sample Sの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 567件
At this point, the light from the sample S is focused by the imaging lens 29 after passing the objective lens 3a to form the image of the sample S.例文帳に追加
このときの標本Sからの光は、対物レンズ3aを通った後に結像レンズ29により結像し、標本Sの観察像が形成される。 - 特許庁
A sample S is rotated around the predetermined Ω axis passing the center O of a goniomotor to set the incidence angle ω of X-rays to the surface Sa of the sample S.例文帳に追加
ゴニオメータの中心Oを通る所定のΩ軸周りに試料Sを回転させて試料面Saに対するX線の入射角ωを設定する。 - 特許庁
A sample space K to be filled with the sample S is formed by upper and lower dies 1 and 2 and fixed walls 3.例文帳に追加
上下のダイ1,2と固定壁3によって試料Sを充填する試料空間Kが形成されている。 - 特許庁
To improve the S/N ratio of an image when a biological sample marked with a fluorochrome is observed using a fluorescence microscope.例文帳に追加
蛍光色素標識された生物学的試料を蛍光顕微鏡で観察するときの像のS/N比の改善。 - 特許庁
To improve the S/N ratio of an image when observing a fluorescent or luminescent biological sample with a fluorescence microscope.例文帳に追加
蛍光性又は発光性の生物学的試料を蛍光顕微鏡で観察するときの像のS/Nの改善。 - 特許庁
Glow discharge is generated by applying voltage across the sample S and the electrode while rotating the sample S around its axis by a motor 38 and the side surface of the sample S is excavated by the ionic shock of argon ions accompanying glow discharge.例文帳に追加
モータ38により試料Sを軸周りに回転させながら試料Sと電極との間に電圧を印加してグロー放電を発生させ、グロー放電に伴うアルゴンイオンのイオン衝撃により試料Sの側面を掘削する。 - 特許庁
Since a series of operations, wherein a sample S fed to an analyzing position by a start command is irradiated with X-rays and the intensity of fluorescent X-rays generated from the sample S is measured and a group to which the sample S belongs, is selected to quantitatively analyze the sample S are executed, analytical operation can be executed easily.例文帳に追加
スタート指令により、分析位置に搬送された試料SにX線を照射し、試料Sから発生する蛍光X線の強度を測定し、試料Sが属するグループを選択して、試料Sを定量分析するという一連の動作が行われるので、分析操作を容易に行うことができる。 - 特許庁
The grinding sample preparation jig 1 for holding a sample S comprises a sample bonding recess 3 formed on the surface of a holding base 2 and a groove 4 formed in a bottom periphery of the recess 3, wherein the recess 3 has a larger outer dimension than a plan view outer dimension of the sample S and a depth d corresponding to a thickness of the sample S at completion of grinding.例文帳に追加
保持台2の表面に試料Sの平面視外形より大きい外形で、かつ試料Sの研磨完了時厚み相当の深さdを有する試料接着用凹部3を形成すると共に、この凹部3の底面外周域に溝4を形成して、試料Sを保持する研磨試料作成治具1とする。 - 特許庁
This microtome 11 is provided with a sample support mechanism 12 for holding a sample S, a position regulation mechanism 13 for regulating a position of the sample support mechanism 12, and a cutting mechanism 15 for supporting movably the cutting blade 14 for cutting the sample S.例文帳に追加
ミクロトーム11は、試料Sを保持する試料支持機構12と、試料支持機構12の位置調整を行う位置調整機構13と、試料Sを切断する切断刃14を移動可能に支持する切断機構15とを備える。 - 特許庁
The osmotic pressure of the sample liquid S is calculated from the freezing point depressing degree at this time.例文帳に追加
このときの氷点降下度から試料液Sの浸透圧が算出される。 - 特許庁
The light source 26a emits illumination light to observe a sample S.例文帳に追加
照明光源26aは観察用の照明光を標本Sへ照射する。 - 特許庁
