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ビーム解析の英語
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英訳・英語 beam analysis
「ビーム解析」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 93件
電子ビーム吸収電流解析方法及び電子ビーム吸収電流解析器例文帳に追加
ELECTRON BEAM ABSORBED CURRENT ANALYZING METHOD AND ELECTRON BEAM ABSORBED CURRENT ANALYZER - 特許庁
そして、実数部受信ビーム信号と虚数部受信ビーム信号とをセットにして解析する(S44)。例文帳に追加
The real number reception beam signal and the imaginary number reception beam signal are then analyzed as a set (S44). - 特許庁
集束イオンビームを用いる微細部位解析装置および集束イオンビームを用いる微細部位解析方法例文帳に追加
MINUTE PART ANALYZER USING FOCUSED ION BEAM AND MINUTE PART ANALYSIS METHOD USING FOCUSED ION BEAM - 特許庁
収束イオンビーム加工観察装置を備える試料解析装置例文帳に追加
SAMPLE ANALYSIS DEVICE EQUIPPED WITH FOCUSING ION BEAM MACHINING/OBSERVATION APPARATUS - 特許庁
試料を加工及び/又は解析するための粒子ビーム装置及び方法例文帳に追加
PARTICLE BEAM DEVICE FOR PROCESSING AND/OR ANALYZING SAMPLE, AND METHOD - 特許庁
この光ビームを偏光解析モジュール2に入射する。例文帳に追加
The light beam is made incident on a polarization analyzing module 2. - 特許庁
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「ビーム解析」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 93件
光ビームの波面を解析するための方法、位相格子および装置例文帳に追加
METHOD, PHASE GRATING AND DEVICE FOR ANALYZING WAVE SURFACE OF LIGHT BEAM - 特許庁
対象物を解析及び/又は処理する粒子ビームデバイス及び方法例文帳に追加
PARTICLE BEAM DEVICE AND METHOD FOR ANALYZING AND/OR TREATING OBJECT - 特許庁
ビーム(F)は、解析平面(P_D)上で欠陥(D_1)を有したサンプル(LA)を照射する。例文帳に追加
The beam F irradiates a sample LA placed on an analysis plane P_D and having a defect D_1. - 特許庁
電子ビームで検出した欠陥を正確に取り出して解析する技術を提供する。例文帳に追加
To provide technology for accurately extracting and analyzing a defect detected by an electron beam. - 特許庁
映像の解析度を向上できるカソードレーチューブの電子ビーム形成装置を提供する。例文帳に追加
To provide an electron beam forming device for a cathode-ray tube capable of improving resolution of an image. - 特許庁
光ビームの波面を解析するための方法、位相格子および装置を提供すること。例文帳に追加
To provide a method, a phase grating and a device for analyzing the wave surface of a light beam. - 特許庁
ビーム照射による軟質材料の構造解析方法及びそれに用いる軟質材料保持装置例文帳に追加
STRUCTURE ANALYZING METHOD OF SOFT MATERIAL DUE TO BEAM IRRADIATION AND SOFT MATERIAL HOLDING DEVICE USED THEREIN - 特許庁
有限要素解析法におけるビーム−面接触をシミュレートする改善方法およびシステム例文帳に追加
METHOD AND SYSTEM FOR IMPROVING SIMULATING BEAM-TO-SURFACE CONTACT IN FINITE ELEMENT ANALYSIS - 特許庁
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