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第2銅の英語
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英訳・英語 cupric
「第2銅」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 97件
一方反応槽2にて得られた塩化第二銅水溶液の残部を再び反応槽2に戻し、銅との反応により塩化第二銅を生成する。例文帳に追加
The remainder of the cupric chloride aqueous solution obtained in the reaction tank 2 is returned back to the reaction tank 2 and reacted with copper to produce cuprous chloride. - 特許庁
反応槽2内にて塩化第二銅水溶液と銅とを混合して塩化第一銅を生成し、ここに塩素ガスを吹き込むことにより塩化第一銅を塩素化して塩化第二銅溶液を得る。例文帳に追加
The cupric chloride aqueous solution and copper are mixed in a reaction tank 2 to produce cuprous chloride, into which chlorine gas is blown to chlorinate the cuprous chloride to obtain the cupric chloride solution. - 特許庁
第2の銅配線6は接続孔12において、第2の導電性バリア層20を介して第1の銅配線2との導通が得られる。例文帳に追加
For a second wiring 6, the electric continuity with the first copper wiring 2 is obtained through a second conductive layer 20, in a connection hole 12. - 特許庁
リード基材としての銅線1上に形成されるめっき層2を、3〜5重量%の銅を含むスズ−銅合金による第1のめっき層3と、この上に形成された0.2〜4重量%の銅を含むスズ−銅合金による第2のめっき層4により構成する。例文帳に追加
This lead material has a plated layer 2 formed on a copper wire 1 of a lead substrate, wherein the plated layer 2 comprises the first plated layer 3 consisting of a tin - copper alloy containing 3-5 wt.% copper, and the second plated layer 4 formed thereon containing the tin - copper alloy containing 0.2-4 wt.% copper. - 特許庁
パッド61が、第1の電解銅めっき膜56aと2〜10μmの第2の電解銅めっき膜59とから成り、第1の電解銅めっき膜56aから成る導体回路58よりも厚みが2〜10μmの厚い。例文帳に追加
The pad 61 is constituted of a first electroless copper plating film 56a and a second electroless copper plating film 59 of a thickness of 2 to 10 μm, and is 2 to 10 μm thicker than a conductor circuit 58 made of the first electroless plating film 56a. - 特許庁
第1金属部材1は鋼管であり、第2金属部材2は銅管である。例文帳に追加
The first metallic member 1 is a steel tube and the second metallic member 2 is a copper tube. - 特許庁
高周波誘導電気炉1にて銅と酸化第二銅(CuO)からなる銅合金溶湯2を溶製し、銅合金溶湯2を鋳造樋3および下降管4を介して鋳型5に連続して注ぎ込んで銅複合材スラブ6を連続して鋳造する。例文帳に追加
Molten copper alloy 2 composed of copper and cupric oxide(CuO) is melted in a high-frequency induction furnace 1, and the molten copper alloy 2 is continuously poured into a mold 5 via a spout 3 for casting and a downcomer 4 to continuously cast a slab 6 of copper composite material. - 特許庁
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「第2銅」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 97件
銅または銅合金の母地中に分散する第二相粒子のうち、直径1〜5μmの第二相粒子を500〜5000個/mm^2、直径5μmを超える第二相粒子を10個/mm^2未満に調整する。例文帳に追加
Out of the second phase particles dispersed in a base material of copper or copper alloy, the secondary phase particles of a diameter of 1-5 μm are adjusted to be 500-5000 pieces/mm^2 and the secondary phase particles of a diameter exceeding 5 μm, less than 10 pieces/mm^2. - 特許庁
第1銅配線2上部には、接続プラグ7が接続した部分にのみに銅の合金層10が形成される。例文帳に追加
An alloy layer 10 made of copper is formed in only a portion connected to the connection plug 7 above the first copper wiring 2. - 特許庁
第1の金属材料1である銅タングステン合金に対して、摩擦圧接によって接合材2である銅を接合する。例文帳に追加
The cupper which is a jointing material 2 is joined to the cupper tungsten alloy which is the first metal material by a friction press-contact. - 特許庁
基板1上の第1の絶縁膜2中に形成された銅配線3と、銅配線3及び第1の絶縁膜2の上に形成されたシリコン炭化窒化膜4を有し、銅配線3内の銅原子とシリコン炭化窒化膜4の構成原子とが微視的に結合する。例文帳に追加
The semiconductor device has the copper wiring 3 formed in a first insulating film 2 on a substrate 1 and a silicon carbonitride film 4 formed on the copper wiring 3 and a first insulating film 2, wherein copper atoms in the copper wiring 3 and constituent atoms of the silicon carbonitride film 4 are microscopically bonded together. - 特許庁
コア基板1は、銅張積層板2の両側に銅張積層板2よりサイズの小さい銅箔3を配置し、第1の回路基板10とする。例文帳に追加
For a core substrate 1, copper foils 3 each having a size smaller than that of a copper-clad laminate 2 are arranged on both the sides of the copper-clad laminate 2 to form a first circuit board 10. - 特許庁
錫または錫合金から成る第1金属粉2と、第1金属粉2よりも高い融点を持ち、銅または銅合金から成る第2金属粉とを含むハンダ用組成物である。例文帳に追加
The soldering composition contains first metallic powder 2 comprising tin or a tin alloy and second metallic powder having a higher melting point than the first metallic powder 2 and comprising copper or a copper alloy. - 特許庁
熱交換器用クラッド材(1)(2)は、アルミニウムまたはその合金からなる心材(10)の一面側に、銅またはその合金からなる第1銅層(11)がクラッドされ、さらにこの第1銅層(11)上にアルミニウムまたはその合金からなる第1アルミニウム層(12)がクラッドされてなる。例文帳に追加
The cladding material (1), (2) is constructed by cladding a first copper layer (11) comprising copper or its alloy on one surface side of a core material (10) comprising aluminum or its alloy, and further cladding a first aluminum layer (12) comprising aluminum or its alloy on the first copper layer (11). - 特許庁
第1層間絶縁膜1内形成された第1銅配線2上には、バリア絶縁膜4を介して、第2層間絶縁膜5が形成される。例文帳に追加
A second interlayer insulating film 5 is formed on a first copper wiring 2 formed in a first interlayer insulating film 1 through a barrier insulating film 4. - 特許庁
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