「とうかがたでんしけんびきょう」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

光学顕微鏡で観測した平均繊維長（Ｌ１）が４０μｍ以上８０μｍ未満であって、透過型電子顕微鏡によるフィラー端面観察においてグラフェンシートが閉じており、走査型電子顕微鏡での観察表面が実質的に平坦であるピッチ系炭素短繊維フィラー。例文帳に追加

The pitch-based carbon short fiber filler has a mean fiber length (L1) of 40 μm or more but less than 80 μm observed with an optical microscope, a closed graphene sheet by filler end face observation with a transmission electron microscope, and a substantially flat surface observed with a scanning electron microscope. - 特許庁

光源が点灯した後の一定時間において照度が安定しないという課題を解決し、従来にはなかったデジタル顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a digital microscope which is not available before, by solving a problem that its luminance is not stable in a certain time period after a light source is lit. - 特許庁

透過型電子顕微鏡観察における対物レンズのデフォーカス量及び対物絞りの選定といった条件選定を、計算を利用することで作業を軽減し、得られた電子顕微鏡像の解釈を容易にする。例文帳に追加

To facilitate interpretation of electron microscope images obtained through alleviation of works by utilizing calculation on selection of conditions such as defocusing volumes or an objective lens aperture in a transmission electron microscope observation. - 特許庁

走査型又は透過型電子顕微鏡、オージェ電子分光装置等の表面分析装置、電子線露光機、特に、電子ビームの加速電圧が１ｋＶ以下の低加速で用いられる走査型電子顕微鏡、ＣＤ ＳＥＭ、ＤＲＳＥＭ等の半導体ウェハ検査装置に用いられる電子源を提供する。例文帳に追加

To provide an electron source which is used for a semiconductor wafer inspection device such as a scanning or transmission electron microscope, a surface analyzer like an Auger electron spectroscopic analyzer, an electron beam exposure apparatus, especially a scanning electron microscope using an electron beam accelerated with low voltage of 1 kV or less, a CD SEM, or a DRSEM. - 特許庁

上記体液は血液または喀痰であることを特徴とし、検出方法はラマン分光顕微鏡や透過型電子顕微鏡を用いて、該食細胞に蓄積した上記粒子を検出する。例文帳に追加

The body fluid is blood or sputum, and a Raman spectroscopic microscope or a transmission electron microscope is used for a detection method to detect the particles accumulated on the phagocytes. - 特許庁

透過型電子顕微鏡５は、反射型電子顕微鏡５による撮影終了後に、静止したバイオセル１２の表面１２ａの三次元形状と、静止した生体試料１１の三次元形状を撮影する。例文帳に追加

A transmission electron microscope 5 photographs a three-dimensional shape of the surface 12a of the static bio cells and that of a static organic sample 11, after photographing by the reflection electron microscope 4. - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡を用いて簡易に歪の分布解析を行う結晶材料の格子歪評価方法、評価システムを提供する。例文帳に追加

To provide a lattice strain evaluation method of a crystal material for easily performing strain distribution analysis by using a scanning transmission electron microscope, and an evaluation system. - 特許庁

磁場解析が可能な透過型電子顕微鏡用の試料ホルダであって、in-situで熱傾斜をかけることができる試料ホルダ。例文帳に追加

The sample holder for a transmission electron microscope capable of magnetic field analysis can apply a thermal slope in-situ. - 特許庁

本発明は、透過型電子顕微鏡グリッドの製造方法、及び該透過型電子顕微鏡グリッドに用いられるグラフェンシート−カーボンナノチューブフィルム複合構造体の製造方法。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing a transmission electron microscope grid, and a method of manufacturing a graphene sheet-carbon nanotube film composite structure to be used for the transmission electron microscope grid. - 特許庁

電子顕微鏡、電子描画装置等の電子銃において、小型で高真空維持が達成可能な電子銃を提供する。例文帳に追加

To provide an electron gun for an electron microscope, an electronic drawing apparatus and the like, which is small and can maintain high vacuum. - 特許庁

本発明は、透過型電子顕微鏡グリッド、及び該透過型電子顕微鏡グリッドに用いられるグラフェンシートーカーボンナノチューブフィルム複合構造体に関するものである。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope grid, and a graphene sheet-carbon nanotube film composite structure to be used for the same. - 特許庁

電子線回折像の観察領域を重複及び欠落なしに、見つけ出すことができる透過型電子顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope capable of finding an observation area of an electron beam diffraction image without overlapping and omission. - 特許庁

リソグラフィ装置、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）などの電子ビーム利用装置のための熱陰極の寿命を延ばすとともに電子光学的性能を改善する。例文帳に追加

To elongate life of and improve electrooptic performance of a thermionic cathode for a device using electron beams such as a lithography device, a scanning electron microscope (SEM), and a transmission electron microscope (TEM). - 特許庁

簡便でかつ専用の装置を必要としない、透過型電子顕微鏡観察用の試料作製方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for easily making a transmission electron microscopic sample without requiring an exclusive device. - 特許庁

