意味 | 例文 (322件) |
とうかがたでんしけんびきょうの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 322件
透過型電子顕微鏡例文帳に追加
透過型電子顕微鏡と近接場光学顕微鏡の複合型顕微鏡例文帳に追加
COMPOUND MICROSCOPE OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE - 特許庁
分析透過型電子顕微鏡例文帳に追加
走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加
透過型電子顕微鏡装置例文帳に追加
透過型電子顕微鏡の検鏡試料作成法例文帳に追加
MICROTOMY FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
二次元電子検出器及び透過型電子顕微鏡例文帳に追加
TWO-DIMENSIONAL ELECTRON DETECTOR AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過型電子顕微鏡用試料の解析方法および透過型電子顕微鏡用試料例文帳に追加
METHOD OF ANALYZING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過型電子顕微鏡用の検出器システム例文帳に追加
DETECTOR SYSTEM FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過型および走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加
TRANSMISSION TYPE AN SCAN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過型電子顕微鏡用試料の表面処理方法例文帳に追加
SURFACE TREATMENT METHOD FOR TEST SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過型電子顕微鏡用観察試料作製方法例文帳に追加
PREPARATION METHOD FOR OBSERVING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
電子線損傷を低減する透過型電子顕微鏡例文帳に追加
TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE WHICH REDUCES ELECTRON BEAM DAMAGE - 特許庁
透過型電子顕微鏡、及び試料観察方法例文帳に追加
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD - 特許庁
透過型電子顕微鏡観察試料の作製方法例文帳に追加
METHOD FOR MAKING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SPECIMEN - 特許庁
透過型電子顕微鏡装置および試料解析方法例文帳に追加
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYSIS METHOD - 特許庁
透過型電子顕微鏡用の試料製造方法例文帳に追加
METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過型電子顕微鏡における電子ビーム調整方法例文帳に追加
ADJUSTMENT METHOD OF ELECTRON BEAM IN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過型電子顕微鏡用試料の作成方法例文帳に追加
METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過型電子顕微鏡用試料及びその作製方法例文帳に追加
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN AND METHOD FOR PREPARING THE SAME - 特許庁
透過型電子顕微鏡用試料の作製方法例文帳に追加
SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過型電子顕微鏡用試料作製方法例文帳に追加
SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過型電子顕微鏡の試料作製方法例文帳に追加
SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
電子線分光器を備えた透過型電子顕微鏡例文帳に追加
TRANSMISSION ELECTRON BEAM MICROSCOPE EQUIPPED WITH ELECTRON BEAM SPECTROMETER - 特許庁
透過型電子顕微鏡の観察方法および保持治具例文帳に追加
OBSERVATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND HOLDING JIG - 特許庁
透過型電子顕微鏡による観察方法例文帳に追加
OBSERVATION METHOD BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過型電子顕微鏡の試料ホルダー例文帳に追加
電子分光器及びそれを備えた透過型電子顕微鏡例文帳に追加
ELECTRONIC SPECTROSCOPE AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH ABOVE - 特許庁
電子分光器を備えた透過型電子顕微鏡例文帳に追加
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE WITH ELECTRONIC SPECTROSCOPE - 特許庁
透過型電子顕微鏡及び立体観察法例文帳に追加
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND STEREOSCOPIC OBSERVING METHOD - 特許庁
本発明は、透過型電子顕微鏡グリッドに関する。例文帳に追加
To provide a transmission electron microscopy grid. - 特許庁
透過型電子顕微鏡及びその制御方法例文帳に追加
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS CONTROL METHOD - 特許庁
透過型電子顕微鏡用収差補正器例文帳に追加
ABERRATION CORRECTOR FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
X線分光器を備えた透過型電子顕微鏡例文帳に追加
TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH X- RAY SPECTROSCOPE - 特許庁
透過型電子顕微鏡グリッド及びその製造方法例文帳に追加
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE GRID AND MANUFACTURING METHOD THEREOF - 特許庁
透過型電子顕微鏡のアライメント装置例文帳に追加
ALIGNMENT DEVICE OF TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
テレビカメラを備えた透過型電子顕微鏡例文帳に追加
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE HAVING TELEVISION CAMERA - 特許庁
透過型電子顕微鏡及び撮影方法例文帳に追加
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND PHOTOGRAPHING METHOD - 特許庁
透過型電子顕微鏡用グリッドおよびグリッドホルダー例文帳に追加
GRID AND GRID HOLDER FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過型電子顕微鏡の撮影装置例文帳に追加
PHOTOGRAPHING DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
エネルギーフィルタを備えた透過型電子顕微鏡例文帳に追加
この仮定は透過型電子顕微鏡(TEM)の研究によって支持された。例文帳に追加
This assumption was supported by transmission electron microscopy studies. - 英語論文検索例文集
先週ご相談した値引きのお願いの件ですが、ご検討いただけたでしょうか?メールで書く場合 例文帳に追加
I requested a discount last week. Have you come to any decision? - Weblio Email例文集
透過型電子顕微鏡で観察したい特定箇所の透過型電子顕微鏡観察用試料の観察像を鮮明にする。例文帳に追加
To clear an observation image of a sample for transmission type electron microscope observation at a specific position to be observed by the transmission type electron microscope. - 特許庁
透過型電子顕微鏡用の試料の作製方法、観察方法及び構造例文帳に追加
MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVATION METHOD AND STRUCTURE - 特許庁
透過型電子顕微鏡の自動最適合焦点調整方法及び装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING AUTOMATIC OPTIMUM FOCUSING OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過型電子顕微鏡による鋼板の最表層の評価方法例文帳に追加
EVALUATION METHOD FOR OUTERMOST LAYER OF STEEL PLATE BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過型電子顕微鏡用試料作製装置及び試料作製方法例文帳に追加
SAMPLE-FORMING APPARATUS AND SAMPLE FORMATION METHOD FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
意味 | 例文 (322件) |
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
©Copyright 2001~2024 , GIHODO SHUPPAN Co.,Ltd. All Rights Reserved. |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると 検索履歴を保存できる! 語彙力診断の実施回数増加! |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると 検索履歴を保存できる! 語彙力診断の実施回数増加! |