内蔵テスト装置の英語

内蔵メモリのフェイルを検出するための半導体テスト装置例文帳に追加

SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS FOR DETECTING FAIL OF BUILT-IN MEMORY - 特許庁

ＢＩＳＴ回路内蔵半導体集積回路装置およびテスト方法例文帳に追加

BIST CIRCUIT BUILT-IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TESTING METHOD FOR IT - 特許庁

ＬＶＤＳレシーバ内蔵集積回路のテスト方法、その検査回路およびそのテスト装置例文帳に追加

METHOD OF TESTING LVDS RECEIVER WITH BUILT-IN INTEGRATED CIRCUIT, TESTING CIRCUIT THEREOF AND TESTER THEREOF - 特許庁

ＪＴＡＧテストを別構成のテスト装置を必要とせず、またテスト専用の装置を内蔵せずに実行する。例文帳に追加

To perform a JTAG test without requiring a test device of another configuration and without including a test-only device in an information processor. - 特許庁

ＣＰＵ１１０内蔵の集積回路装置１００と、テスタ２０を含むバーインテストシステムである。例文帳に追加

The burn-in test system includes the integrated circuit system 100 including the CPU 110 and a tester 20. - 特許庁

内蔵メモリのフェイルを検出するための半導体テスト装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor test apparatus for detecting a fail of built-in memory. - 特許庁

半導体集積回路装置内に内蔵テスト回路および無線通信回路を搭載し，無線信号により内蔵テスト回路を制御しテストを実施する。例文帳に追加

A built-in test circuit and a radio communication circuit are mounted into a semiconductor integrated circuit device, and the built-in test circuit is controlled by a radio signal to execute test. - 特許庁

永久磁石が内蔵されたテストカプセル２と、テストカプセル２に内蔵された永久磁石から生じる定磁場の強度に基づいてテストカプセル２の位置を検出する位置検出装置３とを備える。例文帳に追加

This subject interior position detecting system is provided with a test capsule 2 incorporating a permanent magnet and a position detector 3 detecting the position of the test capsule 2 based on the strength of a constant magnetic field generated by the permanent magnet incorporated in the test capsule 2. - 特許庁