「オージェ分析」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

オージェ電子分光装置による元素分析方法例文帳に追加

METHOD FOR ELEMENTAL ANALYSIS USING AUGER ELECTRON SPECTRAL EQUIPMENT - 特許庁

オージェ分光分析用試料ホルダ例文帳に追加

SAMPLE HOLDER FOR AUGER SPECTROSCOPIC ANALYSIS - 特許庁

オージェ電子分光分析方法及び分析試料ホルダー例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTRAL ANALYSIS METHOD AND ANALYZED SPECIMEN HOLDER - 特許庁

オージェ電子分光分析装置およびそれを用いた分析方法例文帳に追加

AUGER ELECTRON SPECTROSCOPE ANALYZING APPARATUS AND ANALYZING METHOD USING THE SAME - 特許庁

オージェ電子分光による化学状態分析法及び装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING CHEMICAL STATE BY AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY - 特許庁

試料破断処理を行うことなく、コンタクトホールの内部を正確に分析することができるオージェ分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide an Auger analyzer that can accurately analyze the inside of a contact hole without any sample-breaking treatment. - 特許庁

絶縁性の表面を有する試料の表面分析において、正確なオージェ分光分析を可能とする。例文帳に追加

To perform accurate Auger spectroscopic analysis in the surface analysis of a sample with an insulating surface. - 特許庁

このように絶縁物試料９は帯電しないので、分析位置に正確に電子線が照射され、正確なオージェスペクトルを得ることができる。例文帳に追加

Electron beams are irradiated correctly to an analysis position, and a correct Auger spectrum can be obtained. - 特許庁

電子銃１１から分析すべき試料Ｓに対して電子線を照射し、試料Ｓからオージェ電子を放出させる。例文帳に追加

An electron beam is projected from an electron gun 11 onto a sample S to be analyzed, in order to cause Auger electrons to be emitted from the sample S. - 特許庁

試料片８をオージェ電子分光分析装置にセッティングし、第１平面５ｓの表面にある分析対象面１２を分析領域として深さ方向の分析を行い、界面４の両側にわたって元素分布の分析を行うものとする。例文帳に追加

The sample piece 8 is set in an Auger electron spectrophotometer, and analysis in the depth direction is performed, relative to the analytical object plane 12 on the surface of the first plane 5s as an analytical region, and analysis of the elemental distribution is performed on both sides of the interface 4. - 特許庁

上記アルミニウム電極層５の表面についてアルミニウム、炭素及び酸素の３成分をオージェ電子分析で分析したときの上記３成分中のアルミニウムの割合が８５％以上である。例文帳に追加

When analyzing three components of aluminum, carbon, and oxygen in the surface of the aluminum electrode layer 5 by Auger electron analysis, the percentage of aluminum is 85% or above. - 特許庁

分解能の高い光電子観察画像を得るために、試料上で、オージェ電子分光分析による分析部位と光電子観測部位との位置合わせが容易な光電子顕微鏡装置を得る。例文帳に追加

To obtain a photoemission electron microscope of which position alignment of an analysis portion and a photoelectron observation portion by an Auger electron spectral analysis on the test piece for obtaining a photoelectron observation image with high resolution is easy. - 特許庁

導電性の異物除去探針の場合にはオージェ電子分光法または二次イオン質量分析法で異物または異物の削り滓を組成分析する。例文帳に追加

When a conductive foreign substance removal probe is used, the foreign substance or the scraped residue of the foreign substance is subjected to composition analysis by Auger electron spectroscopy or secondary ion mass spectrometry. - 特許庁

異物除去探針で導電性のパターン上に集めた場合にはオージェ電子分光または二次イオン質量分析法で異物または異物の削り滓を組成分析する。例文帳に追加

When the substance is gathered on a conductive pattern by a foreign substance removal probe, the foreign substance or the scraped residue of the foreign substance is subjected to composition analysis by Auger electron spectroscopy or secondary ion mass spectrometry. - 特許庁

次いで、前記オージェ電子の内、放出極角が２６±２度の範囲にあるオージェ電子ＡＥのみを、電子銃１１を囲むようにして設けられた内円筒電極１３及び外円筒電極１４間に導入し、偏向電場により偏向させて分析に供する。例文帳に追加