Feed timing in the eluent k, the sample liquid s or the like is thereby regulated.例文帳に追加
これにより、溶離液k、サンプル液s等の給送タイミングが調整できる。 - 特許庁
An analyzer 18 is disposed between a sample S and a primary image surface I.例文帳に追加
また、試料Sと1次像面Iとの間にアナライザ18が配設されている。 - 特許庁
In the sample supplying method for supplying the liquid sample S, a flow of a gas G toward the downstream side is formed around a leading port 2 for leading the sample S toward the downstream side.例文帳に追加
液状の試料Sを供給するための試料供給方法であって、前記試料Sを下流側に向けて導出する導出口2の周囲に、下流側に向かう気体Gの流れを形成する。 - 特許庁
The X-ray diffraction device comprises an X-ray diffraction device 1, a sample-mounting section 5 for supporting the sample S, and a fixation section 30 that can be moved and fixed to the sample-mounting section.例文帳に追加
X線回折装置1、試料Sを支持する試料取付け部5と、試料取付け部に対して移動及び固定可能な固定部30を有する。 - 特許庁
Imaging positions on a substrate, at which the images of sample patters S(1), S(2) to S(m) are formed, are measured to calculate every shift amount Px(1), Px(2) to Px(m) of the imaging positions of the sample patterns based on their ideal imaging positions, respectively.例文帳に追加
基板上に結像されたサンプルパターンS(1),S(2),…S(m)の結像位置を測定し、各パターンについて、理想的な結像位置とのずれ量Px(1),Px(2)、…Px(m)を算出する。 - 特許庁
A first sample cell 7 having the sample S to be measured sealed therein and an empty second sample cell 8 formed substantially similar to the first sample cell 7, are heated from the outside by the heat source 3.例文帳に追加
被測定試料Sが封入された第1試料セル7と、第1試料セル7と実質的に同一な空の第2試料セル8と、を熱源3により外部から加熱する。 - 特許庁
The sample holder 20 on the sample table 10 comprises bonding a transparent sheet 22 to the back of a metal frame 21 and the crystal sample S is placed on the central part of the sample holder 20 in a freely movable manner.例文帳に追加
なお、試料テーブル10上のサンプルホルダー20は、金枠21の裏面に透明シート22を付着してなり、その中央部に結晶試料Sを載せて自在に移動可能である。 - 特許庁
The sample tube housing the sample S is filled with the inert gas for holding the sample at the predetermined temperature, and then the previously decompressed canister is connected to the sample tube, to collect components which have evaporated from the sample.例文帳に追加
そして試料Sを収納した試料管に不活性ガスを充填して試料を所定の温度に保ち、その後、予め減圧されたキャニスタを試料管に接続して前記試料から揮散した成分を捕集する。 - 特許庁
This prevents the adhering of frost to the sample S cooled, the oxidation of the sample S heated or the like and realizes the inhibition of denaturalization due to temperature changes of the sample S while accomplishing the facilitating and speeding up of the IP replacing work.例文帳に追加
このことにより、冷却された試料Sへの霜の付着、加熱された試料Sの酸化等の防止、および試料Sの温度変化による変質の抑制等を実現し、併せてIP交換作業の容易化、迅速化を図ることができた。 - 特許庁
The apparatus executes a sample showing table photographing process for photographing a sample showing table 10 by a camera 30, based on position information of two light spots 40 being reference points; and a sample photographing process for photographing a sample S after the camera 30 recognizes the size of the sample, based on the position information of the sample S set on the table 10.例文帳に追加
基準点である2つの光点40の位置情報に基づいてカメラ30が資料提示台10を撮影する資料提示台撮影プロセスと、資料提示台10にセットされた資料Sの位置情報に基づいてカメラ30が資料Sのサイズを認識して資料を撮影する資料撮影プロセスとを行う。 - 特許庁
