電子顕微鏡的観察の英語

比較的簡易な作業にて、電子顕微鏡で容易に観察することができる電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供することにある。例文帳に追加

To provide a method for preparing a sample for electron microscope observation capable of readily performing observation, using an electron microscope with a relatively simple work. - 特許庁

本発明は電子顕微鏡に関し、大気圧での気体と固体の反応過程の観察が実現できる電子顕微鏡を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide an electron microscope capable of observation of a reaction process between a gas and a solid at atmospheric pressure. - 特許庁

光学顕微鏡とＣＣＤカメラを用いた比較的安価で、電子部品等の内部を非破壊で観察可能な赤外顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide an infrared microscope which uses an optical microscope and a CCD camera, is relatively inexpensive, and can observe the inner side of an electronic component, etc., without destruction. - 特許庁

本発明は像観察用カメラを備える電子顕微鏡に関し、視野を変えることなく観察像を任意の角度に回転させることができる像観察用カメラを備える電子顕微鏡を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide an electron microscope with a camera for image observation, capable of rotating an observation image to an optional angle without changing the visual field. - 特許庁

本発明は断面観察用走査電子顕微鏡に関し、観察断面が明るく見えるような断面観察用走査電子顕微鏡を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a cross-section observation scanning electron microscope for allowing the bright view of an observed cross section. - 特許庁

光学顕微鏡で観測した平均繊維長（Ｌ１）が１０μｍ以上４０μｍ以下であって、透過型電子顕微鏡によるフィラー端面観察においてグラフェンシートが閉じており、走査型電子顕微鏡での観察表面が実質的に平坦であるピッチ系炭素短繊維フィラー。例文帳に追加

The pitch-based carbon short fiber filler has >10 to ≤40 μm average fiber diameter (L1) observed under an optical microscope, a closed graphene sheet in observation of a filler end face under a transmission type electron microscope, and a substantially flat surface observed under a scanning electron microscope. - 特許庁

光学顕微鏡で観測した平均繊維長（Ｌ１）が４０μｍ以上８０μｍ未満であって、透過型電子顕微鏡によるフィラー端面観察においてグラフェンシートが閉じており、走査型電子顕微鏡での観察表面が実質的に平坦であるピッチ系炭素短繊維フィラー。例文帳に追加

The pitch-based carbon short fiber filler has a mean fiber length (L1) of 40 μm or more but less than 80 μm observed with an optical microscope, a closed graphene sheet by filler end face observation with a transmission electron microscope, and a substantially flat surface observed with a scanning electron microscope. - 特許庁