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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > sample Sの意味・解説 > sample Sに関連した英語例文

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sample Sの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 567



例文

The fine tip 21 is moved to a working location of the sample S, electric field is applied between the fine tip 21 and the sample S and the sample S is doped with elements in introduced gas.例文帳に追加

そして試料(S)の加工位置に微細端(21)を移動させ、微細端(21)と試料(S)との間に電界を供給し、試料(S)に対し導入ガス中の元素をドーピングする。 - 特許庁

The contact position is between the detection rod 2 and the sample S, between the sample S and a sample stand 9 or between two portions formed by halving the sample S.例文帳に追加

接触位置は、検出棒2と試料Sの間、試料Sと試料台9の間、もしくは、試料Sを二分割した間である。 - 特許庁

A pulse generating circuit 20 generates a sample and hold pulse S/H1 and an AD request pulse ADREQ1 having a cycle at the time of regular APC operation and a sample and hold pulse S/H2 and an AD request pulse ADREQ2 having a cycle shorter than the cycle as to sample and hold pulses S/H and AD request pulses ADREQ.例文帳に追加

パルス発生回路20は、サンプルホールドパルスS/HとADリクエストパルスADREQについて、通常のAPC動作時の周期のパルスS/H1,AREQ1とそれより短い周期のパルスS/H2,AREQ2を生成している。 - 特許庁

The laser light is not converged on one point in the sample S, thereby to prevent the damage of the sample S.例文帳に追加

レーザ光は試料Sの一点に集中することが無く、試料Sの損傷は起こらない。 - 特許庁

例文

Even if the discrimination number of the sample S is unclear, the quantitative analysis of the sample S becomes possible.例文帳に追加

また、試料Sの識別番号が不明であっても試料Sの定量分析が可能になる。 - 特許庁


例文

To avoid breakage of a micro sample piece S during conveyance of a sample holder.例文帳に追加

試料ホルダを運搬中に微小試料片Sの破損を回避すること。 - 特許庁

In this state, the sample S is rotated in-plane to measure the pole distribution of the sample S.例文帳に追加

この状態で、試料Sを面内回転させることにより、試料Sの極点分布を測定する。 - 特許庁

When a transmission operation is performed in a user terminal MN, only a sample terminal MN(s) performs transmission to an end server ES, and transmission by terminals other than the sample terminal MN(s) is suspended.例文帳に追加

ユーザ端末MNで発信操作が行われると、サンプル端末MN(s)のみがエンドサーバESへ発信し、それ以外は発信を保留される。 - 特許庁

When the transmission operation is performed by a user terminal MN, only the sample terminal MN(s) classified according to the sample probability Rsample transmits to the end server ES, and transmission of other sample terminal MN(s) is pended.例文帳に追加

ユーザ端末MNで発信操作が行われると、サンプル確率Rsampleで分類されたサンプル端末MN(s)のみがエンドサーバESへ発信し、それ以外は発信を保留される。 - 特許庁

例文

In the method, the crushed single crystal sample (crushed sample S) is irradiated with the X-ray.例文帳に追加

この方法において、X線の照射を粉砕された単結晶の試料(粉砕試料S)に対して行う。 - 特許庁

例文

It calculates the position information of the sample S from the contrast of the black table 10 to the white sample S.例文帳に追加

資料Sの位置情報は、黒い資料提示台10と白い資料Sとのコントラストから算出する。 - 特許庁

An ion milling device comprises; a sampling stage 1 where a sample S is placed; an ion source 2 for generating an ion beam with which the sample S is irradiated; a sample chamber 3 maintaining a storage space of the sampling stage 1 as a predetermined vacuum; and refrigerant supplying means 5 for supplying a gaseous refrigerant to cool the sample S inside the sample chamber 3.例文帳に追加

試料Sが設置される試料台1と、試料Sに照射するイオンビームを発生させるイオン源2と、試料台1の収納空間を所定の真空に保持する試料チャンバ3と、試料Sを冷却するための気体冷媒を試料チャンバ3内に供給する冷媒供給手段5とを備えるイオンミリング装置である。 - 特許庁