The X-ray analyzer also has a sample chamber R0 capable of setting the sample S inside, a sample support device 48 for supporting the sample S on the measuring position, and an atmosphere generation device for setting the sample chamber R0 in the atmosphere different from vacuum atmosphere in the vacuum path 17.例文帳に追加
このX線分析装置は、試料Sを内部にセットすることができる試料室R0と、試料Sを測定位置に支持する試料支持装置48と、試料室R0を真空路17内の真空雰囲気と異なる雰囲気にするための雰囲気生成装置とを有する。 - 特許庁
The drilled cross section can be formed at a specific position of the sample S by glow discharge, and the surface of the sample S can be drilled in a short time, over a broad range.例文帳に追加
グロー放電によって、試料Sの特定の位置に掘削断面を形成することができ、また試料Sの表面を広範囲に短時間で掘削することができる。 - 特許庁
A sample S is irradiated with X-rays in a narrow X-ray irradiation field A by a collimator 1 and X-rays diffracted by the sample S are detected by a storage phosphor 2.例文帳に追加
コリメータ1によって狭いX線照射野Aで試料SにX線を照射し、試料Sで回折するX線を蓄積性蛍光体2で検出する。 - 特許庁
The sample S is not damaged because it is supported entirely by the supporting plate 3.例文帳に追加
試料Sは支え板3で全体を支えられているので破損することがない。 - 特許庁
In addition, the sample S is two-dimensionally moved by a two-dimensional driving mechanism 8 to compose measurement values from each point on the sample S and form images as two-dimensional images.例文帳に追加
また、2次元駆動機構8により試料Sを2次元的に移動させ、試料S上の各点からの測定値を合成し、2次元画像としてイメージ化する。 - 特許庁
This method includes monitoring parameter(s) of the measurement system during measurements of sample microspheres.例文帳に追加
サンプル微小球体の測定中、測定システムのパラメータを監視するステップを含む。 - 特許庁
To control the ratio of sample terminal MN(s) dynamically based on the load conditions of an end server ES in transmission regulation method and system which limits the load of the end server ES by estimating the total number of transmissions based on the number of transmissions of the sample terminal MN(s).例文帳に追加
サンプル端末MN(s)の発信数に基づいて発信総数を推定することでエンドサーバESの負荷を制限する発信規制方法およびシステムにおいて、サンプル端末MN(s)の比率をエンドサーバESの負荷状況に基づいて動的に制御する。 - 特許庁
The super-small-angle X-ray scattering measuring device comprises a detector 7 for detecting an X-ray emitted from a sample S, an X-ray parallelizing mirror 16 disposed between an X-ray actual focal point F and the sample S, a monochromator 22 disposed between the mirror 16 and the sample S, and an analyzer 23 disposed between the sample S and the detector 7.例文帳に追加
試料Sから出射したX線を検出する検出器7と、X線実焦点Fと試料Sとの間に設けられたX線平行化ミラー16と、ミラー16と試料Sとの間に設けられたモノクロメータ22と、試料Sと検出器7との間に設けられたアナライザ23とを有する超小角X線散乱測定装置である。 - 特許庁
In this chemiluminescence type gas analyzing method for mixing the sample gas S with ozone to detect chemiluminescence generated by making the H_2S in the gas sample S react with the ozone, sulfur compounds other than the H_2S in the gas sample S are converted into H_2S, using a reductant and a catalyst, before mixing the sample gas S with the ozone.例文帳に追加
サンプルガスSとオゾンとを混合し、サンプルガスS中のH_2 Sをオゾンと反応させることにより発生した化学発光を検出する化学発光式ガス分析方法であって、前記サンプルガスSとオゾンとを混合する前に、還元剤および触媒を用いてサンプルガスS中のH_2 S以外の硫黄化合物をH_2 Sに変換する。 - 特許庁
