中性粒子入射の英語

中性粒子入射装置におけるセシウムの貯蔵タンク及びセシウムレベルの測定方法例文帳に追加

CESIUM STORAGE TANK IN NEUTRAL PARTICLE INJECTOR AND CESIUM LEVEL MEASURING METHOD - 特許庁

この状態で、蒸発ルツボ１１から中性の膜材料粒子ＥＰを蒸発させ、反射電極１２に入射させると、中性の膜材料粒子ＥＰがシース電界で加速された電子によってほぼ１００％イオン化される。例文帳に追加

When neutral film-material particles EP are evaporated from an evaporation crucible 11 and made incident upon the reflecting electrode 12 in this state, the neutral film-material particles EP are ionized nearly 100 percent by the electrons accelerated by the sheath electric field. - 特許庁

プラズマ源，それを用いた高周波イオン源，負イオン源，イオンビーム処理装置，核融合用中性粒子ビーム入射装置例文帳に追加

PLASMA SOURCE, HIGH FREQUENCY ION SOURCE USING IT, NEGATIVE ION SOURCE, ION BEAM PROCESSOR, NEUTRAL PARTICLE BEAM INCIDENT DEVICE FOR NUCLEAR FUSION - 特許庁

中性粒子入射装置の負イオン源におけるセシウムオーブン中のセシウム量を測定検出する方法及び装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AND DETECTING QUANTITY OF CESIUM IN CESIUM OVEN IN NEGATIVE ION SOURCE OF NEUTRAL BEAM INJECTION DEVICE - 特許庁

高周波電力印加電極に入射する高速中性粒子のエネルギーの分析方法及び分析装置例文帳に追加

ANALYZING METHOD AND APPARATUS FOR HIGH SPEED NEUTRAL PARTICLE ENERGY INCIDENT TO HIGH FREQUENCY POWER APPLIED ELECTRODE - 特許庁

カロリーメータ１８に中性粒子ビームが入射すると、当該ビームはファラディカップ１８１によって熱に変換される。例文帳に追加

When a neutral particle beam enters the calorie meter 18, the beam is converted to heat by a Faraday cup 181. - 特許庁

Ｈ^- ビームを中性粒子ビームに中性化し、この中性粒子ビームをＨ^^+ ビームに荷電変換する中性原子ビーム光電離装置において、レーザービームを発生させるレーザービーム発生装置１１と、この発生したレーザービームを多重回反射させ、かつこのレーザービームを前記中性粒子ビームの入射に合わせて反応させる多重反射光学系１３ａ，１３ｂとを備えた。例文帳に追加

A neutral atom beam photo-ionization device for neutralizing H- beams into neutral particle beams and charge-converting the neutral particle beams into H+ beams has a laser beam generator 11 for generating laser beams; and multiple reflecting optical systems 13a, 13b which make reflect laser beams generated multiple times and make react the laser beams according to incidence of the neutral particle beams. - 特許庁

中性子と反応して荷電粒子を発生する変換部と、半導体基板に形成される前記荷電粒子を検出する複数の検出回路と、それぞれの前記検出回路に入射する前記荷電粒子の到来方向を制限する遮蔽部と、を備える放射線検出装置とする。例文帳に追加

The radiation detector comprises: a converter for reacting with neutrons to generate charged particles; a plurality of detection circuits detecting the charged particles formed on a semiconductor substrate; and a shield part for restricting an arrival direction of the charged particles that are incident to the respective detection circuits. - 特許庁