「upper layer」を含む例文一覧(11093)

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  • A plurality of vias 50 are arranged annularly in a region where an upper layer line 40 overlaps a lower layer line 30.
    下層の配線30と上層の配線40とが重なる領域内に、複数のビア50を環状に配置する。 - 特許庁
  • An intermediate metal layer 15 composed of gold is laminated and formed via the barrier metal layer 10 on the upper surface of the electrode pad 2.
    電極パッド2の上面にバリアメタル層10を介して金よりなる中間金属層15を積層形成する。 - 特許庁
  • An upper surface of both sides facing the separation groove of the ridge contact layer is a slope, and a barrier metal layer is formed thereon.
    リッジ部コンタクト層の分離溝に臨む両側の上面は斜面となり、この上にバリアメタル層が形成されている。 - 特許庁
  • An electrode pad 2 is formed in the same layer as the upper wiring layer 30 of the wiring layers 3, 30.
    そして、これらの配線層3、30のうち、最上の配線層30と同層内に電極パッド2を形成する。 - 特許庁
  • A window 34 is formed in the buffer layer and a bond pad 20 deployed on the upper part layer is exposed at this window.
    バッファ層10はウィンドウ34を形成し、このウィンドウが上部層の上に配置されたボンドパッド20を露出させる。 - 特許庁
  • An upper layer insulating film 16 is formed on the inter-layer insulating film 10 and covers the detection electrode 11.
    層間絶縁膜10上には、検出電極11を覆うように上層絶縁膜16が形成されている。 - 特許庁
  • The nonwoven fabric that forms the liquid holding sheet 11 is a two-layered spun lace nonwoven fabric having an upper layer 15 and a lower layer 16.
    液保持シート11を形成する不織布は、上層15と下層16とを有する2層スパンレース不織布である。 - 特許庁
  • The embedded layer is located at the position deeper than the first layer with the upper surface thereof located deeper than the bottom surface of an element isolation region.
    埋込層は、第1の層よりも深く、かつ上面が素子分離領域の底面よりも深い位置に配置される。 - 特許庁
  • To provide a multilayer wiring structure capable of preventing an increase in contact resistance between an upper-layer wiring and a lower-layer wiring.
    下層配線と上層配線間のコンタクト抵抗を増大させることのない多層配線構造を提供する。 - 特許庁
  • In the silicon oxide film, much silicon is contained in a semiconductor substrate side lower layer as compared with an upper layer of the silicon oxide film.
    この酸化シリコン膜は、酸化シリコン膜の上層より、半導体基板側の下層にシリコンが多く含まれている。 - 特許庁
  • A temperature sensor part 3 is provided and a sheet member 8 formed of vanadium oxide is provided on an upper layer of the multilayer wiring layer M1.
    また、温度センサ部3を設け、多層配線層M1よりも上層に、酸化バナジウムからなるシート部材8を設ける。 - 特許庁
  • The control electrode is layered on the upper and lower sides of the luminescence layer 106 in the shape of inserting the luminescence layer 106.
    発光層106の上側と下側には、制御電極が発光層106を挟み込む形で積層されている。 - 特許庁
  • The MEMS device is characterized in that the thickness of the upper insulating layer is larger than that of the lower insulating layer.
    そのMEMSデバイスは、上側絶縁層の厚さが下側絶縁層の厚さよりも大きいことを特徴とする。 - 特許庁
  • The carbon is fixed on the catayst layer and excess hydrogen and steam are released to the outside through the upper part of the reaction layer 1.
    炭素は触媒層に固定化され、余分の水素と水蒸気が反応層1の上部から外部に放出される。 - 特許庁
  • Electric connection between the free magnetic layer 55 and the upper side electrode is established only with a narrow electrode layer 45b.
    自由側磁性層55と上側電極との間では狭小電極層45bのみで電気的接続は確立される。 - 特許庁
  • Thereafter, the diffusion-promoting film 16 is removed and the remaining member layer is formed as the upper electrode member layer 15.