この組織性状は透過型電子顕微鏡(TEM) の観察によっても粒状組織が識別できない組織状態である。例文帳に追加

The particle-state structure is not able to be identified by transmission electron microscope(TEM) observation. - 特許庁

透過型電子顕微鏡おいて、光学素子をセンタリングする際にコントラスト向上素子の汚染や損傷を防止する方法の実現。例文帳に追加

To actualize a method for preventing contamination and breakage in a contrast enhancing element in centering an optical element in a transmission electron microscope. - 特許庁

集束イオンビーム加工装置の試料ステージと透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料の作製方法例文帳に追加

SAMPLE STAGE FOR FOCUSED ION BEAM PROCESSING DEVICE, AND METHOD FOR MAKING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE PLANE-OBSERVED SEMICONDUCTOR THIN SAMPLE - 特許庁

回折像の中心スポットを遮光して、高精度の回折像が得られる透過型電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope capable of generating a high precision diffraction pattern, by shielding light at central spot of the diffraction pattern. - 特許庁

まず、微分干渉顕微鏡８による透明な実装基板１を介した電極パッド３の観察像を、電子画像データとして得る。例文帳に追加

First of all, an observation image of the electrode pad 3 through a transparent mounting substrate 1 by a differential interference microscope 8 is acquired as electronic image data. - 特許庁

吸収コントラストの小さい試料を３次元画像として観察可能とする透過型電子顕微鏡を得る。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope allowing a small sample having small absorption contract to be observed as a three-dimensional image. - 特許庁

透過型電子顕微鏡本来の高性能の観察を行うために有用な試料表面の処理方法を提供する。例文帳に追加

To provide a sample surface treating method useful for observation of high performance intrinsic to a transmission electron microscope. - 特許庁

半導体１０の観察を受ける部分に透過型電子顕微鏡からの電子の透過を許す薄膜部１６を形成し、該薄膜部に所定のエッチング処理を施して透過型電子顕微鏡用半導体試料１３を作成する方法。例文帳に追加

A thin-film part 16 for allowing electrons from a transmission- type electron microscope to be transmitted is formed at a part where a semiconductor is observed, and a specific etching treatment is made to the thin-film part 16, thus preparing a semiconductor sample 13 for the transmission-type electron microscope. - 特許庁

集束イオンビームを照射して透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料を作製する。例文帳に追加

The focused ion beams are emitted to make the transmission type electron microscope plane-observed semiconductor thin sample. - 特許庁

収差の影響を回避した連続視野像を撮影することができる透過型電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope allowing a continuous visual field image avoiding influence of aberration to be photographed. - 特許庁

共焦点顕微鏡の画像を処理する画像処理装置等における画像処理の効率化を図るべく、共焦点顕微鏡の画像を撮影した電子カメラの複数の出力画面データ等の３次元データに対して、さらに効率的に、読出、及び、書込が可能な、データ記憶装置を提供する。例文帳に追加

To provide a data storage device, further efficiently reading and writing three-dimensional data such as a plurality of output screen data from an electronic camera which takes confocal microscopic images, to enhance the efficiency of image processing in an image processor or the like for processing the confocal microscopic images. - 特許庁

最後にイオンミリング装置を用い、観察部分１４を数百ｎｍまで薄片化して透過型電子顕微鏡用の試料を完成させる。例文帳に追加

Finally, by using an ion milling device, the observation part 14 is thinned to approximately several hundred nm, thus completing a sample for a transmission electron microscope. - 特許庁

常に試料の傾斜や回転の状態を正確に把握することができる透過型電子顕微鏡を実現する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope, capable of always correctly acquiring the state of inclination and rotation of a sample. - 特許庁

さらに本発明の観測方法は、本発明の試料２０を試料ホルダーにセットして透過型電子顕微鏡に装着する事により行う。例文帳に追加

The observation method is carried out in such a manner that the test piece 20 which is set up on a test piece holder is mounted on a transmission type electron microscope. - 特許庁

透過型電子顕微鏡を用いた電子線ホログラフィ観察は、要求する空間分解能を実現させるための電子光学系の条件探索が複雑であり、電子顕微鏡の操作に不慣れな者にとっては長時間を費やす作業である。例文帳に追加

To solve a problem in which an electron beam holography observation using a transmission type electron microscope has a complicated condition search of an electron optical system for achieving a required space resolution, and takes a long time for a person who is not familiar with the operation of an electron microscope. - 特許庁

識別機能を備えたＴＥＭ試料及びＴＥＭ試料加工用集束イオンビーム装置並びに透過型電子顕微鏡例文帳に追加

TEM SAMPLE WITH IDENTIFICATION FUNCTION, TEM SAMPLE-PROCESSING FOCUSED ION BEAM DEVICE AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

使用する電解液が極めて少量であり、環境への負荷が劇的に減少すると共に、透過型電子顕微鏡による試料の観察視野も広く且つ安価な電解研磨装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inexpensive electrolytic polishing device having a wide observation visual field of a sample by a transmission electron microscope, requiring an extremely small amount of electrolytic solution to be used, and reducing dramatically a load on an environment. - 特許庁

