manufacturing a sampleとは 意味・読み方・使い方

In the method of manufacturing a thin film sample, a lump of the index sample is stuck to the analyte sample, they are integrated, and the integrated part is cut to form a sample piece.例文帳に追加

本発明の薄膜試料の作製方法では、検体試料に指標試料の塊を密着させて一体化させ、一体化させた部分を切り取って試料片とする。 - 特許庁

To provide a sample manufacturing device capable of saving the trouble needed to clean a sample cassette.例文帳に追加

標本カセットの洗浄に要する手間を軽減することが可能な標本作製装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample plate being a functional sample plate which has a sample fixed to its surface and ionizes the sample by applying energy to the sample, simplified in manufacturing process and flexibly altered in its constitution.例文帳に追加

表面に固着されるサンプルにエネルギーを与えることによりこれをイオン化させる機能性サンプルプレートであって、製作工程が簡略化され、構成を柔軟に変更可能なサンプルプレートを提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a quantitative contamination sample and an apparatus of manufacturing the same sample that can, with high efficiency and in a short time, contaminate the surface of a substrate with good quantifiability as well as with good reproducibility.例文帳に追加

短時間に高い効率で基板表面を定量性、再現性よく汚染しうる定量汚染試料作製方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a sample sensitive to heat or a solvent for electron microscope observation.例文帳に追加

熱や溶剤に弱い電子顕微鏡観察用の試料の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample manufacturing method for analyzing of a micro region, observing or measuring by separating or preparing for separation of a minute sample containing a desired specific region from a sample of an electronic components or the like such as a semiconductor wafer or a device without inclining a sample stage, as well as a sample manufacturing device thereof.例文帳に追加

試料ステージを傾斜することなく、半導体ウェーハやデバイスなどの電子部品等の試料から所望の特定領域を含む微小試料を、分離または分離準備して、微小領域分析や観察、計測用の試料作製方法およびその試料作製装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a section observation sample obtaining a clean machining section without being affected by the size of the sample, when manufacturing the section observation sample by etching using ion beams.例文帳に追加

イオンビームでエッチング加工して断面観察試料を作製する場合に、試料の大きさに影響されないで清浄な加工断面が得られる断面観察試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide combinatorial device manufacturing equipment capable of excellently manufacturing a sample device with a simple configuration while eliminating a movable unit.例文帳に追加

可動部を省略し、簡略な構成でサンプルデバイスを良好に製造できるコンビナトリアルデバイス製造装置を提供する。 - 特許庁