比較顕微鏡の英語

電気力顕微鏡の電位分解能及び空間分解能の評価を、電位及び形状について既知の値と電気力顕微鏡で測定した測定値との比較によって行う。例文帳に追加

The potential distribution and the space resolution of the electric force microscope are evaluated by comparing the known values of potential and shape with measurements made by the electric force microscope. - 特許庁

顕微鏡に使用するための無限焦点ズーム系に関し、適切な駆動メカニズムと組み合わせ、比較的小さい顕微鏡用構成サイズを可能とする。例文帳に追加

To enable combination with a suitable drive mechanism and a relatively small structural size for a microscope, relating to an afocal zoom system for being used for microscopes. - 特許庁

そしてバリアメタル層２１や銅膜の研磨残りを金属顕微鏡または走査型電子顕微鏡で検査し、得られた検査画像の２値化処理または画像比較によって研磨残りを判定する。例文帳に追加

The polishing residues of the barrier metal layer 21 and the copper foil are inspected with a metallurgical microscope or a scanning electron microscope, and it is judged by thresholding the obtained images or a comparison between the images whether the polishing residues are left or not. - 特許庁

この明暗のパターンを光学顕微鏡で観察することにより結像性能（非点収差やフォーカス）を比較する。例文帳に追加

Imaging performance (astigmatism or focus) is compared by observing the light and dark patterns using an optical microscope. - 特許庁

走査型電子顕微鏡において性能評価を比較的簡単かつ合目的的に行うことで管理・保守を容易にする。例文帳に追加

To facilitate management/maintenance of a scanning electron microscope by carrying out performance evaluation in a comparatively simple and purposive way. - 特許庁

顕微鏡において、標本を走査することなく、標本上の比較的広い領域の分光情報をまとめて取得できるにする。例文帳に追加

To collectively acquire spectral information of a relatively wide area on a sample without scanning the sample, in a microscope. - 特許庁

透明な試料に適度な陰影をつけて観察することを可能にする比較的薄型の顕微鏡用透過照明装置を提供する。例文帳に追加

To provide a transmission illumination apparatus for a microscope which enables a transparent sample to be observed by giving it moderate shading and which is a relatively thin type. - 特許庁

バックグラウンドノイズを抑えることができる共焦点顕微鏡装置を、比較的簡易な構成によって提供する。例文帳に追加

To provide a confocal microscope apparatus with relatively simple configuration, wherein the confocal microscope apparatus can prevent background noises from occurring. - 特許庁