Then, only Auger electrons AE, having emission polar angles in a range of 26±2 degrees and being selected from the Auger electrons, are introduced into a space between an inner cylindrical electrode 13 and an outside cylindrical electrode 14 arranged so as to surround the electron gun 11 and deflected by a deflection electric field, whereby an analysis is carried out. - 特許庁

ＸＡＦＳ分析装置１の電子収量スペクトル検出部２５において試料Ｓから放出された光電子及びオージェ電子に基づいてＸ線吸収スペクトルを得る。例文帳に追加

One X-ray spectrum is obtained from the photoelectrons and Auger electrons emitted from the sample S in an electron yield spectrum detecting section 25 of an XAFS analysis apparatus 1. - 特許庁

Ｃｕ含有量が０.５〜３.０質量％であり、オージェ電子分光分析により測定される極表層のＣｕ濃度が０.５原子％以下好ましくは０.１原子％以下であるオーステナイト系ステンレス鋼材。例文帳に追加

In the austenitic stainless steel, the content of Cu is 0.5 to 3.0 mass%, and concentration of Cu in an outermost surface layer measured by Auger electron spectral analysis is ≤0.5 atomic%, preferably, ≤0.1 atomic%. - 特許庁

オージェ分析装置における試料表面への導電膜形成方法に関し、絶縁物試料表面に極薄い導電薄膜を短時間に形成させることを目的としている。例文帳に追加

To quickly form an extremely thin conductive thin film on the surface of an insulator sample for a method of forming a conductive film onto a sample surface in an Auger analysis device. - 特許庁

オージェ電子分光分析法で求めたＡｌマッピング像の画像処理から得られるめっき皮膜表面の溶融亜鉛めっき凝固時に生成したＡｌ酸化物の被覆率を５０％以上とする。例文帳に追加

The coverage ratio of Al oxide generated when hot dip galvanizing is solidified on a galvanized film surface obtained from the image processing of an Al mapping image obtained by an Auger electron spectroscopy is set to be ≥ 50%. - 特許庁

検出効率が高い二次電子あるいは透過電子等の位置検出手段により試料変位量を計測して特性Ｘ線あるいはオージェ電子による分析を行う位置を補正する。例文帳に追加

The position to be analyzed by characteristic X-rays or Auger electrons is corrected by measuring the amount of sample displacement, by a position detecting means having high detection efficiency, such as secondary electrons, passed electrons or the like. - 特許庁

本発明のＡＥＳ分析装置は、真空槽２内に、絶縁性試料１０に対して所定の電子ビームを照射するための電子銃４と、絶縁性試料１０から放出されたオージェ電子のエネルギーを分析する電子エネルギー分析器５と、絶縁性試料１０に対してリチウム導電膜を形成するための蒸着源６とを有する。例文帳に追加

The advanced encryption standard (AES) analyzing apparatus comprises an electron gun 4 for emitting a specific electron beam against the insulating material sample 10, an electron energy analyzer 5 for analyzing the energy of an Auger electron emitted from the sample 10 and a vapor deposition source 6 for forming a lithium conductive film on the sample 10. - 特許庁

オージェ電子分光法又はＸ線電子分光法の如く荷電粒子をエネルギー分光し、測定する荷電粒子エネルギー分光分析方法において、試料を粉砕し、この試料粉砕物１を導電性物質２に埋め込んだ状態で分析に供することを特徴とする、荷電粒子エネルギー分光分析方法。例文帳に追加

A sample is pulverized, and resulting pulverized powder 1 is used for analysis in a state that the powder 1 is embedded into a conductive material 2, in a energy spectral analysis method of a charged particle where energy of the charged particle is dispersed into its spectral components in an Auger electron spectroscopy or an X-ray electron spectroscopy to be measured. - 特許庁

本発明は、半田吸い上がりバリア部を有する端子であって、オージェ電子分光分析装置で測定した場合に該領域から平均して、Ｃが５０〜７０ａｔ％及びＮｉが２０〜４０ａｔ％検出されることを特徴とする端子である。例文帳に追加