    その後、拡散促進膜16は除去され、上部電極部材層15としての残りの部材層を形成する。 - 特許庁
  • The two diffusion layers are thin layers and one layer is positioned on the upper side of the substrate and the other layer is positioned on the lower side of the substrate.
    二片の拡散層は薄片状で、一片は基礎台上側に位置し、別一片は基礎台下側に位置する。 - 特許庁
  • The surface electrode 15, the upper protective layer 27, and the lower protective layer 29 are stuck via heat-sealed layers (31a, 31b).
    面電極15と上保護層27及び下保護層29とが熱融着層(31a、31b)を介して固着する。 - 特許庁
  • This magnetic head has an upper shield layer 15, a lower shield layer 13 and a magneto-resistance effect film 14 disposed therebetween.
    上部シールド層15と、下部シールド層13と、これらの間に配置された磁気抵抗効果膜14とを有する。 - 特許庁
  • As a result, the image area of the lower layer is operated in a state of displaying the image of the image area of the upper layer.
    この結果、上層の画像領域の画像を表示した状態で下層の画像領域を操作することができる。 - 特許庁
  • An upper side core board 4 on the surface layer side of the built-up layer B1 is provided with a plurality of socket-like construction parts 24, 24A.
    ビルドアップ層B1 の表層側にある上側コア基板4は、複数のソケット様構造部24,24Aを備える。 - 特許庁
  • A signal is received, whereby the signal is modulated according to the hierarchical modulation scheme including an upper layer and a lower layer.
    信号が受信され、それにより信号は上位層と下位層を含む階層変調方式にしたがい変調される。 - 特許庁
  • The oxide insulating layer for covering the peripheral portion (including the side surface) of the oxide semiconductor layer is provided to increase a distance between the gate insulating layer and a wiring layer (such as a source wiring layer and a capacitance wiring layer) formed on the upper part or periphery of the gate electrode layer so as to reduce the parasitic capacitance.
    酸化物半導体層の周縁部(側面を含む)を覆う酸化物絶縁層は、ゲート電極層と、その上方または周辺に形成される配線層(ソース配線層や容量配線層など)との距離を大きくし、寄生容量の低減を図る。 - 特許庁
  • A lower layer formation solution 25L is produced by mixing a surface active agent 26 having a lower-layer functional group 26a and an upper-layer functional group 26b in a lower-layer solvent, and lower-layer droplets 25D formed of the lower-layer formation solution 25L are dried to form a hole transportation layer.
    下層溶媒に下層官能基26aと上層官能基26bを有する界面活性剤26を混和して下層形成溶液25Lを生成し、同下層形成溶液25Lからなる下層液滴25Dを乾燥して正孔輸送層を形成した。 - 特許庁
  • The compound semiconductor light emitting element comprises a lower clad layer, an In-containing active layer formed on the clad layer, an evaporation preventing layer formed on the active layer, and an upper clad layer formed on the evaporation preventing layer.
    本発明の化合物半導体発光素子は、下部クラッド層と、前記下部クラッド層上に形成されたInを含む活性層と、前記活性層上に形成された蒸発防止層と、前記蒸発防止層上に形成された上部クラッド層とを含むものである。 - 特許庁
  • A first dielectric layer 2 as a lower protective layer, a recording layer 3, a second dielectric layer 4 as an upper protective layer, a third dielectric layer 5 and a reflecting and heat releasing layer 6 are formed in this order by sputtering on a polycarbonate substrate 1 with a guide groove.
    案内溝を有するポリカーボネート基板1上に、スパッタリング法により下部保護層として第1の誘電体層2、記録層3、上部保護層としての第2の誘電体層4、第3の誘電体層5および反射放熱層6をこの順に製膜する。 - 特許庁
  • An upper part inter-layer insulating film 10, whose etching characteristics is different from the lower part inter-layer insulating film 8, is so formed as to directly cover the lower part inter-layer insulating film 8.
