「とうかがたでんしけんびきょう」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

オートフォーカス機能を有する走査型電子顕微鏡１に測定箇所を任意に設定可能な座標ナビゲーション機能と、計測したデータに基づいて厚さ分布を描画する出力機能を搭載することによりウェーハの平坦度の測定する。例文帳に追加

A scanning electron microscope 1 having an automatic focusing function is provided with a coordinate navigation function which allows setting measurement points arbitrarily and an output function for plotting thickness distribution based on the measured data, for measuring flatness of a wafer. - 特許庁

放熱性を十分に確保しつつ、電子親和力が低いことにより、高輝度を達成するとともに加熱温度を抑えてエネルギー幅を抑制することが可能な電子放射陰極、当該電子放射陰極を備えた電子顕微鏡および電子ビーム露光機を提供する。例文帳に追加

To provide an electron emitting cathode, capable of attaining a high luminance due to low electron affinity while sufficiently ensuring heat radiation performance, and reducing the energy width by reducing heating temperature, to provide an electron microscope, and to provide an electron beam exposing machine provided with the electron emitting cathode. - 特許庁

この半導体ウエハ研磨用組成物のシリカ／尿素のモル比は４０〜３００であることが好ましく、また、尿素が固定化された非球状の異形シリカ粒子の透過型電子顕微鏡観察による平均短径が７〜３０ｎｍであり、長径／短径比が１．２〜１０であり、かつ長径／短径比の平均値が１．２〜５であることが好ましい。例文帳に追加

The composition for polishing the semiconductor wafer preferably has a 40 to 300 mol ratio of silica/urea, an average short diameter of the aspherical heteromorphic silica particles having urea fixed through a transmission electron microscope is 7 to 30 nm, and a long diameter/short diameter ratio is 1.2 to 10, an average value of the long diameter/short diameter ratio being preferably 1.2 to 5. - 特許庁

エネルギーフィルタ式透過型電子顕微鏡を用いて、高空間分解能、高エネルギー分解能で元素分布やスペクトルを撮影する装置を提供する。例文帳に追加

To provide equipment which takes photos of element distribution and spectrum with high space resolution and high-energy resolution using a transmission type electron microscope having an energy filter. - 特許庁

電気二重層キャパシタの温度が異常に上昇した際に、キャパシタ内に残存する非プロトン性有機溶媒及び気化する等してキャパシタ外に漏洩する非プロトン性有機溶媒の発火・引火の危険性を低減した電気二重層キャパシタ用非水電解液を提供する。例文帳に追加

To provide nonaqueous electrolyte for electric double layer capacitor in which risk of ignition of aprotic organic solvent remaining in a capacitor and leaking to the outside through vaporization is reduced when temperature of the electric double layer capacitor rises abnormally. - 特許庁

薄型で低振動及びステージ高速化に対応し、チャンバ内に配置しても床投影面積の変化しない顕微鏡用２軸ステージを実現する。例文帳に追加

To realize a biaxial stage for microscope with thin shape, low vibration, corresponding to speed up of a stage and in which the floor projection area does not change even when it is arranged in a chamber. - 特許庁

１ 一方の締約国の権限のある当局又は実施機関は、第七条(a)の規定により合意する措置に従い、当該一方の締約国の法令の下で収集された個人に関する情報（この協定の実施のために必要なものに限る。)を当該一方の締約国の法律及び規則に従って他方の締約国の権限のある当局又は実施機関に伝達する。例文帳に追加

1. In accordance with measures to be agreed upon by virtue of subparagraph (a) of Article 7, the competent authorities or competent institutions of one Party shall, in accordance with its national statutes and regulations, send to the competent authorities or competent institutions of the other Party information about an individual collected under its laws insofar as that information is necessary for the implementation of this Agreement. - 厚生労働省

倒立顕微鏡は、標本１１２を入れたディッシュ１１３を載置するためのステージと、ディッシュ１１３の下方に位置する対物レンズ１１０と、標本１１２を観察するための観察光学系とを備えている。例文帳に追加

The inverted microscope is equipped with a stage for placing a dish 113 in which a sample 112 is put, an objective lens 110 positioned under the dish 113, and an observation optical system for observing the sample 112. - 特許庁

簡易な方法で安価に平面観察用半導体薄片試料を作製することを可能にする集束イオンビーム加工装置の試料ステージおよびこの試料ステージを用いた透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料の作製方法の提供。例文帳に追加