高性能透過型電子顕微鏡において、アクチュエータに圧電素子を用いたシャッタ装置の駆動による機械的振動をより減少させる。例文帳に追加

To further reduce mechanical vibrations due to drive of a shutter device using a piezoelectric element for an actuator in a high performance transmission type electron microscope. - 特許庁

試料傾斜機構や人間では制御できない傾斜を電気的に行い、精密な傾斜合わせを実現する透過型電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope which electrically performs a tilt adjustment impossible for a person or a sample tilt mechanism to control, and achieves a precise tilt adjustment. - 特許庁

電子分光器を有する透過型電子顕微鏡装置，試料ホルダ，試料台及びスペクトル像の取得方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS HAVING ELECTRON SPECTROSCOPE, SAMPLE HOLDER, SAMPLE STAGE, AND METHOD FOR ACQUIRING SPECTRAL IMAGE - 特許庁

透過型電子顕微鏡によるフィラー端面観察においてグラフェンシートが閉じており、走査型電子顕微鏡での観察表面が実質的に平坦であるピッチ系炭素短繊維フィラーであり、個数平均繊維長が８０μｍ以上５００μｍ以下であることをピッチ系炭素短繊維フィラー。例文帳に追加

In the pitch-based carbon short fiber filler, a graphene sheet is closed at a filler end face when observed by a transmission electron microscope, while a surface observed by a scanning electron microscope is substantially flat, and the number average fiber length is 80 to 500 μm. - 特許庁

電子ビームを試料上で傾斜させて走査した場合でも、主ビームが常に円環状の暗視野走査像検出器の中心を通るようにすることができる走査像観察機能を有した透過型電子顕微鏡を実現する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope having a scan image observation function for always passing a main beam through the center of an annular dark-field scan image detector even when scanning is carried out by a tilted electron beam on a sample. - 特許庁

得られた再生処理後の触媒について、透過型電子顕微鏡による観察を行い、触媒の再利用の適不適を判定する。例文帳に追加

The obtained regenerated hydrotreatment catalyst is observed through a transmission electron microscope and whether the regenerated hydrotreatment catalyst is suitably reused is judged. - 特許庁

高い倍率で安定して再現性の良い鮮明な走査透過型電子顕微鏡像の観察を可能にする。例文帳に追加

To provide a scanning transmission type electron microscope capable of stably observing a clear image which is reproducible at high magnification. - 特許庁

電子顕微鏡の設置室の床変動に対して、鏡筒部への振動を改善した架台筐体の構造を備えた電子顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide an electron microscope, having a structure of a frame casing improved in vibrations to a lens-barrel part with regard to the floor fluctuation of an installation room of the electron microscope. - 特許庁

応答速度が速く、且つ発光強度が高い発光体と、これを用いた電子線検出器、走査型電子顕微鏡及び質量分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a luminous body with high speed of response and luminescence intensity, and to provide an electron beam detector, scanning electron microscope and mass spectroscope using the same. - 特許庁

エネルギーフィルタを備えた電子顕微鏡において、フィルタの中心面対称性を維持しつつ、鏡筒の高さの増大を抑制する。例文帳に追加

To suppress the height increase of a lens-barrel while maintaining the center face symmetry of an energy filter in an electron microscope provided with the energy filter. - 特許庁

透過型電子顕微鏡法用サンプルの作成方法の場合、サンプルはサンプル材料の基材（１１０）から準備される。例文帳に追加

In a method of producing samples for transmission electron microscopy, a sample is prepared from a substrate (110) of a sample material. - 特許庁

電子レンズの球面収差による制約を受けることなく高散乱角の散乱電子を検出し、深さ分解能を向上させることができる透過型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope and a sample observation method capable of detecting scattered electrons of a high scattering angle, without receiving restrictions due to the spherical aberrations of an electron lens and improving the depth resolution. - 特許庁

ガラス繊維配合ポリマーを、0.01vol％以上1vol%以下の濃度のフッ化水素酸水溶液に5分以上24時間以下浸漬し、ガラス繊維のみを浸食させることを特徴とする透過型電子顕微鏡の検鏡試料作成法。例文帳に追加

The microtomy for the transmission type electron microscope is characterized by that only glass fiber is eroded by dipping glass fiber mixed polymer in a hydrofluoric acid solution with a concentration of ≥0.01 vol.% and ≤1 vol.% for ≥ five minutes and ≤24 hours. - 特許庁

透過型電子顕微鏡４から半導体装置１に照射された収束電子線２は、透過電子線３として半導体装置１を透過し、スリット５を介して磁場偏向型エネルギーフィルタ７に入射される。例文帳に追加

The converged electron beam 2 allowed to irradiate a semiconductor device 1 from a transmission electron microscope 4 transmits through the semiconductor device 1 as transmitted electron beam 3 to be allowed to be incident on a magnetic field deflecting type energy filter 7 through a slit 5. - 特許庁