The circuit 3 outputs time-sequentially inputted current signal ID to sample-and-hold circuit S/H1 to S/Hn in the order of time.例文帳に追加

電流伝達回路3は、時系列に入力される電流信号IDをサンプルホールド回路S/H1〜S/Hnへ時間順に出力する。 - 特許庁

The sample S is arranged in a longitudinally-elongated manner wherein the sample width is smaller than a standard sample width and the sample height is the same as a standard sample height.例文帳に追加

試料Sは、その試料幅が標準試料幅よりも狭くその試料高さが標準試料高さと同じである縦長配置に配置される。 - 特許庁

The image shift value is compared with an image shift parameter (S-8, S-10), sample size is adjusted, and the image shift value is recalculated according to the adjusted sample size (S-7, S-9, S-11, S-12).例文帳に追加

この画像シフト値は画像シフトパラメータと比較され(S−8、S−10)、サンプルサイズが調整され、この調整されたサンプルサイズに従って、画像シフト値が再計算される(S−7、S−9、S−11、S−12)。 - 特許庁

The jig for the tamping test is constituted so as to press the upper part of the granular sample S when the sample for the tamping test is prepared by supplying the granular sample S into a mold and allowing a rammer 52 to fall into the mold to tamp the sample S to thereby prepare the sample for the tamping test.例文帳に追加

粒状の試料Sがモールド内に供給され、モールド内でランマー52を落下させて試料Sを突固めて突固め試験用の供試体を作成する際に、試料Sの上部を押さえる突固め試験用治具である。 - 特許庁

The sample S is arranged in the second housing tank 102.例文帳に追加

第2の収容槽102内には試料Sが配置される。 - 特許庁

Small biomolecules in the sample S are detected optically.例文帳に追加

試料S中の生体小分子を光学的に検出する。 - 特許庁

Since the sample S is held static during measurement, a special condition can be ensured by attaching accessory equipment, such as a sample formation growth furnace 8, to the sample S.例文帳に追加

試料Sは測定中に静止保持されるので、試料生成成長炉8等といった付帯機器を試料Sに付設して特殊条件を実現できる。 - 特許庁

The sample-cooling device includes a nozzle 26 for blowing a cooling gas to the sample S, and a gas suction device 28 for suctioning, via an opening 34, a gas passing through the sample S.例文帳に追加

試料Sに冷却ガスを吹付けるノズル26と、試料Sを通過したガスを開口34を通して吸引するガス吸引装置28とを有する。 - 特許庁

Then, fine gravity is applied to the solid sample S, the sample stand 11 is removed speedily from the solid sample S immediately after for canceling the support.例文帳に追加

次いで、固体試料Sに対して微小重力を負荷し、直後において、試料台11を固体試料Sから高速で取り除いて支持を解除する。 - 特許庁

The vessel has a sample mounting part 15 for mounting an objective sample S on the upper surface thereof, and heaters 16 capable of being mounted the sample S thereon and stimulating the sample S are set at several positions of the sample mounting part 15.例文帳に追加

上面に観測対象となる試料Sを載置する試料載置部15が設けられ、前記試料載置部15の複数箇所に、上面に前記試料Sが載置されて該試料Sに対して刺激を与えることが可能なヒータ16が設けられている。 - 特許庁

The hardness test device 10 comprises the sample stocker 2 for stocking a sample S before test, and a hardness testing machine 1 for testing the hardness of the sample S conveyed from the sample stocker 2.例文帳に追加

硬さ試験装置10は、試験前の試料Sをストックしておく試料ストッカ2と、試料ストッカ2から搬送された試料Sの硬さ試験を行う硬さ試験機1と、を備える。 - 特許庁

An electron beam is projected from an electron gun 11 onto a sample S to be analyzed, in order to cause Auger electrons to be emitted from the sample S.例文帳に追加

