スプリングプローブの英語

垂直コイルスプリングプローブ及びこれを用いたプローブユニット例文帳に追加

VERTICAL COIL SPRING PROBE, AND PROBE UNIT USING THE SAME - 特許庁

垂直型コイルスプリングプローブとこれを用いたプローブユニット例文帳に追加

VERTICAL COIL SPRING PROBE AND PROBE UNIT USING THE SAME - 特許庁

スプリングプローブブロックアセンブリは、絶縁性ハウジングを有する。例文帳に追加

The spring probe block assembly includes an insulative housing. - 特許庁

垂直型コイルスプリングプローブ、この垂直型コイルスプリングプローブに用いられるコイルスプリング及びこの垂直コイルスプリングプローブを用いたプローブユニット例文帳に追加

VERTICAL COIL SPRING PROBE, COIL SPRING USED THEREFOR, AND PROBE UNIT USING PROBE - 特許庁

製造コストの低減及び検査精度の向上を図ることができるスプリングプローブを製造する。例文帳に追加

To manufacture a spring probe reducing production cost and improving inspection accuracy. - 特許庁

高帯域幅アプリケーションで使用されるスプリングプローブブロックアセンブリを提供する。例文帳に追加

To provide a spring probe block assembly for use in a high bandwidth application. - 特許庁

スプリングプローブ装置の上可動ピン及び下可動ピンを平板状の部材で構成する。例文帳に追加

An upper movable pin and a lower movable pin of a spring probe apparatus are comprised of plate-like members. - 特許庁

このような構成のスプリングプローブ装置をテストボードに多数備え、スプリングプローブ装置を介して半導体集積回路との間で試験信号及び出力信号のやり取りを行い、半導体集積回路の試験を行なう。例文帳に追加

A number of spring probe apparatuses thus configured are provided in a test board and test signals and output signals are exchanged with a semiconductor integrated circuit via the spring probe apparatus, thereby testing the semiconductor integrated circuit. - 特許庁