電子顕微鏡評価の英語

走査型電子顕微鏡装置及び走査型電子顕微鏡装置における装置としての再現性能評価方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND REPRODUCIBILITY EVALUATION METHOD AS DEVICE IN THE SAME - 特許庁

電子顕微鏡システム及びそれを用いたレジストパターンの膜厚減少量評価方法例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND FILM THICKNESS REDUCTION AMOUNT EVALUATION METHOD OF RESIST PATTERN USING IT - 特許庁

走査型電子顕微鏡装置、及び評価ポイント生成方法、並びにプログラム例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, EVALUATION POINT GENERATION METHOD, AND PROGRAM - 特許庁

電子顕微鏡により試料を正確に定量評価する装置および方法を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and a method, which evaluate a test piece exactly and quantitatively with an electron beam microscope. - 特許庁

収差評価用パターン、収差評価方法、収差補正方法、電子線描画装置、電子顕微鏡、原盤、スタンパ、記録媒体、及び構造物例文帳に追加

ABERRATION EVALUATION PATTERN, ABERRATION EVALUATION METHOD, ABERRATION CORRECTION METHOD, ELECTRON BEAM DRAWING APPARATUS, ELECTRON MICROSCOPE, MASTER, STAMPER, RECORDING MEDIUM AND STRUCTURE - 特許庁

目視官能評価によらない走査形電子顕微鏡の性能評価を行い、走査形電子顕微鏡の経時変化や個体間の性能差を低減する。例文帳に追加

To evaluate the performance of a scanning electron microscope without using visual sensory evaluation to reduce aging effect and a performance difference between individuals of the scanning electron microscope. - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡を用いて簡易に歪の分布解析を行う結晶材料の格子歪評価方法、評価システムを提供する。例文帳に追加

To provide a lattice strain evaluation method of a crystal material for easily performing strain distribution analysis by using a scanning transmission electron microscope, and an evaluation system. - 特許庁

結晶材料に電子を入射して得られる電子顕微鏡像において、コントラストから、格子歪分布を評価する。例文帳に追加

In an electron microscope image obtained, by making electrons incident on the crystal material, the lattice strain distribution is evaluated from contrast. - 特許庁