電子銃11から分析すべき試料Sに対して電子線を照射し、試料Sからオージェ電子を放出させる。 - 特許庁

Next, the wear amount of the sample S is measured, and the wear resistance of the sample S is evaluated, on the basis of the measured the wear amount.例文帳に追加

(b)次に、試料Sの損耗量を測定し、測定された損耗量に基づいて試料Sの耐損耗性を評価する。 - 特許庁

A sample stage 7 is provided to move the sample S between the two positions.例文帳に追加

この二つの位置の間で試料Sを移動させるための試料ステージ7が設けられている。 - 特許庁

When generating a photothermal effect by allowing the excitation light to enter the sample S, an excitation light reflector 56 is provided in a sample storage vessel 50 for storing the sample S.例文帳に追加

試料Sに励起光を入射して光熱効果を生じさせるにあたり、試料Sを収容するための試料収容器50に励起光反射体56を設ける。 - 特許庁

The sample injector 13 injects a constant amount of the sample solution S into a mobile phase solvent M and discharges the sample solution S together with the mobile phase solvent M.例文帳に追加

移動相溶媒Mに対して定量の試料溶液Sを注入し、移動相溶媒Mと共に試料溶液Sを吐出するサンプルインジェクタ13である。 - 特許庁

An X-ray is transmitted through the X-ray transmission sheet 15 and irradiates the sample S, and a fluorescent X-ray generated by the sample S is detected.例文帳に追加

X線透過シート15を透過してX線が試料Sへ照射され、試料Sで発生した蛍光X線が検出される。 - 特許庁

A high-pressure thermoanalysis apparatus has a sample chamber 14 housing a sample S, a heater 17 changing the temp. of the sample S and a pressure-resistant vessel 4 surrounding the sample chamber 14 in a high- pressure state.例文帳に追加

試料Sを収納する試料室14と、試料Sの温度を変化させるヒータ17と、そして試料室14を高圧状態に包囲する耐圧容器4とを有する高圧熱分析装置である。 - 特許庁

This jig includes a pressing surface for equally pressing the whole upper part of the sample S by allowing the rammer 52 to fall on the central or periphery of the upper part of the sample S corresponding to the whole upper surface of the sample S by a block-like body independent of the rammer 52 to tamp the sample S.例文帳に追加

ランマー52とは独立したブロック状体で試料Sの上面の全面に対応して、ランマー52が試料Sの上部の中央部乃至周辺部に落下することにより試料Sの上部全体を均等に押圧して、試料Sを突固める押圧面を備えた。 - 特許庁

Since the cell 10 is regulated in the temperature same to the temperature of the sample S or the temperature close thereto in this method, the temperature change of the sample S is reduced to a degree where the measurement is not affected substantially during the measurement by the temperature change of the sample S, and the moisture in the sample S is thereby surely measured.例文帳に追加

この方法では、セル10が試料Sの温度と同一または近傍の温度に調整されるので、測定中において試料Sの温度変化が実質的に測定に影響しない程度に低減され、試料S中の水分を確実に測定することができる。 - 特許庁

A sample-cooling device 5 is used for an X-ray analysis apparatus 1 in which a sample S supported by a sample rod 23 is rotated around a ω axis as center, the sample S is irradiated with an X-ray, and the X-ray exiting the sample S is detected by an X-ray detector 11.例文帳に追加

試料棒23によって支持された試料Sをω軸線を中心として回転させ、試料SにX線を照射し、試料Sから出るX線をX線検出器11によって検出するX線分析装置1に用いられる試料冷却装置5である。 - 特許庁

A liquid sample S is impregnated into a holding body 2 formed or disposed on an upper surface of a sample table 1.例文帳に追加

試料台1の上面に形成または載置される保持体2に、液状の試料Sを含浸させる。 - 特許庁

Step S1 comprises accepting (m1 × S) input values and S output values included in sample data.例文帳に追加