This terminal has the barrier section against solder soaking up, and C of 50-70% and Ni of 20-40% on an average are detected from various regions when measured by an Auger electron spectrometer. - 特許庁

上記2)3)に代えて、2)オージェ電子分光分析を行う試料表面に、樹脂固形分含有液をスクリーン印刷して微細な液膜を形成し、2)試料表面に付着した液膜を乾燥させることにより樹脂固形物を形成してもよい。例文帳に追加

Instead of above 2) and 3), the resin solid constituent may be formed by drying the liquid film adhering to the sample surface after the fine liquid film is formed by screen printing of the resin solid constituent containing liquid on the surface of the sample surface to be analyzed by Auger electron spectroscopy. - 特許庁

走査型又は透過型電子顕微鏡、オージェ電子分光装置等の表面分析装置、電子線露光機、特に、電子ビームの加速電圧が１ｋＶ以下の低加速で用いられる走査型電子顕微鏡、ＣＤ ＳＥＭ、ＤＲＳＥＭ等の半導体ウェハ検査装置に用いられる電子源を提供する。例文帳に追加

To provide an electron source which is used for a semiconductor wafer inspection device such as a scanning or transmission electron microscope, a surface analyzer like an Auger electron spectroscopic analyzer, an electron beam exposure apparatus, especially a scanning electron microscope using an electron beam accelerated with low voltage of 1 kV or less, a CD SEM, or a DRSEM. - 特許庁

母材表面に不働態皮膜が形成されたステンレス鋼部材であって、この不働態皮膜のオージェ分析による母材のＦｅの濃度（原子％）を[Ｆe]とし、不働態皮膜におけるＣｒの濃度(原子％)を[Ｃr]とした場合に、[Ｃr]／[Ｆe]が０.２５以上であるステンレス鋼部材である。例文帳に追加

In this stainless steel member in which a passive film has been deposited on the surface of a base material, in the case the concentration (atomic %) of Fe in the base material is defined as [Fe], and the concentration (atomic %) of Cr in the passive film is defined as [Cr] in the Auger analysis of the passive film, [Cr]/[Fe] is ≥0.25. - 特許庁

銅管１の表面には、オージェ電子分光分析法において、カーボン量が銅管１の最表面におけるカーボン量に対して半減する深さを膜厚とした場合に、膜厚が１．０〜５００ｎｍである炭素化合物からなる皮膜が形成されている。例文帳に追加

A coating film consisting of carbon compound with its film thickness being 1.0-500 nm equal to the depth at which the carbon amount is reduced to one half of the carbon amount on the outermost surface of the copper pipe 1 in the Auger electron spectroscopy is formed on the surface of the copper pipe 1. - 特許庁

走査型又は透過型電子顕微鏡、オージェ電子分光装置等の表面分析装置、電子線露光機、特に、電子ビームの加速電圧が１ｋＶ以下の低加速で用いられる走査型電子顕微鏡、ＣＤ ＳＥＭ、ＤＲＳＥＭ等の半導体ウェハ検査装置に用いられる電子源を提供する。例文帳に追加

To provide an electron source used for a scanning or transmission electron microscope, a surface analyzer such as an Auger electron spectroscope, an electron beam exposure machine, in particular, a scanning electron microscope used at low acceleration where an acceleration voltage of an electron beam is not higer than 1kV, or a semiconductor wafer inspection device such as a CD SEM or a DRSEM. - 特許庁

Ｘ線を照射した試料から放出された光電子及びオージェ電子と蛍光Ｘ線とに基づいて得た２つのＸ線吸収スペクトルを直接比較できるようにすることで、試料の内部側を構成する部分の電子状態を正確に得て、試料の極表面側と内部側とを個別に分析できるようにする。例文帳に追加

To correctly obtain an electronic state of a portion which makes up the inward side of a sample, and to enable the inward side and the pole surface side of the sample to be analyzed individually, by directly comparing two X-ray absorption spectra obtained from fluorescent X rays and photoelectrons/Auger electrons emitted from the sample irradiated with X rays. - 特許庁