The present invention relates to improved variants of soluble pyrroloquinoline quinone (PQQ)-dependent glucose dehydrogenases (s-GDH), to genes encoding mutated s-GDH, to mutant proteins of s-GDH with improved substrate specificity for glucose, and to different applications of these s-GDH variants, particularly for determining concentrations of sugar, especially of glucose in a sample.例文帳に追加
本発明は、可溶性ピロロキノリンキノン(PQQ )依存性グルコースデヒドロゲナーゼ(s-GDH)の改善されたバリアント、変異s-GDH をコードする遺伝子、改善されたグルコースに対する基質特異性を有するs-GDH の変異タンパク質、およびこれらのs-GDH バリアントの異なる適用(特にサンプル中の糖(特にグルコース)の濃度を決定するため)に関する。 - 特許庁
When the sample holder 2, mounted with a sample S thereon, is laid on a seating part 33, the holder 2 is fixed by the attractive force of the magnet 32.例文帳に追加
試料Sを載せた試料ホルダ2を着座部33上に置くと磁石32の吸着力でホルダ2が固定される。 - 特許庁
To provide a sample total protein S level measuring reagent and method which can measure protein mass of all protein S present in a sample, namely, the total protein S level.例文帳に追加
試料中に存在する全てのプロテインSのタンパク質量を、すなわち、総プロテインSのタンパク質量を測定することが出来る、試料中の総プロテインSタンパク質量の測定試薬及び測定方法を提供する。 - 特許庁
The arithmetic section 50 calculates the laser ablation amount of the sample S from the energy of the laser, beam based on the information about the correlation between the energy of the laser beam absorbed by the sample S and the laser ablation amount of the sample S.例文帳に追加
更に、演算部50によって、試料Sに吸収されるレーザ光のエネルギと試料Sのレーザアブレーション量との相関関係についての情報に基づいて、試料Sに吸収されたレーザ光のエネルギから、試料Sのレーザアブレーション量が算出される。 - 特許庁
Sample data is inputted to a random number generation part 103 s a seed 102 to generate random numbers 104.例文帳に追加
サンプルデータをシード102として乱数生成部103に入力して、乱数104を発生する。 - 特許庁
This viscosity measuring device is composed of a bath 2 for housing a sample S which is a measuring object such as concrete or mortar; a gauge head 3 for sinking into the sample S housed in the bath 2; and a detecting part 4 for detecting the sinking speed of the gauge head 3 into the sample S.例文帳に追加
コンクリートやモルタル等の被測定物である試料Sが収容される槽2と、槽2に収容された試料Sに沈入される測定子3と、測定子3の試料Sへの沈入速度を検出する検出部4とから粘度測定装置1を構成する。 - 特許庁
Inverted primary electrons from the photosensor sample S are detected by a detector 21.例文帳に追加
検出器21で感光体試料Sからの反転された1次電子を検出する。 - 特許庁
The supporting body 16 is arranged in the measurement pipe 4, and supports each sample plate so that a tube-shaped sample pipe is formed by a sample plate S formed of a plurality of flat plate-shaped sample materials.例文帳に追加
支持体16は測定管4内に配置され、複数の、平板状のサンプル材料からなるサンプル板Sにより管状のサンプル管が形成されるように、それぞれのサンプル板を支持する。 - 特許庁
One or more first signals are measured in the sensing coil(s) of the eddy current probe when the sensing coil(s) are positioned proximate to the film of the sample.例文帳に追加
渦電流プルーブの検出コイルがサンプルの薄膜に近接したときには、該検出コイルで第1の信号を測定する。 - 特許庁
A microscope 3 generates a plurality of oblique illumination sample images, having different brightness distribution, which are obtained by obliquely illuminating the sample S and imaging a predetermined sample area.例文帳に追加
顕微鏡3は、標本Sを偏斜照明して所定の標本領域を撮像した明るさの分布が異なる複数の偏斜標本画像を生成する。 - 特許庁
