オージェ分析の英語

オージェ電子分光分析方法及び分析試料ホルダー例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTRAL ANALYSIS METHOD AND ANALYZED SPECIMEN HOLDER - 特許庁

オージェ電子分光分析装置およびそれを用いた分析方法例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTROSCOPE ANALYZING APPARATUS AND ANALYZING METHOD USING THE SAME - 特許庁

オージェ電子分光による化学状態分析法及び装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING CHEMICAL STATE BY AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY - 特許庁

試料破断処理を行うことなく、コンタクトホールの内部を正確に分析することができるオージェ分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide an Auger analyzer that can accurately analyze the inside of a contact hole without any sample-breaking treatment. - 特許庁

絶縁性の表面を有する試料の表面分析において、正確なオージェ分光分析を可能とする。例文帳に追加

To perform accurate Auger spectroscopic analysis in the surface analysis of a sample with an insulating surface. - 特許庁

このように絶縁物試料９は帯電しないので、分析位置に正確に電子線が照射され、正確なオージェスペクトルを得ることができる。例文帳に追加

Electron beams are irradiated correctly to an analysis position, and a correct Auger spectrum can be obtained. - 特許庁

電子銃１１から分析すべき試料Ｓに対して電子線を照射し、試料Ｓからオージェ電子を放出させる。例文帳に追加

An electron beam is projected from an electron gun 11 onto a sample S to be analyzed, in order to cause Auger electrons to be emitted from the sample S. - 特許庁

試料片８をオージェ電子分光分析装置にセッティングし、第１平面５ｓの表面にある分析対象面１２を分析領域として深さ方向の分析を行い、界面４の両側にわたって元素分布の分析を行うものとする。例文帳に追加

The sample piece 8 is set in an Auger electron spectrophotometer, and analysis in the depth direction is performed, relative to the analytical object plane 12 on the surface of the first plane 5s as an analytical region, and analysis of the elemental distribution is performed on both sides of the interface 4. - 特許庁