回折分析の英語

Ｘ線回折分析方法及び装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS - 特許庁

蛍光・回折共用Ｘ線分析装置例文帳に追加

X-RAY ANALYZER FOR HAVING FLUORESCENCE AND DIFFRACTION FOR COMMON USE - 特許庁

回折条件シミュレ—ション装置、回折測定システムおよび結晶分析システム例文帳に追加

DIFFRACTION CONDITION SIMULATION DEVICE, DIFFRACTION MEASUREMENT SYSTEM, AND CRYSTAL ANALYSIS SYSTEM - 特許庁

収束電子線回折を用いた材料の構造分析方法例文帳に追加

METHOD FOR ANALYZING STRUCTURE OF MATERIAL USING CONVERGENT BEAM ELECTRON DIFFRACTION - 特許庁

マイクロ回折システムおよびこれを利用した試料分析方法例文帳に追加

MICRO DIFFRACTION SYSTEM, AND SAMPLE ANALYTICAL METHOD USING THE SAME - 特許庁

保護膜９は、特定方位面についてのＸ線回折分析において、２つの酸化物の一方の酸化物単体を分析したときにピークが発生する回折角と、他方の酸化物単体を分析したときにピークが発生する回折角との間の回折角に、ピークが存在するものである。例文帳に追加

In the protective film 9, a peak is present at a diffraction angle, between a diffraction angle at which a peak generates when only one oxide of two oxides is analyzed in X-ray diffraction analysis on a specific azimuth surface and a diffraction angle at which a peak generates, when only the other oxide is analyzed. - 特許庁

蛍光Ｘ線分析と回折Ｘ線分析の両方の機能を有するとともに、それぞれ最適なＸ線検出系を構成できる、安価な蛍光・回折共用Ｘ線分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inexpensive X-ray analyzer for having fluorescence and diffraction for common use having functions of both of fluorescent X-ray analysis and diffracted X-ray analysis and capable of constituting an optimum X-ray detection system. - 特許庁

入射した光を回折する回折格子７と、回折格子７により回折された光をさらに回折次数毎に分散する次数分散素子４とからなる分光分析装置において、回折格子７は、回折格子７の回折面１４内にあり、かつ、回折格子７の溝の刻線に垂直な直線１６を軸として、回転可能に設けられている。例文帳に追加

In a spectrum analyzer comprising a diffraction grating 7 diffracting incident light and an order dispersing element 4 further dispersing the diffracted light by the grating 7 every diffraction order, the grating 7 is placed in a diffraction face 14 and rotatably with a straight line 16 vertical to an inscribing line of the channel of the grating 7 as an axis. - 特許庁