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「本検査」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 3079件
２．検査基本方針例文帳に追加
2. Basic Policy for Inspections発音を聞く - 金融庁
顕微鏡用検査標本例文帳に追加
INSPECTION SPECIMEN FOR MICROSCOPE - 特許庁
標本検査システム例文帳に追加
SAMPLE TESTING SYSTEM - 特許庁
２検査基本方針及び検査基本計画例文帳に追加
2. Basic Guidelines and Plans for Financial Inspections発音を聞く - 金融庁
③ 検査基本指針及び検査マニュアルの見直しの公表例文帳に追加
3) Publication of the Revised Basic Inspection Guidelines and Inspection Manuals発音を聞く - 金融庁
化学的検査方法および検査標本例文帳に追加
METHOD AND SPECIMEN FOR CHEMICAL INSPECTION - 特許庁
金融庁検査局は、毎事務年度当初に検査基本方針及び検査基本計画を策定する。例文帳に追加
The Inspection Bureau of FSA sets forth the Basic Guidelines and Plans for Financial Inspections at the beginning of each program year.発音を聞く - 金融庁
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「本検査」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 3079件
１．金融検査の基本的考え方例文帳に追加
1. Basic Concepts for Financial Inspection発音を聞く - 金融庁
第１ 証券検査基本方針例文帳に追加
I. Basic Inspection Policy発音を聞く - 金融庁
第２ 証券検査基本計画例文帳に追加
II. Basic Inspection Program発音を聞く - 金融庁
製本針金綴状態検査装置例文帳に追加
INSPECTING DEVICE FOR BOOKBINDING WIRE BINDING STATE - 特許庁
標本検査方法及びシステム例文帳に追加
SAMPLE EXAMINATION METHOD AND SYSTEM - 特許庁
本発明は、被検査対象を検査する半導体検査装置に改良を加えたものである。例文帳に追加
The semiconductor inspecting apparatus is obtained by improving a semiconductor inspecting apparatus for inspecting objects to be inspected. - 特許庁
本検査装置１は、絵柄を有する検査対象の欠陥を、高精度で検査することが可能である。例文帳に追加
The inspection device 1 can inspect with high accuracy defects in the inspection object having patterns. - 特許庁
本発明の検査システムは、第１の携帯型検査端末及び第２の携帯型検査端末を有する。例文帳に追加
The examination system has a first portable examination terminal and a second portable examination terminal. - 特許庁
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