first interferometer 18 along the X axis is reflected by the first mirror 34, the second mirror, and the third mirror 38 to be incident on the first interferometer 18.
第１干渉計１８からＸ軸方向に発射されたレーザ光１８ａは、第１ミラー３４、第２ミラー、第３ミラー３８に反射されて、第１干渉計１８に入射する。 - 特許庁 - Methods have been devised for combining an X-ray interferometer with an optical interferometer so that both radiations are used to measure the same displacement of a crystal.
X線と光の両方の放射線が結晶の同じ変位を測定するために使われるように、X線干渉計を光学干渉計と組み合わせるための方法が考案された。 - 科学技術論文動詞集 - The heterodyne interferometer has a parallel flat plate grass disposed between a laser source 1 and a first polarized beam splitter.
レーザ光源１と第１偏光ビームスプリッタの間に平行平面板ガラスを配置した。 - 特許庁 - To dispense with an optical axis regulating step when manufacturing an interferometer and an input/output optical system.
干渉計および入出力光学装置の製造時の光軸調整工程を不要とする。 - 特許庁 - To efficiently perform an angle measurement processing by an interferometer in a wide frequency band in a short time.
広い周波数帯でのインターフェロメータでの測角処理を短時間で効率良く行い得る。 - 特許庁 - To provide a waveguide type optical interferometer that can restrain temperature dependence of a center wavelength without the need for a temperature regulator.
温度調整装置を必要とすることなく、中心波長の温度依存性を抑制する。 - 特許庁 - A balanced optical receiver 54 converts the interference output light from the interferometer 44 into an electric signal.
バランスト光受信器５４が、干渉計４４の干渉出力光を電気信号に変換する。 - 特許庁 - The interferometer produces a first optical signal and a second optical signal interfering with each other.
干渉計は、互いに干渉する第１の光信号及び第２の光信号を生成する。 - 特許庁 - To provide a high-performance interferometer of a simplified constitution.
高性能でありながらも構成がシンプルに抑えられた干渉計を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a Mireau type interferometer objective lens which enhances the contrast of an interference fringe image.
干渉縞画像のコントラストを向上させることができるミロー型干渉対物レンズの提供。 - 特許庁 - To measure the positional information of a moving body with high accuracy when compared with a conventional interferometer.
従来の干渉計に比べて高精度な移動体の位置情報の計測を可能にする。 - 特許庁 - To reduce cost, and simplify adjustment by reducing the optical components of a polarization-split interferometer.
偏光分離型干渉計の光構成部品を削減し、低コスト化、調整簡易化を図ること。 - 特許庁 - The optical signal reproducing device is provided with an interferometer structure having two arms 11, 12.
２本のアーム１１、１２を有する干渉計構造体を備えた光信号再生装置である。 - 特許庁 - INTERFEROMETER, ALIGNER, METHOD OF MANUFACTURING MICRODEVICE, MEASURING APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING ALIGNER
干渉計、露光装置、マイクロデバイスの製造方法、計測装置及び露光装置の製造方法 - 特許庁 - To provide techniques for tuning a delay interferometer in an intensity modulated DPSK system.
強度変調ＤＰＳＫシステムにおいて、遅延干渉計を調整する手法を提供する。 - 特許庁 - INTERFEROMETER SYSTEM, INTERFERENCE MEASURING METHOD, OBJECT PROVISION METHOD AND OBJECT MANUFACTURING METHOD
干渉計システム、干渉計測方法、対象物提供方法および対象物製造方法 - 特許庁 - To provide a one-bit delay interferometer which is small-sized and is capable of changing a bit rate and an optical phase.
小型でビットレート、光位相とも変更可能な１ビット遅延干渉計を提供する。 - 特許庁 - To prevent a measurement accuracy from being worsened due to the vibration of the drive system of a mirror in an interferometer.
干渉計におけるミラーの駆動系の振動による測定精度の悪化を防止する。 - 特許庁 - A laser beam source 12, an interferometer part 14 and a reflection mirror 20 are provided on a main body base 10.
本体ベース１０上にレーザ光源１２、干渉計部１４、反射ミラー２０を設ける。 - 特許庁 - To provide a phase shift interferometer for measuring a height of a workpiece surface at high speed with high accuracy.
高速かつ高精度にワーク表面高さを測定する位相シフト干渉計を提供する。 - 特許庁 - The Mach-Zehnder interferometer 143 is composed of optical paths 115, 116 and optical couplers 135, 136.