To provide a sample stage for a focused ion beam processing device, using an easy method for inexpensively making a plane-observed semiconductor thin sample, and to provide a method using the same for making the transmission type electron microscope plane-observed semiconductor thin sample. - 特許庁

特に、高度人材の一類型であるいわゆる「外国人社員」に該当する「技術」、「人文知識・国際業務」及び「企業内転勤」の新規入国者数及び外国人登録者数については、最近顕著な増加が見られる（第2-4-44図）。例文帳に追加

In particular, the recent increase in the number of new entrants and registered foreigners who fall under the categories of “engineer,” “specialist in humanities/international services,” and “intra-company transferee” that correspond to one type of advanced human resources commonly called “foreign employees”110 has been exceptional111 (see Figure 2-4-44). - 経済産業省

ロッド状銀粉と樹脂成分と有機溶剤とからなる銀ペーストであって、前記ロッド状銀粉の粉粒は針状であり、走査型電子顕微鏡像から判断できる一次粒子の平均長径Ｌが１０μｍ以下であることを特徴とする銀ペースト等を採用する。例文帳に追加

The silver paste comprises rod-like silver powders, a resin component, and an organic solvent, and a powder particle of the rod-like silver powders is needle-like, and has an average diameter L of primary particles of not more than 10 μm as measured with a scanning electron microscope. - 特許庁

メモリー機能を有する半導体デバイスＷの裏面Ｗ２に、透過型電子顕微鏡による観察で０．２μｍ以下の厚さのマイクロクラックからなる歪み層１００を形成する。例文帳に追加

A strain layer 100 formed of microcracks of a thickness of 0.2 μm or less observed by a transmission electron microscope is formed in the rear W2 of the semiconductor device W with a memory function. - 特許庁

２ 一方の締約国の権限のある当局又は実施機関は、他方の締約国の権限のある当局又は実施機関の要請がある場合には、当該一方の締約国の法令の下で収集された者に関する情報であって、１に規定する情報以外の情報（当該他方の締約国の法令の実施のために必要なものに限る。）を当該一方の締約国の法令その他関連する法律及び規則に従って、当該他方の締約国の権限のある当局又は実施機関に伝達することができる。例文帳に追加

2. The competent authorities or competent institutions of a Contracting State may, upon the request of the competent authorities or competent institutions of the other Contracting State, transmit, in accordance with the legislation and other relevant laws and regulations of that Contracting State, information about a person other than that information referred to in paragraph 1 of this Article collected under the legislation of that Contracting State, to the competent authorities or competent institutions of that other Contracting State insofar as they are necessary for the implementation of the legislation of that other Contracting State. - 厚生労働省

実機から抜管したサンプル管の金属組織を透過型電子顕微鏡で観察し、Ｃｕ富化相の析出によって生じる歪場の黒点の密度を次のような方法で計測することにより、クリープ損傷を精度よく推定する方法。例文帳に追加

In this method, the creep damage is estimated accurately by observing the metallographic structure of a sample tube extracted from an actual machine by a transmission electron microscope, and by measuring the density of black spots on a strain field generated by deposition of a Cu-enriched phase by the following methods. - 特許庁

２ 一方の締約国の権限のある当局又は実施機関の要請がある場合には、他方の締約国の権限のある当局又は実施機関は、当該他方の締約国の法令の下で収集された個人に関する情報であって、１に規定する情報以外のもの（当該一方の締約国の法令の実施のために必要なものに限る。）を当該他方の締約国の法令その他関連する法律及び規則に従って、当該一方の締約国の権限のある当局又は実施機関に伝達することができる。例文帳に追加

2. Upon the request of a competent authority or competent institution of a Contracting State, the competent authorities or competent institutions of the other Contracting State may transmit, in accordance with the legislation and other relevant laws and regulations of that Contracting State, information about an individual other than that referred to in paragraph 1 of this Article collected under the legislation of that Contracting State to the competent authorities or competent institutions of the first Contracting State insofar as it is necessary for the implementation of the legislation of that Contracting State. - 厚生労働省

１ 一方の締約国の権限のある当局又は実施機関は、当該一方の締約国の法令の下で収集された個人に関する情報（この協定の実施のために必要なものに限る。）を当該一方の締約国の法律及び規則に従って他方の締約国の権限のある当局又は実施機関に伝達する。例文帳に追加

1. The competent authorities or competent institutions of one Party shall, in accordance with its laws and regulations, send to the competent authorities or competent institutions of the other Party information about an individual collected under its legislation insofar as that information is necessary for the implementation of this Agreement. - 厚生労働省