    その下部層間絶縁膜を直接覆うように下部層間絶縁膜とはエッチング特性の異なる上部層間絶縁膜10を形成する。 - 特許庁
  • A light-emitting portion has a lower clad layer 12 grown in order on a n-type GaAs substrate, an active layer 13, and an upper clad layer 15.
    発光部は、n型GaAs基板11上に順次成長された下部クラッド層12、活性層13及び上部クラッド層15を有している。 - 特許庁
  • A first aperture 15 is formed to the GaN layer 13 and AlGaN layer 14 to expose part of the upper surface of the AlN layer 12.
    AlN層12の上面の一部を露出するように、GaN層13およびAlGaN層14に第1の開口15が形成されている。 - 特許庁
  • Next, an upper gap layer is formed on the lower gap layer by the nonmagnetic material easy to be etched as compared with the lower gap layer while being not corroded with a developing fluid.
    次に、下部ギャップ層上に、現像液に腐食されず且つ該下部ギャップ層よりもエッチングされやすい非磁性材料で上部ギャップ層を形成する。 - 特許庁
  • A first glaze layer 2 comprising the first glaze is formed on the surface of the substrate 1, and a second glaze layer 3 comprising the second glaze is formed on the upper side of the first glaze layer 2.
    基体1の表面に、第1釉薬からなる第1釉薬層2と、より表面側に第2釉薬からなる第2釉薬層3とを形成する。 - 特許庁
  • Moreover, an optical wiring layer 2 is provided in a part of the core layer 1, and a ground layer 3 is formed in at least either of an upper surface and a lower surface.
    また、コア層1の一部には光配線層2が設けられ、その上面および下面の少なくとも一方にはグランド層3が形成される。 - 特許庁
  • At the last, the positional relation (lamination ranking) between the upper layer part 106b and the second metal layer 106c of the first metal layer is reversed by a rapid heat treatment.
    最後に、熱処理によって、上記の第1金属層の上層部106bと第2金属層106cとの位置関係(積層順位)を反転させる。 - 特許庁
  • A condition that too much In is present is created in the vicinity of an upper layer portion of the layer 3 since In segregation phenomenon is generated when the layer 3 is formed.
    InGaPバッファ層3の形成時にIn偏析現象が生じInGaPバッファ層3の上層部付近はIn過多の状態となる。 - 特許庁
  • Then, a receiving electrode 6 is formed on an upper layer of the insulating layer, and after the receiving electrode 6 is formed, the insulating layer is surface processed with a solution containing hydrofluoric acid .
    次に、絶縁層の上層に受け電極6を形成し、受け電極の形成後、絶縁層をフッ酸が含まれる溶液で表面処理する。 - 特許庁
  • An abrasive grain part 20 is constituted of an intermediate layer 21 and an abrasive grain layer 22 formed on an upper surface of the intermediate layer 21 and containing diamond abrasive grains 22a.
    砥粒部20を中間層21と中間層21の上面に形成された、ダイヤモンド砥粒22aを含有する砥粒層22とで構成する。 - 特許庁
  • A nonvolatile memory is constituted in a structure that a tunnel oxide film layer 102, a first polysilicon layer for a floating gate and a nitride film layer are deposited sequentially on the upper part of a semiconductor substrate 100.
    半導体基板100の上部にトンネル酸化膜層102、フローティングゲート用の第1ポリシリコン層及び窒化膜層を順次的に蒸着する。 - 特許庁
  • The upper layer (magnetic layer) 20 of the multi-layer coating type magnetic disk 3 contains nomnagnetic powder having 8 or higher Mohs' hardness and 0.2-0.6 μm average primary particle size.
    重層塗布型の磁気ディスク3の上層(磁性層)20がモース硬度8以上、平均一次粒径0.2〜0.6μmの非磁性粉末を含有している。 - 特許庁
  • The highly concentrated Ge layer 8 is formed on an upper surface of the SiGe layer 7, and has a Ge concentration that is higher than the Ge concentration in the SiGe layer 7.
