オージェ分光法の英語

オージェ電子分光分析方法およびその装置例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY AND ITS DEVICE - 特許庁

オージェ電子分光装置およびスペクトル測定方法例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTROMETER AND METHOD FOR MEASURING SPECTRUM - 特許庁

オージェ電子分光装置による元素分析方法例文帳に追加

METHOD FOR ELEMENTAL ANALYSIS USING AUGER ELECTRON SPECTRAL EQUIPMENT - 特許庁

オージェ電子分光分析方法及び分析試料ホルダー例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTRAL ANALYSIS METHOD AND ANALYZED SPECIMEN HOLDER - 特許庁

オージェ電子分光分析装置およびそれを用いた分析方法例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTROSCOPE ANALYZING APPARATUS AND ANALYZING METHOD USING THE SAME - 特許庁

オージェ電子分光による化学状態分析法及び装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING CHEMICAL STATE BY AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY - 特許庁

外径７０ｍｍのコンフラットフランジに設けられた内径３５ｍｍのパイプに対して十分に取り付けることが可能な、特に外径において小型化されたオージェ電子分光器及びこの分光器を用いたオージェ電子分光法を提供する。例文帳に追加

To provide an Auger electron spectroscope which is sufficiently installed at a pipe having an internal diameter of 35 mm and disposed at a Conflat flange having an outer diameter of 70 mm, and especially, which is made compact in its outside diameter, and also to provide Auger electron spectroscopy which uses the spectroscope. - 特許庁

導電性の異物除去探針の場合にはオージェ電子分光法または二次イオン質量分析法で異物または異物の削り滓を組成分析する。例文帳に追加

When a conductive foreign substance removal probe is used, the foreign substance or the scraped residue of the foreign substance is subjected to composition analysis by Auger electron spectroscopy or secondary ion mass spectrometry. - 特許庁