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日英・英日専門用語辞書での「サブテスト」の英訳

サブテスト

subtest

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「サブテスト」を含む例文一覧

該当件数 : 18件

例文

はい・いいえ式のサブテストが行われるだろう。例文帳に追加

There will be sub-tests with yes/no questions.発音を聞く - Weblio英語基本例文集

非自明性に関する二次的テスト（サブテスト）例文帳に追加

Secondary tests (subtests) of non-obviousness発音を聞く - 特許庁

非自明性に関する二次的テスト(サブテスト)例文帳に追加

Secondary tests (subtests) of non-obviousness発音を聞く - 特許庁

一致する場合は、新しいテスト番号をサブテストに割り当てる。例文帳に追加

In the case of agreement, the new test number is assigned to the sub-test. - 特許庁

それぞれのサブテスト回路１ａは、前段のサブテスト回路１ａの出力が後段のサブテスト回路１ａの入力に接続されてチェーン構成をなし、初段のサブテスト回路１ａの入力には信号ＴＤＩを入力し、最終段のサブテスト回路１ａの出力から信号ＴＤＯを出力する。例文帳に追加

In each subtest circuit 1a, the output of the front-stage subtest circuit 1a is connected to the input of the later-stage subtest circuit 1a to form a chain configuration, a signal TDI is input to the input of the initial-stage subtest circuit 1a, and a signal TDO is output from the output of the final-stage subtest circuit 1a. - 特許庁

テストフロー２００内のサブテストが実行されると、テスト番号のデータベース４００が、（１）サブテストの識別子と（２）現行テストフローコンテキスト情報３００とを含む索引情報を使用して索引付けされる（１０４）。例文帳に追加

When a sub-test in the test flow 200 is executed, a database 400 of the test number is indexed by using index information including (1) an identifier of the sub-test and (2) the present test flow context information 300 (104). - 特許庁

例文

テストフロー中のサブテストが実行されると、このサブテストの結果には、現在のテスト番号範囲中の次のテスト番号を割り当てる（１０６）。例文帳に追加

When a sub-test in the test flow is executed, the next test number in the present test number range is assigned to the result of the sub-test (106). - 特許庁

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「サブテスト」を含む例文一覧

該当件数 : 18件

例文

テストフロー２００内のサブテストが実行されると、サブテストの結果に、現在のテスト番号範囲内の次のテスト番号を割り当てる（１０６）。例文帳に追加

When a sub-test in the test flow 200 is executed, the next test number in the present test number range is assigned to the result of the sub-test (106). - 特許庁

索引情報に対応するテスト番号がデータベース４００内に存在する場合、このテスト番号はサブテストの結果に割り当てられる（１０６）。例文帳に追加

When the test number corresponding to the index information exists in the database 400, the test number is assigned to the result of the sub-test (106). - 特許庁

テスト対象とされる複数の出力バッファ１１のそれぞれに対応してサブテスト回路１ａを備える。例文帳に追加

The test circuit includes a subtest circuit 1a corresponding to each of a plurality of output buffers 11 to be tested. - 特許庁

テストフロー内のサブテストを実行すると、リンクされたデータノード８０２〜８１４のマップ８００は、（１）サブテストの数値識別子と（２）コンテキスト値のアレイとから形成されたキー５００ａを使用して索引を付けられる（１０４）。例文帳に追加

When a sub-test in the test flow is executed, a map 800 of linked data nodes 802-814 is indexed by using a key 500a formed from (1) a numerical value identifier of the sub-test and (2) the array of the context values. - 特許庁

キーに対応するデータノードがマップ内に存在し、テスト番号と関連付けられている場合、このデータノードのテスト番号がサブテストの結果に割り当てられ（１０６）、そうでない場合は、新しいテスト番号がサブテストの結果に割り当てられ（１０８）、新しいテスト番号が、マップ内でリンクされたデータノードに関連付けられる。例文帳に追加

When a data node corresponding to the key exists in the map and is correlated with the test number, the test number of the data node is assigned to the result of the sub-test (106), and in different cases, a new test number is assigned to the result of the sub-test (108), and the new test number is correlated with the data node linked in the map. - 特許庁