２ 一方の締約国の権限のある当局又は実施機関は、当該一方の締約国の法令の下で収集された個人に関する情報（この協定の実施のために必要なものに限る。）を当該一方の締約国の法律及び規則に従って他方の締約国の権限のある当局又は実施機関に伝達する。例文帳に追加

2. The competent authorities or competent institutions of one Party shall, in accordance with its national statutes and regulations, send to the competent authorities or competent institutions of the other Party information about an individual collected under its legislation insofar as that information is necessary for the implementation of this Agreement. - 厚生労働省

前記磁性粒子は、六方晶フェライト磁性粒子の還元処理物であって、透過型電子顕微鏡により求められる（２２０）面に垂直な方向における粒子径Ｄｔｅｍと、（２２０）面の回折ピークから求められる結晶子サイズＤｃとの比Ｄｃ／Ｄｔｅｍが０．９０〜０．７５の範囲である。例文帳に追加

The magnetic particles are reduction treatment products of hexagonal ferrite magnetic particles, and a ratio Dc/Dtem between a particle diameter Dtem in a direction perpendicular to a face (220) obtained with a transmission electron microscope and a crystallite size Dc obtained from a diffraction peak of the face (220) is within the range of 0.90-0.75. - 特許庁

１ 一方の締約国の権限のある当局又は実施機関は、当該一方の締約国の法令の下で収集された者に関する情報（この協定の実施のために必要なものに限る。）を当該一方の締約国の法律及び規則に従って他方の締約国の権限のある当局又は実施機関に伝達する。例文帳に追加

1. The competent authorities or competent institutions of a Contracting State shall, in accordance with its laws and regulations, transmit to the competent authorities or competent institutions of the other Contracting State information about a person collected under the legislation of that Contracting State insofar as that information is necessary for the implementation of this Agreement. - 厚生労働省

本発明は、集束イオンビーム装置により薄膜化した観察部を作製する際にその側面に生成される非晶質層を除去する透過型電子顕微鏡用試料作製装置に関し、再デポを生じさせないで有効に非晶質層を除去する。例文帳に追加

To effectively remove an amorphous layer without generating deposits again in relation to a sample-forming apparatus for a transmission type electron microscope which removes the amorphous layer generated to the side face of an observation part when forming the thin-filmed observation part by a convergent ion beam apparatus. - 特許庁

ユーザがパスワードなどの情報を意識することなしに、配信サーバに電子データの配信作業を行わせること等を可能とした電子データ配信システム、電子データ配信装置、電子データ検索装置、携帯通信装置、電子データ配信方法、及び記憶媒体を提供する。例文帳に追加

To provide an electronic data distribution system, an electronic data distribution device, an electronic data retrieval device, a portable communication device, an electronic data distribution method and a storage medium, allowing an information distribution server to execute distribution work of electronic data without making a user conscious of information such as a password. - 特許庁

リードフレーム10上に装着した電子部品12の樹脂封止成形用金型とその周辺自動化機構等の構造や全体形状の簡易・小型化と、前記電子部品12と金型キャビティ４・５との位置合わせの簡易・確実化と、前記各電子部品12に対する同一成形条件化等を図ることができる電子部品の樹脂封止成形方法及び金型を提供する。例文帳に追加

To provide a method for sealingly molding resin for an electronic component which can realize simplification and miniaturization of a mold for sealing molding of the electronic component mounted on a lead frame and of a structure or entire shape of an automated mechanism, etc., provided in the vicinity thereof, simplification and accurate positioning between the electronic component and a mold cavity, and setting of identical molding conditions for such electronic components. - 特許庁

また、電子部品実装体１と基板２との接続状態を検査する実装検査装置３は、電子部品実装体１の反り量等、表面形状の異常を測定することで、電子部品実装体１と基板２との接続部分のはんだ形状、及び基板２の形状が正常か否かを検出している。例文帳に追加

The mounting inspection apparatus 3 which inspects the connection state of the mounting body 1 to the board 2 measures the abnormality of a surface shape such as the warpage amount or the like of the mounting body 1, and it detects whether the solder shape of the connection part of the mounting body 1 to the board 2 and the shape of the board 2 are normal or not. - 特許庁

走査型電子顕微鏡等に適した検出器は、p^＋‐拡散層に接続された純ホウ素の薄い層をもつPINフォトダイオードで、そのホウ素層は、アルミニウム・グリッドをもつ電極に接続され、そのホウ素層と電極との間の各々の位置において低い電気抵抗の経路を形成する。例文帳に追加

