Auger spectroscopyとは 意味・読み方・使い方

The analysis method is at least one method selected from the group consisting of transmission electron microscope, scanning electron microscope, electron probe microanalysis, Auger electron spectroscopy, atom probe, infrared spectroscopy, laser Raman spectroscopy, inductive coupled plasma spectroscopy, liquid chromatography, and gas chromatography.例文帳に追加

該分析方法は、透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナリシス、オージエ電子分光、２次イオン質量分析、アトムプローブ、赤外分光、レーザーラマン分光、誘導結合プラズマ、液体クロマトグラフ、ガスクロマトグラフからなる群より選択される少なくとも一つの方法である。 - 特許庁

When a conductive foreign substance removal probe is used, the foreign substance or the scraped residue of the foreign substance is subjected to composition analysis by Auger electron spectroscopy or secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加

導電性の異物除去探針の場合にはオージェ電子分光法または二次イオン質量分析法で異物または異物の削り滓を組成分析する。 - 特許庁

To provide an Auger electron spectroscope which is sufficiently installed at a pipe having an internal diameter of 35 mm and disposed at a Conflat flange having an outer diameter of 70 mm, and especially, which is made compact in its outside diameter, and also to provide Auger electron spectroscopy which uses the spectroscope.例文帳に追加

外径７０ｍｍのコンフラットフランジに設けられた内径３５ｍｍのパイプに対して十分に取り付けることが可能な、特に外径において小型化されたオージェ電子分光器及びこの分光器を用いたオージェ電子分光法を提供する。 - 特許庁

When the substance is gathered on a conductive pattern by a foreign substance removal probe, the foreign substance or the scraped residue of the foreign substance is subjected to composition analysis by Auger electron spectroscopy or secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加

異物除去探針で導電性のパターン上に集めた場合にはオージェ電子分光または二次イオン質量分析法で異物または異物の削り滓を組成分析する。 - 特許庁

The coverage ratio of Al oxide generated when hot dip galvanizing is solidified on a galvanized film surface obtained from the image processing of an Al mapping image obtained by an Auger electron spectroscopy is set to be ≥ 50%.例文帳に追加

オージェ電子分光分析法で求めたＡｌマッピング像の画像処理から得られるめっき皮膜表面の溶融亜鉛めっき凝固時に生成したＡｌ酸化物の被覆率を５０％以上とする。 - 特許庁

A sample is pulverized, and resulting pulverized powder 1 is used for analysis in a state that the powder 1 is embedded into a conductive material 2, in a energy spectral analysis method of a charged particle where energy of the charged particle is dispersed into its spectral components in an Auger electron spectroscopy or an X-ray electron spectroscopy to be measured.例文帳に追加

オージェ電子分光法又はＸ線電子分光法の如く荷電粒子をエネルギー分光し、測定する荷電粒子エネルギー分光分析方法において、試料を粉砕し、この試料粉砕物１を導電性物質２に埋め込んだ状態で分析に供することを特徴とする、荷電粒子エネルギー分光分析方法。 - 特許庁

In a preferable embodiment of the invention, as the polymer filter, the filter having ≤10 nm membrane thickness of a carbon membrane on the uppermost surface of the filter and ≥100 nm membrane thickness of an oxidized membrane in its depth direction measured by an Auger electron spectroscopy is used.例文帳に追加

本発明の好ましい態様においては、ポリマーフィルターとして、オージェ電子分光法によるフィルター最表面の炭素膜の膜厚が１０ｎｍ以下であり、且つ深さ方向の酸化皮膜の膜厚が１００ｎｍ以上であるフィルターを使用する。 - 特許庁

Instead of above 2) and 3), the resin solid constituent may be formed by drying the liquid film adhering to the sample surface after the fine liquid film is formed by screen printing of the resin solid constituent containing liquid on the surface of the sample surface to be analyzed by Auger electron spectroscopy.例文帳に追加

上記2)3)に代えて、2)オージェ電子分光分析を行う試料表面に、樹脂固形分含有液をスクリーン印刷して微細な液膜を形成し、2)試料表面に付着した液膜を乾燥させることにより樹脂固形物を形成してもよい。 - 特許庁