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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > オージェ分光法に関連した英語例文

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オージェ分光法の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 22



例文

オージェ電子分光器、及びオージェ電子分光例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTROSCOPE AND AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY - 特許庁

オージェ電子分光(AES)例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY (AES) - 特許庁

オージェ電子分光分析装置及びオージェ電子分光分析例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTRAL ANALYSIS DEVICE AND AUGER ELECTRON SPECTRAL ANALYSIS METHOD - 特許庁

オージェ電子分光装置およびオージェ電子分光分析例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTROSCOPE AND AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY - 特許庁

例文

オージェー光電子コインシデンス分光器、及びオージェー光電子コインシデンス分光例文帳に追加

AUGER PHOTOELECTRON COINCIDENCE SPECTROSCOPE AND AUGER PHOTOELECTRON COINCIDENCE SPECTROSCOPY - 特許庁


例文

オージェ電子分光の感度係数測定方例文帳に追加

METHOD OF MEASURING SENSITIVITY COEFFICIENT OF AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY - 特許庁

オージェ電子分光装置および深さ方向分析方例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTRAL APPARATUS AND ANALYTICAL METHOD FOR DEPTH DIRECTION - 特許庁

オージェ電子分光分析方およびその装置例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY AND ITS DEVICE - 特許庁

オージェ電子分光装置およびスペクトル測定方例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTROMETER AND METHOD FOR MEASURING SPECTRUM - 特許庁

例文

オージェ電子分光装置による元素分析方例文帳に追加

METHOD FOR ELEMENTAL ANALYSIS USING AUGER ELECTRON SPECTRAL EQUIPMENT - 特許庁

例文

オージェ電子分光分析方及び分析試料ホルダー例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTRAL ANALYSIS METHOD AND ANALYZED SPECIMEN HOLDER - 特許庁

オージェ電子分光分析装置およびそれを用いた分析方例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTROSCOPE ANALYZING APPARATUS AND ANALYZING METHOD USING THE SAME - 特許庁

オージェ電子分光による化学状態分析及び装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING CHEMICAL STATE BY AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY - 特許庁

外径70mmのコンフラットフランジに設けられた内径35mmのパイプに対して十分に取り付けることが可能な、特に外径において小型化されたオージェ電子分光器及びこの分光器を用いたオージェ電子分光を提供する。例文帳に追加

To provide an Auger electron spectroscope which is sufficiently installed at a pipe having an internal diameter of 35 mm and disposed at a Conflat flange having an outer diameter of 70 mm, and especially, which is made compact in its outside diameter, and also to provide Auger electron spectroscopy which uses the spectroscope. - 特許庁

導電性の異物除去探針の場合にはオージェ電子分光または二次イオン質量分析で異物または異物の削り滓を組成分析する。例文帳に追加

When a conductive foreign substance removal probe is used, the foreign substance or the scraped residue of the foreign substance is subjected to composition analysis by Auger electron spectroscopy or secondary ion mass spectrometry. - 特許庁

異物除去探針で導電性のパターン上に集めた場合にはオージェ電子分光または二次イオン質量分析で異物または異物の削り滓を組成分析する。例文帳に追加

When the substance is gathered on a conductive pattern by a foreign substance removal probe, the foreign substance or the scraped residue of the foreign substance is subjected to composition analysis by Auger electron spectroscopy or secondary ion mass spectrometry. - 特許庁

オージェ電子分光分析で求めたAlマッピング像の画像処理から得られるめっき皮膜表面の溶融亜鉛めっき凝固時に生成したAl酸化物の被覆率を50%以上とする。例文帳に追加

The coverage ratio of Al oxide generated when hot dip galvanizing is solidified on a galvanized film surface obtained from the image processing of an Al mapping image obtained by an Auger electron spectroscopy is set to be50%. - 特許庁

X線光電子分光におけるデータ表示方において、特定の元素の化学状態を表す際に、内殻からの光電子ピークと同一元素種によるオージェ遷移ピークの両者を用いる場合、光電子ピークの束縛エネルギーとオージェ遷移ピークの運動エネルギーに対してそれぞれの信号強度を加重したものを二次元的に表示する。例文帳に追加

In this data displaying method by an X-ray photoelectron spectroscopic method, when expressing the chemical state of a specific element by using both of a photoelectron peak from an inner shell and an Auger transition peak owing to the same element species, what are obtained by weighting the bound energy of the photoelectron peak and the kinetic energy of the Auger transition peak by their respective signal intensities are two-dimensionally displayed. - 特許庁

オージェ電子分光又はX線電子分光の如く荷電粒子をエネルギー分光し、測定する荷電粒子エネルギー分光分析方において、試料を粉砕し、この試料粉砕物1を導電性物質2に埋め込んだ状態で分析に供することを特徴とする、荷電粒子エネルギー分光分析方例文帳に追加

A sample is pulverized, and resulting pulverized powder 1 is used for analysis in a state that the powder 1 is embedded into a conductive material 2, in a energy spectral analysis method of a charged particle where energy of the charged particle is dispersed into its spectral components in an Auger electron spectroscopy or an X-ray electron spectroscopy to be measured. - 特許庁

本発明の好ましい態様においては、ポリマーフィルターとして、オージェ電子分光によるフィルター最表面の炭素膜の膜厚が10nm以下であり、且つ深さ方向の酸化皮膜の膜厚が100nm以上であるフィルターを使用する。例文帳に追加

In a preferable embodiment of the invention, as the polymer filter, the filter having10 nm membrane thickness of a carbon membrane on the uppermost surface of the filter and ≥100 nm membrane thickness of an oxidized membrane in its depth direction measured by an Auger electron spectroscopy is used. - 特許庁

銅管1の表面には、オージェ電子分光分析において、カーボン量が銅管1の最表面におけるカーボン量に対して半減する深さを膜厚とした場合に、膜厚が1.0〜500nmである炭素化合物からなる皮膜が形成されている。例文帳に追加

A coating film consisting of carbon compound with its film thickness being 1.0-500 nm equal to the depth at which the carbon amount is reduced to one half of the carbon amount on the outermost surface of the copper pipe 1 in the Auger electron spectroscopy is formed on the surface of the copper pipe 1. - 特許庁

例文

支持体上の少なくとも一方の面に粉体と結合剤を含む塗布層を設けてなるリーダーテープにおいて、前記リーダーテープは少なくとも一方の面の中心線平均粗さ(Ra)が10〜60nmであり、長さが0.3〜3mであり、かつ塗布層の表面潤滑剤量がオージェ電子分光にて、5〜15(C/Fe)である。例文帳に追加

In a leader tape comprising a coating layer containing a powder and a binder on at least one surface of a support, the leader tape has center line average coarseness (Ra) of 10 to 60 nm on the at least one surface, a length of 0.3 to 3m, and a surface lubricant quantity of the coating layer of 5 to 15 (C/Fe) in Auger electron spectroscopy. - 特許庁

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