マッハツェンダ干渉計１４３は、光路１１５，１１６、光カプラ１３５，１３６により構成される。 - 特許庁 - The Mach-Zehnder interferometer 142 is composed of optical paths 113, 114 and optical couplers 133, 134.
マッハツェンダ干渉計１４２は、光路１１３，１１４、光カプラ１３３，１３４により構成される。 - 特許庁 - The Mach-Zehnder interferometer 141 is composed of optical paths 111, 112 and optical couplers 131, 132.
マッハツェンダ干渉計１４１は、光路１１１，１１２、光カプラ１３１，１３２により構成される。 - 特許庁 - To provide a delay interferometer which improves a response speed faster than a phase adjustment by temperature control.
遅延干渉計において、温度制御による位相調整よりも応答速度を速くする。 - 特許庁 - To provide an asymmetrical optical fiber Mach-Zehnder interferometer and a multiplexer demultiplexer equipped with it.
非対称光ファイバ・マッハ−ツェンダ干渉計、及び、これを備えたマルチプレクサ／デマルチプレクサを提供する。 - 特許庁 - To provide an oblique incidence interferometer having superior measurement accuracy, while achieving miniaturization of a device.
装置の小型化を実現しつつ測定精度の良好な斜入射干渉計を提供する。 - 特許庁 - INTERFEROMETER FOR IMMERSION MICROSCOPE OBJECTIVE AND EVALUATION METHOD OF THE IMMERSION MICROSCOPE OBJECTIVE
液浸系顕微鏡対物レンズ用干渉計および液浸系顕微鏡対物レンズの評価方法 - 特許庁 - An optical filter 4 prevents incidence of light of excess wavelengths on the Fabry-Perot interferometer 2.
光学フィルタ４は、余計な波長の光がファブリペロ干渉計２に入射しないようにする。 - 特許庁 - Furthermore, the MZ interferometer, the AWG or the grating is rendered temperature independent by silicon resin.
また、ＭＺ干渉計、ＡＷＧ又はグレーティングを、シリコーン樹脂により、温度無依存化する。 - 特許庁 - COHERENT LIGHT SOURCE, SEMICONDUCTOR EXPOSURE DEVICE, LASER THERAPY EQUIPMENT, LASER INTERFEROMETER AND LASER MICROSCOPE
コヒーレント光光源、半導体露光装置、レーザ治療装置、レーザ干渉計装置、レーザ顕微鏡装置 - 特許庁 - MEASURING METHOD OF INITIALLY SET INCIDENT ANGLE IN ROTATION ANGLE MEASUREMENT USING LASER INTERFEROMETER
レーザ干渉計を使用した回転角度測定における初期設定入射角測定方法 - 特許庁 - GEOMETRICALLY DESENSITIZED INTERFEROMETER PROVIDED WITH OPTICAL MECHANISM WITH HIGH STRAY-LIGHT PROCESSING CAPABILITY
高い迷光処理能力を有する光学機構を備えた幾何学的に感度抑圧された干渉計 - 特許庁 - To appropriately adjust a phase shift amount in an interferometer comprised in an optical DQPSK receiver.
光ＤＱＰＳＫ受信機が備える干渉計内の移相量を適切に調整する。 - 特許庁 - To measure the aberration of a refractive index distribution type rod lens by a Fizeau interferometer system.
フィゾー干渉計方式によって、屈折率分布型ロッドレンズの収差測定を可能とする。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING THICKNESS AND PROFILE OF TRANSPARENT THIN FILM USING WHITE-LIGHT INTERFEROMETER
白色光干渉計を用いた透明薄膜の厚さ及び形状の測定装置及び方法 - 特許庁 - POSITION MEASUREMENT METHOD USING INTERFEROMETER, INTERFERENCE TYPE POSITION MEASUREMENT APPARATUS, ALGNER AND EXPOSURE METHOD
干渉計を用いた位置測定方法、干渉式位置測定装置、露光装置及び露光方法 - 特許庁 - INTERFEROMETER, OPTICAL PULSE-WIDTH MEASURING DEVICE, AND OPTICAL PULSE-WIDTH MESURING METHOD USING SAME
干渉計および光パルス幅測定装置ならびにそれを用いた光パルス幅測定方法 - 特許庁 - The first photodetector is optically coupled to the constructive optical output of the delay interferometer.
第１の光検出器は、遅延干渉計の建設的光出力に光学的に結合される。 - 特許庁
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