スプリングプローブの英語

ハウジング１６２の孔１６６内には複数のスプリングプローブ１６８が位置決めされ、集積回路パッケージ１７２の試験部位１７０とロードボード１６４との間でスプリングプローブ１６８が電気接触するようにばね力を提供する。例文帳に追加

A plurality of spring probes 168 are positioned in the holes 166 of the housing 162, so as to provide a spring force for the electrical contact of the spring probes 168 between test points 170 of the integrated circuit package 172 and load board 164. - 特許庁

このような構成のスプリングプローブ装置をテストボードに多数備え、スプリングプローブ装置を介して半導体集積回路との間で試験信号及び出力信号のやり取りを行い、半導体集積回路の試験を行なう。例文帳に追加

A number of spring probe apparatuses thus configured are provided in a test board and test signals and output signals are exchanged with a semiconductor integrated circuit via the spring probe apparatus, thereby testing the semiconductor integrated circuit. - 特許庁

ソケット本体に設けられた、スプリングプローブ１０挿入用の穴１２の内壁に導電性表面処理部１３を形成することで、全体の電気抵抗を低下させることができ、被検査対象の半導体装置８の電極のピッチが狭くなってスプリングプローブ１０を細くする必要性が生じた場合のスプリングプローブ１０の電気抵抗が増大することに起因した電圧降下分を補償することができる。例文帳に追加

In this way, a voltage drop due to increase of the electric resistance of the spring probe 10 can be compensated even if the narrowed electrode pitch of a semiconductor device 8 to be inspected requires thinning of the spring probe 10. - 特許庁

集積回路チップのプローブテストに用いるスプリングプローブは、バレル内に収容したコイルスプリングでプローブを付勢する構造であるから、十分に小径化できず、多数のスプリングプローブを狭ピッチで配置することができず、部品数も多く製作費を低減するのが難しい。例文帳に追加

To solve problems that a diameter of a spring probe used in a probe test of an integrated circuit chip cannot be sufficiently reduced, many spring probes cannot be arranged at a narrow pitch, the number of parts is large, and manufacturing cost cannot be easily reduced because the spring probe is energized by a coil spring stored in a barrel. - 特許庁

また、このスプリングコンタクトを絶縁体に形成した中空筒状の穴部に収容し、前記先端部を前記絶縁体表面から突出させて所定接触面に直接接触させるように単体スプリングコンタクトあるいはスプリングプローブを構成する。例文帳に追加

The spring contact is used to constitute a spring probe for inspection, for a low-cost spring probe, etc. capable of stable inspection. - 特許庁

回路及び回路に接続されるコネクタ104を有する被検査物100のコネクタと、被検査物の回路の動作を検査するテスタの端子と、を接続するプローブ装置であって、コネクタに接触するスプリングプローブ31を備える。例文帳に追加

This probe device for connecting the connector of the inspection object 100 having a circuit and the connector 104 to be connected to the circuit, to the terminal of the tester for inspecting the circuit operation of the inspection object is equipped with a spring probe 31 to be in contact with the connector. - 特許庁

プローブのなかでも特にはスプリングプローブに関し、プローブ先端部のメッキ層の磨耗進行を遅らせることによりプローブの長時間の使用を可能とし、接触安定性の高いプローブに関する技術を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a technology about a probe that is related to especially a spring probe of probes, enables long-time use of the probe by delaying the wearing progress of a plated layer of the probe tip, and has high contact stability. - 特許庁

また、このスプリングコンタクトを絶縁体に形成した中空筒状の穴部に収容し、前記先端部を前記絶縁体表面から突出させて所定接触面に直接接触させるように単体スプリングコンタクトあるいはスプリングプローブを構成する。例文帳に追加

The single spring contact or the spring probe is constituted to store the spring contact in a hollow cylindrical hole part formed into an insulator, and to project the tip part from an insulator surface to contact directly with the prescribed contact face. - 特許庁