ステップS1は、サンプルデータに含まれるm1×S個の入力値及びS個の出力値を受付ける。 - 特許庁

Then, a vertical magnetic field B is applied to the solid sample S, the solid sample S is rotated and vibrated with the vertical magnetic field B as a reference, and the magnetic anisotropy in the solid sample S is derived from the period.例文帳に追加

次いで、固体試料Sに対して垂直方向磁場Bを印加し、垂直方向磁場Bを基準として固体試料Sを回転振動させ、その周期から固体試料Sの磁気異方性を導出する。 - 特許庁

An analysis sample S is mounted directly on an X-ray detecting element 1.例文帳に追加

X線検出素子1の上に分析試料Sを直接載置する。 - 特許庁

At this time, the electron scattered by the sample S is interrupted by the aperture member 31, which allows the sample S to be observed with high resolution.例文帳に追加

このとき、試料Sによる散乱電子が絞り部材31によって遮断されるため、高分解能で試料Sを観察することができる。 - 特許庁

The sample S is extracted from rolled stock Y passed through a hot rolling process.例文帳に追加

熱間圧延工程を経た圧延材YからサンプルSを採取する。 - 特許庁

Secondary electrons from the photoreceptor sample S are detected by a detector 23.例文帳に追加

検出器23で感光体試料Sからの2次電子を検出する。 - 特許庁

A moving member 2 is driven in the direction of pulling the sample S by the rotation of a screw rod 5 to apply a prescribed initial load to the sample S.例文帳に追加

ネジザオ5の回転により移動部材2を試験体Sが引張られる方向に駆動し、試験体Sに対して所定の初荷重をかける。 - 特許庁

The reference light source 4 emits light to the sample S for focus detecting.例文帳に追加

基準光源4は焦点検出用の光を標本Sへ照射する。 - 特許庁

To enable to carry out evaluation of a sample with a high throughput and a high S/N ratio.例文帳に追加

試料の評価を高スループット及び高S/Nで行えるようにする。 - 特許庁

A well 2a contains a biological sample S and an aqueous solution W.例文帳に追加

ウエル2aの中には生物試料Sと水溶液Wが入っている。 - 特許庁

MEASURING REAGENT AND MEASURING METHOD FOR TOTAL PROTEIN S LEVEL IN SAMPLE例文帳に追加

試料中の総プロテインSタンパク質量の測定試薬及び測定方法 - 特許庁

When a fine wire sample S is inserted in these holes to be fixed by fixing screws 9, 11, the longitudinal direction of the sample S coincides with the direction A of load.例文帳に追加

この孔に細線試料Sを差し込んで固定ネジ9と11で固定すると試料Sの長手方向と負荷の方向Aは一致することとなる。 - 特許庁

The dewer 50 holding the medium R to cover the sample S is thus used to thereby simply control the sample S to a desired temperature.例文帳に追加

試料Sが覆われるように媒体Rを保持するデュワ50を用いることにより、簡便に試料Sを所望の温度に調節することができる。 - 特許庁

An S is a sample cross-section desired to be obtained by an operator, in Fig. (c), and the sample cross-section S is observed thereafter by a scanning electron microscope or the like.例文帳に追加

図9(c)において、Sはオペレーターが得たかった試料断面であり、この試料断面Sは後で走査電子顕微鏡などで観察される。 - 特許庁

A cooling control unit 14f circulates a refrigerant to a hollow unit of a hollow cooling stage 14a for supporting the sample S to cool the sample S.例文帳に追加

冷却制御部14fが、試料Sを支持する中空状の冷却ステージ14aの中空部に冷媒を循環させることで試料Sを冷却する。 - 特許庁

例文

The sample fluid S is brought into the passage 2 through the narrow hole 1 and cells C in the sample fluid S individually pass through the narrow hole 1.例文帳に追加

試料流体Sは、狭窄孔1を介して流路2内に引き込まれ、試料流体Sの細胞Cは、狭窄孔1を個々に通過する。 - 特許庁




  
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