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英和・和英辞典で「試験部」に一致する見出し語は見つかりませんでしたが、
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「試験部」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 4144



例文

試験装置例文帳に追加

COMPONENT TEST SYSTEM - 特許庁

試験装置例文帳に追加

TESTING DEVICE FOR COMPONENT - 特許庁

試験装置例文帳に追加

PART TESTING DEVICE - 特許庁

試験装置および試験方法例文帳に追加

PARTS TESTING DEVICE AND PARTS TESTING METHOD - 特許庁

試験用電子品搬送媒体、電子試験装置および試験方法例文帳に追加

CONVEYANCE MEDIUM FOR ELECTRONIC COMPONENT TO BE TESTED, ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE, AND METHOD OF TESTING - 特許庁

試験の筆記例文帳に追加

the written part of the exam発音を聞く  - 日本語WordNet

試験の一免除例文帳に追加

Partial Exemption from Examination発音を聞く  - 日本法令外国語訳データベースシステム

電子試験用治具例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TESTING TOOL - 特許庁

材強度試験装置例文帳に追加

APPARATUS FOR TESTING STRENGTH OF MEMBER - 特許庁

電子試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC PART TESTER - 特許庁

電子試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TEST APPARATUS - 特許庁

電子試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC PARTS TEST DEVICE - 特許庁

電子試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC PART TESTING DEVICE - 特許庁

電子試験装置例文帳に追加

TESTING DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT - 特許庁

試験用建具保持例文帳に追加

FITTING HOLDING MEMBER FOR TEST - 特許庁

電子品の試験装置例文帳に追加

TESTING DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT - 特許庁

電子試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TESTER - 特許庁

制御試験装置例文帳に追加

TESTING DEVICE FOR CONTROL PART - 特許庁

電子試験例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TEST STAND - 特許庁

電子試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TEST DEVICE - 特許庁

電子品の試験方法例文帳に追加

TESTING METHOD FOR ELECTRONIC COMPONENT - 特許庁

電子試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE - 特許庁

電子試験装置例文帳に追加

TEST DEVICE FOR ELECTRONIC PARTS - 特許庁

電子試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS - 特許庁

探傷試験装置、探傷試験方法及び探傷試験用シート例文帳に追加

FLAW DETECTION TESTER, FLAW DETECTION TESTING METHOD AND SHEET MEMBER FOR FLAW DETECTION TEST - 特許庁

試験対象に対して、設定された試験項目の試験を行う試験部20と、試験部20の試験結果に応じて試験項目を試験部20に対して設定する試験項目設定10とを備える。例文帳に追加

The testing device is provided with a testing section 20 which performs tests on the object to be tested with respect to the set test items and a test item setting section 10 which sets the test items for the testing section 20 based on the test results obtained by means of the testing section 20. - 特許庁

試験メモリの試験を被試験メモリの容量よりも少ない内メモリで試験する。例文帳に追加

To perform a memory test using an internal memory with smaller capacity than that of a memory under test. - 特許庁

電子試験方法及び電子試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TESTING METHOD AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS - 特許庁

電子試験装置および電子試験方法例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING METHOD - 特許庁

バス試験装置及び内バス試験方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTERNAL BUS - 特許庁

電子試験装置および電子品の試験方法例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS AND ITS TESTING METHOD - 特許庁

電子品の試験方法および電子試験装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC PARTS - 特許庁

電子試験装置および電子品の試験方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR TESTING OF ELECTRONIC COMPONENT - 特許庁

電子品の試験装置用品及び試験方法例文帳に追加

COMPONENT FOR TESTING DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT, AND TEST METHOD - 特許庁

電子試験装置および電子品の試験方法例文帳に追加

ELECTRONIC PART TEST DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART - 特許庁

水圧試験という,水圧を受ける品の耐久試験例文帳に追加

a durability test of components receiving water pressure, called {hydraulic test}発音を聞く  - EDR日英対訳辞書

省教員検定試験という,検定試験例文帳に追加

a license examination called a teacher's license examination of the Ministry of Education発音を聞く  - EDR日英対訳辞書

試験補助装置および半導体装置の試験方法例文帳に追加

EXTERNAL TEST AUXILIARY DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体品の試験方法および試験装置例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR COMPONENT - 特許庁

電子品の試験方法および試験装置例文帳に追加

TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT - 特許庁

排気系材の加熱試験装置及び加熱試験方法例文帳に追加

HEATING TEST DEVICE OF EXHAUST SYSTEM MEMBER AND HEATING TEST METHOD THEREOF - 特許庁

履帯品の摩耗試験方法および摩耗試験装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR ABRASION TEST OF CRAWLER COMPONENT - 特許庁

電子品基板の試験装置および試験方法例文帳に追加

TEST DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART SUBSTRATE - 特許庁

例文

電子品基板の試験装置および試験方法例文帳に追加

TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC PART SUBSTRATE AND TESTING METHOD THEREFOR - 特許庁

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「試験部」に近いキーワードやフレーズ

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Examination department

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