In this detector suitable for a scanning electron microscope or the like, which is a PIN photodiode having a thin layer of pure boron connected to the p^+-diffusion layer, the boron layer is connected to an electrode having an aluminum grid to form a path of low electrical resistance on each position between the boron layer and the electrode. - 特許庁

充電制御部７は、電圧センサ６において検知された電圧値Ｖが所定値Ｖｓ以下である場合には、普通充電用スイッチ４及び均等充電用スイッチ５のいずれについてオン操作されたときであっても、均等充電を行なうように充電器３を制御する。例文帳に追加

When the voltage value V detected in the voltage sensor 6 is not more than a prescribed value Vs, the charging control part 7 controls the charger 3 so that uniform charging is performed even if any of the common charging switch 4 and the uniform charging switch 5 is turned on. - 特許庁

半球ピンと潤滑剤を載せたディスクの摺動接触点で発生する光子像を、紫外線透過レンズで構成された光学顕微鏡を通して検出し、UV像の発生の有無により、トライボプラズマが潤滑剤の潤滑点の近傍に発生しているかどうかを判定することからなる潤滑剤の劣化測定方法。例文帳に追加

In this lubricant degradation measuring method, a photon image generated in a slide contact point of a disk mounted with a semi-spherical pin and the lubricant is detected through an optical microscope constituted of an ultraviolet ray transmitting lens, and the presence of the generation of triboplasma in the vicinity of a lubricating point of the lubricant is determined based on the presence of a UV image. - 特許庁

透過型電子顕微鏡用薄膜試料の作成にあたり、汚れや破損のない、広範囲にわたる、再現性の良い、平面方向からの最表層サンプリングを可能にすることであり、また、これによって最表層の組織、析出物評価を可能にすることである。例文帳に追加

To sample an outermost-layer from the plane direction extending over a wide range, having no dirt, no damage and excellent reproducibility, at the time of forming a thin film sample for a transmission electron microscope, thereby evaluates structure and deposit of the outermost layer. - 特許庁

試料を照射する１次電子ビームを放出する照射系と、試料から放出された２次電子ビームを検出系へ導く投影結像光学系２４とを備える写像型電子顕微鏡の投影結像光学系２４は、第１のズームレンズ６ａと第２のズームレンズ６ｂとを有するトランスファー・レンズ系２４ｂを備える。例文帳に追加

The mapping type electron microscope includes an illuminating system which irradiates a primary electron beam onto a sample, and the projection imaging optical system 24 which guides a secondary beam irradiated from the sample to a detection system, and the projection imaging optical system 24 is provided with the transfer lens system 24b, having a first zooming lens 6a and a second zooming lens 6b. - 特許庁

電子銃窓３５に加速電子を透過し大気に耐える金属膜、炭素膜、ダイヤモンド膜、ダイヤモンドライクカーボン膜を設け、密封容器３３内が真空に保たれる電子銃２を備える走査型電子顕微鏡装置１とする。例文帳に追加

The scanning electron microscope 1 is provided with an electron gun 2 in which a metal film, a carbon film, a diamond film, and a diamond-like carbon film which transmit accelerating electrons and can endure the atmosphere are provided at the electron gun window 35, and a sealed container 33 is maintained in vacuum. - 特許庁

エネルギー損失量と測定位置情報の二軸で形成される電子エネルギー損失スペクトル像について、各測定位置間での電子エネルギー損失スペクトルの相違点を高効率かつ高精度に補正する透過型電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope for highly efficiently and highly accurately correcting differences in electron energy-loss spectra between measuring positions on electron energy-loss spectral images formed of two axes of the amount of an energy loss and measuring position information. - 特許庁

半導体チップから試料２を切り出し、機械的研磨により薄くした後、透過型電子顕微鏡観察用の単孔メッシュ６に取付け、端面の特定深さの部分にＰｔ膜７を形成し、試料の主面に平行なガリウムイオンビーム８を照射して要部以外の部分をエッチングして薄膜化する。例文帳に追加

A sample 2 is cut from a semiconductor chip to be made thin by mechanical polishing and the thin sample is attached to a single-ported mesh 6 for transmission type electron microscope observation and a Pt film 7 is formed to the part with specific depth of an end surface and irradiated with gallium ion beam 8 parallel to the main surface of the sample to make the part other than a principal part thin by etching. - 特許庁