This thermal analyzer has a first opening 01 formed in the sample chamber 2 for disposing the sample S therein and a gas supply port 13 for supplying gas to the sample chamber 2.例文帳に追加
試料Sが配置される試料室2に形成された第1開口O1と、試料室2へガスを供給するガス供給口13とを有する熱分析装置である。 - 特許庁
The sample injector 13 includes a rotating body 21 provided with a solvent passage 42 for feeding the mobile phase solvent M and a sample solution S passage for feeding the sample solution S; and a second support member 23 provided with an outflow passage 34 for discharging the mobile phase solvent M and the sample solution S to the outside.例文帳に追加
サンプルインジェクタ13は、移動相溶媒Mを供給する溶媒通路42と試料溶液Sを供給する試料溶液S通路とが形成された回転体21と、移動相溶媒Mと試料溶液Sとを外部に吐出する流出側通路34が形成された第2支持部材23とを備える。 - 特許庁
This X-ray analyzer 1 has a sample block 4 for supporting a sample S horizontally, X-ray irradiation devices 7, 8 for irradiating the sample S with X-rays, a storage phosphor plate 9 for detecting X-rays R1, R2 emitted for the sample S, and an X-ray source arm 6 for supporting the X-ray irradiation devices 7, 8.例文帳に追加
試料Sを水平に支持する試料台4と、試料SにX線を照射するX線照射装置7,8と、試料Sから出るX線R1,R2を検出する蓄積性蛍光体プレート9と、X線照射装置7,8を支持するX線源アーム6とを有するX線分析装置1である。 - 特許庁
The surface of the sample S is devised so as to be covered with a high purity gas to prevent the adsorbing pollution gas in the atmosphere from adhering to the surface of the sample S.例文帳に追加
試料Sの表面は高純度ガスで覆われるように工夫されており、試料Sの表面に大気中の吸着汚染ガスが付着することを阻止するようになっている。 - 特許庁
The granular pumice preferably has 0.1-1.0 cm/s saturation water permeation coefficient and 5-60 cm/s air permeation coefficient in a dry sample and a wet sample.例文帳に追加
また、前記粒状の軽石は、飽和透水係数が0.1〜1.0cm/sec、通気係数が乾燥試料及び湿潤試料で5〜60cm/secであることが好ましい。 - 特許庁
In the multicomponent analysis apparatus 5 for analyzing the concentrations of the multiple components contained in the sample gas S by using the NDIR method, zero calibration is implemented just after the sample gas S is measured.例文帳に追加
NDIR法によってサンプルガスS中に含まれる多成分の濃度を分析する多成分分析装置5において、サンプルガスSの測定直後にゼロ校正を行うようにした。 - 特許庁
The sample support device has a mounting stage 8 superimposed on a base stage 7, and supports a sample S with the mounting stage 8.例文帳に追加
ベースステージ7に重ねて配置される搭載ステージ8を有し、この搭載ステージ8によって試料Sを支持する試料支持装置である。 - 特許庁
Further, the main body portion 21 is tilted and rotated by the sample stand, allowing almost a total region of the sample S to be observed.例文帳に追加
また、本体部21が試料台によって傾斜及び回転させられるため、試料Sの略全域を観察することができる。 - 特許庁
The sample table for the microscope is used to observe and examine different peripheral positions of a linear element sample S using a microscope.例文帳に追加
線状体の試料における周方向の異なる位置を顕微鏡で観察し検査するための顕微鏡用試料台である。 - 特許庁
In this fluorescence detection device, a reagent R having a fluorescence labeled material is added to a liquid sample S, and the liquid sample S is irradiated with excitation light, and fluorescence emitted from the fluorescence labeled material is detected, to thereby measure a specific component included in the liquid sample S.例文帳に追加
液状試料Sに蛍光標識物質を有する試薬Rを加えるとともにこの液状試料Sに励起光を照射して蛍光標識物質により発せられる蛍光を検出することで液状試料Sに含まれる特定成分の計測を行う蛍光検出装置である。 - 特許庁
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