電子顕微鏡術の英語

助手用カメラを顕微鏡本体の内部へ組込まずに、主術者は術部の光学像を肉眼で観察できながら、助手は術部の電子映像をステレオビュアで観察できる立体顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a stereoscope microscope which enables an assistant to observe the electron image of an operation part by a stereoscopic viewer while observing the optical image of operation part by the naked eye of a master operator without incorporating an assistant's camera in a microscope main body. - 特許庁

表面の面粗さがＪＩＳ Ｂ ０６０１に規定される算術平均粗さ（Ｒａ）で０．０５〜１．０μｍとしてなる電子顕微鏡用試料台。例文帳に追加

In this sample table for the electron microscope, surface roughness of a surface is set to 0.05 to 1.0 μm in arithmetical mean roughness Ra stipulated in JIS B 0601. - 特許庁

電子顕微鏡応用装置および試料検査方法において、試料の帯電を制御することができる技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technology of enabling to control charge of a testpiece in an electron microscope application device and a testpiece inspecting method. - 特許庁

電子波の遮蔽を極小化し、かつ絶縁膜の帯電の影響を回避できる電子顕微鏡の位相板を高度な製造技術を利用せずに提供し、光学要素を大幅に変更・追加必要としない位相差電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a phase plate of an electron microscope which minimizes shielding of an electron wave and prevents effect of charge of an insulation film without using an advanced manufacturing technology, and provide a phase difference electron microscope which does not require significant change and addition of an optical element. - 特許庁

放射電子顕微鏡技術の分野において、絶縁物試料を観察した際に生じる試料表面の帯電や電位歪みを抑制し、鮮明な電子像を得て正確なエネルギースペクトルを得るための手法と、それを応用した放射電子顕微鏡の提供。例文帳に追加

To provide a technique for obtaining accurate energy spectral for obtaining a sharp electron image by suppressing the charging or potential strain on the surface of an insulator sample, caused when the insulator sample is observed in the field of an photoemission electron microscopic technique, and to provide a photoemission electron microscope that applies this technique. - 特許庁

高分解能の電子顕微鏡の特徴であるノイズ成分を多く含む画像に対し、ノイズの低減と画像の輪郭の強調という、従来技術では相反する画像処理を同時に行うことのできる電子顕微鏡の画像処理システムを提供する。例文帳に追加

To provide an electron microscopic image processing system, capable of simultaneously performing reduction in noise and contour emphasis of an image which are conflicting image processing in the conventional art, in regard to an image containing many noise components which is a characteristic of a high-resolution electron microscope. - 特許庁

実像と電子回折像を測定する際の微小径かつ平行な電子線を、明るくかつ均一な強度分布にする位相回復方式の電子顕微鏡による観察技術を提供する。例文帳に追加

To provide an observation technology by a phase retrieval type electron microscope, making the intensity distribution of a parallel electron beam with a microscopic diameter in measuring a real image and an electron diffraction pattern bright and uniform. - 特許庁