electron microscopicとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 電子顕微鏡的の、電子顕微鏡的の、電子顕微鏡の
ライフサイエンス辞書での「electron microscopic」の意味 |
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「electron microscopic」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 46件
METHOD OF MANUFACTURING SAMPLE FOR ELECTRON-MICROSCOPIC OBSERVATION例文帳に追加
電子顕微鏡観察用試料の作製方法 - 特許庁
METHOD OF PREPARING THIN FILM SAMPLES FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPIC OBSERVATION例文帳に追加
透過電子顕微鏡用薄膜観察試料作成方法 - 特許庁
METAL THIN FILM FORMING METHOD FOR MICROSCOPIC OBSERVATION SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査型電子顕微鏡用検鏡試料の金属薄膜成膜方法 - 特許庁
METHOD FOR CORRECTING ASTIGMATISM IN ELECTRON EMISSION MICROSCOPIC SPECTRAL IMAGING例文帳に追加
電子放出顕微分光撮像での非点収差を補正するための方法 - 特許庁
VACUUM ANALYZER, MASS SPECTROMETER AND ELECTRON MICROSCOPIC APPARATUS例文帳に追加
真空分析装置、質量分析装置および電子顕微鏡装置 - 特許庁
MICROGRID FOR SUPPORTING ELECTRON MICROSCOPIC SAMPLE AND ITS MANUFACTURE例文帳に追加
電子顕微鏡試料支持用マイクログリッド及びその製造方法 - 特許庁
FORMATION FOR THIN FILM SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPIC OBSERVATION例文帳に追加
透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料作製方法 - 特許庁
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「electron microscopic」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 46件
To provide a device for controlling an electron microscope that facilitates the moving operation of a microscopic image.例文帳に追加
顕微像の移動操作を容易にする電子顕微鏡の制御装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
The micron marker of the obtained size is superimposed on the electron microscopic image and displayed.例文帳に追加
得られた寸法のミクロンマーカを電子顕微鏡像に重畳して表示する。 - 特許庁
TISSUE SAMPLE FORMATION METHOD, TISSUE SAMPLE FORMATION DEVICE, AND JIG FOR FORMING ELECTRON MICROSCOPIC SAMPLE例文帳に追加
薄片試料作製方法、薄片試料作製装置、電子顕微鏡用試料作製治具 - 特許庁
A personal computer 20 acquires the microscopic image generated by the electron microscope 10, and performs image processing using maximum entropy method to the microscopic image.例文帳に追加
パーソナルコンピュータ20は電子顕微鏡10によって生成された顕微鏡画像を取得し、前記顕微鏡画像に最大エントロピー法を用いた画像処理を施す。 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPIC METHOD, CHARGED PARTICLE BEAM INSPECTION METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
荷電粒子線顕微鏡装置、荷電粒子線応用装置、荷電粒子線顕微方法、荷電粒子線検査方法、及び電子顕微鏡装置 - 特許庁
It is preferable that particulate iron having a particle diameter of ≥1 nm is not observed by microscopic observation with a transmission electron microscope (TEM).例文帳に追加
好ましくは、透過電子顕微鏡(TEM)観察により、粒子径1nm以上の粒子状の鉄が観測されない多孔質構造体。 - 特許庁
To provide a method for easily making a transmission electron microscopic sample without requiring an exclusive device.例文帳に追加
簡便でかつ専用の装置を必要としない、透過型電子顕微鏡観察用の試料作製方法を提供すること。 - 特許庁
A scanning electron microscope 10 generates a microscopic image by emitting electron beams from an electron gun to a sample, and detecting secondary electrons generated from the sample.例文帳に追加
走査電子顕微鏡10は、電子銃から電子線を試料に照射し、試料から発生した二次電子を検出することによって顕微鏡画像を生成する。 - 特許庁
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