照射試料搬送装置の英語

簡単な構成で、１次Ｘ線が照射される照射位置に試料を搬送し、試料の測定部分を位置決めして分析を行える蛍光Ｘ線分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a fluorescent X-ray analyzer which can analyze a sample by conveying the sample to an irradiation position to be irradiated with a primary X-ray and positioning a measuring part of the sample with a simple constitution. - 特許庁

試料ホルダを円周経路で搬送する際に試料方向を維持し、照射位置と指定位置での試料方向の初期化を不要にできる蛍光Ｘ線分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a fluorescent X-ray analysis apparatus for maintaining the orientation of a sample when a sample holder is transferred in a circumferential path and eliminating the need for the initialization of the orientation of the sample at an irradiation location and a specified location. - 特許庁

荷電粒子線を照射して観察及び分析する試料を搬送するための試料搬送装置であって、試料が設置される試料ホルダを内部に収容可能な伸縮部材と、前記試料ホルダを前記伸縮部材の内部で固定する固定部材と、前記伸縮部材内部と接続し試料ホルダが通過する開口部の開閉を行う封止部材を備えたことを特徴とする試料搬送装置を提供する。例文帳に追加

In the sample transfer device for transferring the sample to be observed and analyzed by irradiating the charged particle beam, the sample transfer device includes an expansible hollow member capable of internally storing the sample holder where the sample is mounted, a fixing member for fixing the sample holder inside the expansible hollow member, and a sealing member for opening and closing an opening communicating with the inside of the expansible hollow member and used for passing the sample holder. - 特許庁

本発明にかかるレーザーアブレーション質量分析装置１は、試料ステージ１０と、レーザー照射部２０と、気流搬送系３０と、イオン源４０と、分析部５０とを備えている。例文帳に追加

This laser ablation mass spectrometer 1 of the present invention includes a sample stage 10, a laser irradiation part 20, a pneumatic conveying system 30, an ion source 40 and an analytical part 50. - 特許庁

レーザ光の照射により生成した微粒子を不活性ガスにより搬送して分析を行う直接気化分析方法において、不活性ガスにより搬送される微粒子の量を求め、分析装置により計測された分析値を前記微粒子の量を用いて補償する固体試料の直接気化分析方法。例文帳に追加

According to this direct vaporization analysis method for analyzing microparticles produced by laser light irradiation, while conveying them by inert gas, the amount of microparticles conveyed by the inert gas is found and analysis values measured by the analysis device are compensated, by using the amount of the microparticles. - 特許庁