sample Sとは 意味・読み方・使い方

When a transmission operation is performed in a user terminal MN, only a sample terminal MN(s) performs transmission to an end server ES, and transmission by terminals other than the sample terminal MN(s) is suspended.例文帳に追加

ユーザ端末MNで発信操作が行われると、サンプル端末MN(s)のみがエンドサーバESへ発信し、それ以外は発信を保留される。 - 特許庁

When the transmission operation is performed by a user terminal MN, only the sample terminal MN(s) classified according to the sample probability Rsample transmits to the end server ES, and transmission of other sample terminal MN(s) is pended.例文帳に追加

ユーザ端末MNで発信操作が行われると、サンプル確率Rsampleで分類されたサンプル端末MN(s)のみがエンドサーバESへ発信し、それ以外は発信を保留される。 - 特許庁

In the method, the crushed single crystal sample (crushed sample S) is irradiated with the X-ray.例文帳に追加

この方法において、Ｘ線の照射を粉砕された単結晶の試料（粉砕試料S）に対して行う。 - 特許庁

It calculates the position information of the sample S from the contrast of the black table 10 to the white sample S.例文帳に追加

資料Ｓの位置情報は、黒い資料提示台１０と白い資料Ｓとのコントラストから算出する。 - 特許庁

An ion milling device comprises; a sampling stage 1 where a sample S is placed; an ion source 2 for generating an ion beam with which the sample S is irradiated; a sample chamber 3 maintaining a storage space of the sampling stage 1 as a predetermined vacuum; and refrigerant supplying means 5 for supplying a gaseous refrigerant to cool the sample S inside the sample chamber 3.例文帳に追加

試料Sが設置される試料台1と、試料Sに照射するイオンビームを発生させるイオン源2と、試料台1の収納空間を所定の真空に保持する試料チャンバ3と、試料Sを冷却するための気体冷媒を試料チャンバ3内に供給する冷媒供給手段5とを備えるイオンミリング装置である。 - 特許庁

The circuit 3 outputs time-sequentially inputted current signal ID to sample-and-hold circuit S/H1 to S/Hn in the order of time.例文帳に追加

電流伝達回路3は、時系列に入力される電流信号IDをサンプルホールド回路S/H1〜S/Hnへ時間順に出力する。 - 特許庁

The sample S is arranged in a longitudinally-elongated manner wherein the sample width is smaller than a standard sample width and the sample height is the same as a standard sample height.例文帳に追加

試料Ｓは、その試料幅が標準試料幅よりも狭くその試料高さが標準試料高さと同じである縦長配置に配置される。 - 特許庁

The image shift value is compared with an image shift parameter (S-8, S-10), sample size is adjusted, and the image shift value is recalculated according to the adjusted sample size (S-7, S-9, S-11, S-12).例文帳に追加

この画像シフト値は画像シフトパラメータと比較され（Ｓ−８、Ｓ−１０）、サンプルサイズが調整され、この調整されたサンプルサイズに従って、画像シフト値が再計算される（Ｓ−７、Ｓ−９、Ｓ−１１、Ｓ−１２）。 - 特許庁