エネルギーフィルタ方式の透過型電子顕微鏡を用いて、試料の元素分布或いはスペクトルを撮影する場合に、分光計を通して撮影される元素分布或いはスペクトルに関する分光データの撮影時間を試料のドリフトに対応し得るように時分割する。例文帳に追加

When pictures are taken of element distribution of a sample and spectrum using the transmission type electron microscope of a energy filtering type, photography time of spectrum data concerning the element distribution or the spectrum pictured through a spectrometer, is time-shared so that it can respond to a drift of the sample. - 特許庁

電子分光器および透過型電子顕微鏡を用いて、エネルギー損失量と測定位置情報が直交する二軸で形成されるスペクトル像について、スペクトル像の測定倍率および測定位置を高効率かつ高精度に行う。例文帳に追加

To correct measurement magnification and measurement position of a spectral image with high efficiency and with high accuracy using an electronic spectroscope and a transmission electron microscope, regarding the spectral image formed with two axes where an amount of energy loss and a measurement position information are orthogonal to each other. - 特許庁

透過型電子顕微鏡は、試料を保持する試料ステージを、ナノ駆動構造により電子ビームの光軸方向であるＺ軸方向とそれに直交するＸ軸とＹ軸方向（Ｘ軸とＹ軸は互いに直交する）とに移動調整可能とする。例文帳に追加

This transmission electron microscope allows a sample stage holding a sample to be adjusted to be movable by a nano-drive mechanism in the Z-axis direction being an optical axis direction of an electron beam and X-axis and Y-axis directions (the X-axis and the Y-axis are orthogonal to each other) orthogonal thereto. - 特許庁

ベンゾトリアゾールの存在下で活性珪酸を原料として製造されるコロイダルシリカであって、液相にベンゾトリアゾールを含有し、透過型電子顕微鏡観察による長径／短径比が１．２〜１５の範囲にありかつ長径／短径比の平均値が１．５〜１０である非球状の異形シリカ粒子群を含有するコロイダルシリカである。例文帳に追加

The colloidal silica is produced by using an active silicic acid as a raw material in the presence of benzotriazole, and contains benzotriazole in the liquid phase and a group of non-spherical heteromorphic silica particles which has a major axis/minor axis ratio by a transmission electron microscope in the range of 1.2-15 and an average value of the major axis/minor axis ratio of 1.5-10. - 特許庁

（ａ）：前記シリカ粒子の形状係数ＳＦ１が１．００〜１．２０であること（ｂ）：前記シリカ粒子の窒素吸着法により求められる平均一次粒子径が５〜１００ｎｍであって、且つ透過型電子顕微鏡写真の画像解析から求められる粒子径変動係数ＣＶ値が０〜１５％であること（ｃ）：前記ポリエチレングリコールは、数平均分子量が２００〜１５０００であること例文帳に追加

(b) an average primary particle size of the silica particles measured by a nitrogen adsorption method is 5-100 nm and a coefficient of variation CV value of a particle size of the silica particles measured by an image analysis of a photograph obtained by using a transmission electron microscope is 0-15%; and (c) the polyethylene glycol has a number-average molecular weight of 200-15,000. - 特許庁

トリアゾールの存在下で活性珪酸を原料として製造されるコロイダルシリカであって、液相にトリアゾールを含有し、透過型電子顕微鏡による長径／短径比が１．０〜５の範囲にありかつ長径／短径比の平均値が１．２〜３である非球状の異形シリカ粒子群を含有するコロイダルシリカである。例文帳に追加

The colloidal silica is produced by using an active silicic acid as a raw material in the presence of triazole, and contains triazole in the liquid phase and a group of non-spherical heteromorphic silica particles which has a major axis/minor axis ratio by a transmission electron microscope in the range of 1.0-5 and an average value of the major axis/minor axis ratio of 1.2-3. - 特許庁

ＳＥＭオペレータが独自のノウハウに基づきマニュアルで生成した撮像レシピと同等あるいはそれ以上の性能をもつ撮像レシピを正確にかつ高速に生成する機能を備えた走査型電子顕微鏡装置ならびにそれを用いた撮像方法を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope device having a function to produce precisely and rapidly an imaging recipe having an equal or better performance than an imaging recipe produced manually by SEM operators based on their own unique know-how, and to provide an imaging method using the same. - 特許庁