    高濃度Ge層8は、SiGe層上面に形成され、SiGe層7内におけるGe濃度よりも高いGe濃度を有する。 - 特許庁
  • The hologram recording medium is used, in which a focal position is shifted to the upper layer side and an angular selective reflection film is formed on the lower layer side of the recording layer of the hologram.
    焦点位置を上層側へのシフトさせ、ホログラムの記録層の下層側に角度選択反射膜を形成したホログラム記録媒体を用いる。 - 特許庁
  • The growth layer is made of a nitride based compound semiconductor which more easily grows on side walls of the lower layer than on a surface of the upper layer of the lamination pattern.
    成長層は、積層パターンの上層の表面上よりも下層の側面上に成長しやすいナイトライド系化合物半導体からなる。 - 特許庁
  • In addition, since the upper face of the p-AlInAs clad layer 7 is directly covered with the p-InGaAsP etch-stopper layer 8, the etching in forming the ridge can be stopped by the p-InGaAsP etch-stopper layer 8.
    加えて、p-AlInAsクラッド層7の直上に、p-InGaAsPエッチングストッパ層8を有するために、リッジ形成時のエッチングをp-InGaAsPエッチングストッパ層8で止めることができる。 - 特許庁
  • A magnetic layer for recording 18 has a pole layer 18A, having an end face located in a medium-facing surface 30 and an upper yoke layer 18B.
    記録用磁性層18は、媒体対向面30に配置された端面を有する磁極層18Aと上部ヨーク層18Bとを有している。 - 特許庁
  • The server chamber 2 is vertically partitioned by a grating 5 enabling ventilation to form a two-layer structure constituted of a server floor 3 in an upper layer and a mechanical floor 4 in a lower layer.
    サーバ室2を通風可能なグレーチング5により上下に区画して上層のサーバフロア3と下層のメカニカルフロア4とによる2層構造とする。 - 特許庁
  • Each of the upper sealing material layer 11 and the lower sealing material layer 12 of the sealing material layer 1 is made up of an ultraviolet curing resin.
    また、封止材層1における上層封止材層11および下層封止材層12は、いずれも紫外線硬化樹脂によって構成されている。 - 特許庁
  • The upper face of the element isolation insulating layer 51 has an inclination TL ascending toward a side of the floating electrode layer 42 from a side of the floating electrode layer 32.
    素子分離絶縁層51の上面は、浮遊電極層32の側面から浮遊電極層42の側面へ向かって上昇する傾斜TLを有する。 - 特許庁
  • Other embodiments include a locally interrupted adhesive layer for separation of an upper foil layer from a lower foil layer, these two foil layers being otherwise glued together.
    他の実施形態では、互いに貼り付いてしまうフォイル層の下の層から上の層を分離させるために、局所的に接着剤層を中断する。 - 特許庁
  • An InGaAlAs layer 201 is introduced by about 30 nm between an upper side guide layer 104 of undoped InGaAsP and a p-type InP clad layer 105.
    アンドープInGaAsP上側ガイド層104とp型InPクラッド層105との間に、InGaAlAs層201を30nm程度導入する。 - 特許庁
  • The optical waveguide 1 comprises a substrate 2, a primer layer 3 composed of the present primer composition, a lower clad layer 4, an upper clad layer 5 and a core part 6.
    光導波路1は、基材2と、本発明のプライマー組成物からなるプライマー層3と、下部クラッド層4と、上部クラッド層5と、コア部6とからなる。 - 特許庁
  • To provide a coating device and a coating method causing no coating failure on an upper layer formed on a lower layer even if coating failure occurs in the lower layer.
    下層において塗布不良が生じても、下層の上に形成される上層において塗布不良の生じることがない塗布装置および塗布方法を得る。 - 特許庁
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