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とうかがたでんしけんびきょうの英語
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「とうかがたでんしけんびきょう」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 322件
透過型電子顕微鏡例文帳に追加
透過型電子顕微鏡と近接場光学顕微鏡の複合型顕微鏡例文帳に追加
COMPOUND MICROSCOPE OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE - 特許庁
分析透過型電子顕微鏡例文帳に追加
走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加
透過型電子顕微鏡装置例文帳に追加
透過型電子顕微鏡の検鏡試料作成法例文帳に追加
MICROTOMY FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
二次元電子検出器及び透過型電子顕微鏡例文帳に追加
TWO-DIMENSIONAL ELECTRON DETECTOR AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
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「とうかがたでんしけんびきょう」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 322件
透過型電子顕微鏡用試料の解析方法および透過型電子顕微鏡用試料例文帳に追加
METHOD OF ANALYZING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過型電子顕微鏡用の検出器システム例文帳に追加
DETECTOR SYSTEM FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過型および走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加
TRANSMISSION TYPE AN SCAN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過型電子顕微鏡用試料の表面処理方法例文帳に追加
SURFACE TREATMENT METHOD FOR TEST SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過型電子顕微鏡用観察試料作製方法例文帳に追加
PREPARATION METHOD FOR OBSERVING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
電子線損傷を低減する透過型電子顕微鏡例文帳に追加
TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE WHICH REDUCES ELECTRON BEAM DAMAGE - 特許庁
透過型電子顕微鏡、及び試料観察方法例文帳に追加
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD - 特許庁
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