電子顕微鏡解析の英語

ゼーベック効果（熱電材料）解析用電子顕微鏡試料ホルダ例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE HOLDER FOR SEEBECK EFFECT (THERMOELECTRIC MATERIAL) ANALYSIS - 特許庁

走査型電子顕微鏡およびそれによる欠陥部位解析方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECTIVE POSITION ANALYSIS METHOD USING IT - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料保持体およびその製造方法、透過型電子顕微鏡用試料およびその製造方法、並びに、透過型電子顕微鏡用試料を用いた観測方法および結晶構造解析方法例文帳に追加

TEST PIECE CARRIER FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, OBSERVATION AND CRYSTAL STRUCTURE ANALYSIS METHODS USING THE SAME, AND TEST PIECE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡による燃料電池触媒層に含まれる触媒の定量的解析方法例文帳に追加

QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD OF CATALYST CONTAINED IN FUEL CELL CATALYST LAYER BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

マイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法例文帳に追加

METHOD FOR ANALYZING MATERIAL IN MICROCAPSULE BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

低加速電圧を用いた高精度な三次元解析を行える走査型電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope conducting highly precise three-dimensional analysis using low acceleration voltage. - 特許庁

解析箇所を探す手間を少なくすることが可能な走査電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of reducing labor for searching an analysis point. - 特許庁

電子顕微鏡観察用試料の作成方法及び半導体装置の解析方法例文帳に追加

METHOD FOR PREPARING SAMPLE TO BE OBSERVED UNDER ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD FOR ANALYZING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