透過型電子顕微鏡において、複数の試料透過像間の視野ずれの量を計算する手段と、電子線を偏向させる偏向器に与える電流をかえて、または試料を移動させて視野ずれを自動的に補正する手段と、以上の手段の動作を繰り返して視野ずれを減少させる制御手段とを備える。例文帳に追加

A transmission electron microscope comprises a means for calculating an deviation amount in visual field among a plurality of sample permeation images, a means for changing an electric current given in a deflector for deflecting an electron beam or moving a sample to automatically correct the deviations in visual field, and a control means for repeating this operation means to decrease the deviations in the visual field. - 特許庁

結晶融解ピーク温度が２６０℃以上であるポリアリールケトン樹脂７０〜３０重量％と非晶性ポリエーテルイミド樹脂３０〜７０重量％とからなるフィルムを結晶化処理したフィルムであって、透過型電子顕微鏡で観察した際に、最大結晶粒径が０．３μｍ以下であることを特徴とする耐熱性フィルム。例文帳に追加

The heat-resistance resin is obtained by subjecting to a crystallization treatment a film comprising 70-30 wt.% of a polyarylketone resin having a crystal melting peak temperature of at least 260°C and 30-70 wt.% of a non- crystalline polyetherimide resin and has a maximum crystal grain size of at most 0.3 μm as observed by a transmission electron microscope. - 特許庁

集束イオンビームを用いて透過型電子顕微鏡で観察をおこなうための薄膜試料を作製する方法において、大きな試料基板から観察所望部位を確実に抽出し、薄膜試料作製のための仕上げ加工を行なう際に、観察所望部位を試料ホルダに安定して保持することができるようにする。例文帳に追加

To hold an observation desired portion stably on a sample holder, when extracting surely the observation desired portion from a large sample substrate and performing finishing process for preparing a thin-film sample, in a method for preparing the thin-film sample for performing observation by a transmission electron microscope by using a focused ion beam. - 特許庁

高分子電解質と高分子非電解質とからなる複合型電解質膜であって、電解質膜の断面を透過型電子顕微鏡で観察した際、高分子電解質が高分子非電解質中に粒状に分散してなる構造、あるいはそれぞれが層状となっている構造を持ち、なおかつ高分子電解質が膜の厚さ方向で５ミクロンメートル以下の形態である複合形態をとり、異なる高分子電解質／高分子非電解質の配合比を持った少なくとも２層からなる高分子電解質膜を用いることによる。例文帳に追加

The polymer electrolyte membrane takes a composite form in the form that the polymer electrolyte is ≤5 micron meters in the thickness direction of the membrane and includes at least two layers having a different compounding ratio of polymer electrolyte/polymer nonelectrolyte. - 特許庁

特に、ＴＦＴ３０は、Ｐチャネル型トランジスタより不対結合手及びキャリアトラップが発生し易いＮチャネル型トランジスタであり、アニール処理等の所定の処理によって、不対結合手及びキャリアトラップに起因して生じるＢＴ試験後のおける動作特性及び信頼性の低下が効果的に抑制されている。例文帳に追加

In particular, a TFT 30 is an N channel transistor that easily generates unpaired coupling hand and carrier trapping than a P channel transistor, and a predetermined treatment such as annealing or the like effectively suppresses the degradation of operational characteristic or reliability after BT testing caused by the unpaired coupling hand or carrier trapping. - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡像をデジタル化しコンピュータに取り込み、デジタル２次元フーリエ変換をすることによって回折パターンを形成し、回折パターン中の一又は複数の回折スポット位置を求め、理想的な結晶構造の場合の回折点の位置と比較することで、結晶格子の歪みを検出する。例文帳に追加

Scanning transmission type electronography is digitalized to be taken in a computer and subjected to digital two-dimensional Fourier transform to form a diffraction pattern and one or a plurality of diffraction spot positions in the diffraction pattern are calculated to be compared with the position of a diffraction point in the case of an ideal crystal structure to detect the strain of a crystal lattice. - 特許庁

透過型電子顕微鏡に用いられる試料保持用のメッシュ１３において、前記メッシュの一部（第１のメッシュ１３−１）が分離し、当該一部が、分離後に残った部分（第２のメッシュ１３−２）と脱着可能な形態とすることにより、測定中、試料の先端を崩さずに、精度の高い元素分析を行なう。例文帳に追加

The sample holding mesh 13 used for a transmission electron microscope has a separable part (a primary mesh 13-1) and this part is made to be detachable from the remaining part (a secondary mesh 13-2) after separation so that it may not break a tip of the sample during measurement and precise elemental analysis can be performed. - 特許庁